用于激光蚀刻后的电容屏测试治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试治具技术领域，具体涉及用于激光蚀刻后的电容屏测试治具。
【背景技术】
[0002]目前，在电容屏制作细线工艺时，在激光蚀刻银线后通过都是用万用表测试每一个拼与拼之间是否开短路；但采用上述测试方法不仅测试速度慢，而且测试不准确，从而减少了测试频率，降低了生产良率。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种测试速度快，测试准确，能够有效增加测试频率，以及提高生产良率的用于激光蚀刻后的电容屏测试治具。
[0004]为了解决【背景技术】所存在的问题，本实用新型是采用以下技术方案:用于激光蚀刻后的电容屏测试治具，包括治具本体，所述治具本体与一手柄垂直连接，所述治具本体上设有一排探针，所述探针等间距设置，所述探针的间距与传感器绑定拼位的间距相等。
[0005]进一步地，所述探针的间距为0.4mm。
[0006]进一步地，所述探针的间距为0.3mm。
[0007]进一步地，所述探针的间距为0.25mm。
[0008]本实用新型具有以下有益效果:本实用新型所述的用于激光蚀刻后的电容屏测试治具，包括治具本体，所述治具本体与一手柄垂直连接，所述治具本体上设有一排探针，所述探针等间距设置，所述探针的间距与传感器绑定拼位的间距相等；本实用新型采用上述结构，通过在治具上设置一排探针，可以有效提高电容屏的测试速度和测试准确率，且能够有效增加测试频率，以及提高生产良率，从而可以解决现有技术在激光蚀刻后测试速度慢，测试不准确等问题。另外，该测试治具设计合理，结构简单，操作简便，易于推广和使用。
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]参照图1，本【具体实施方式】采用以下技术方案:用于激光蚀刻后的电容屏测试治具，包括治具本体1，所述治具本体I与一手柄2垂直连接，所述治具本体I上设有一排探针3，所述探针3等间距设置，所述探针3的间距与传感器绑定拼位的间距相等；在本实施例中，该探针3的间距为0.4mm，同时，该探针3的间距也可设计为0.3mm或0.25mm，这样设计的目的便于能够与传感器绑定拼位的间距相等。另外，本实施例在使用时，通过将探针3与过含光测试软件的电路模块进行连接，从而可以测试每一个拼与拼之间是否为开路或短路，测试准确率高，其准确率可达99%，且有效提高测试速度，增加测试频率，最终能够提高生产良率。
[0011]最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其他修改或者等同替换，只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
【主权项】
1.用于激光蚀刻后的电容屏测试治具，包括治具本体(I)，其特征在于，所述治具本体(I)与一手柄(2)垂直连接，所述治具本体(I)上设有一排探针(3)，所述探针(3)等间距设置，所述探针(3)的间距与传感器绑定拼位的间距相等。
2.根据权利要求1所述的用于激光蚀刻后的电容屏测试治具，其特征在于，所述探针(3)的间距为0.4mm。
3.根据权利要求1所述的用于激光蚀刻后的电容屏测试治具，其特征在于，所述探针(3)的间距为0.3mm。
4.根据权利要求1所述的用于激光蚀刻后的电容屏测试治具，其特征在于，所述探针(3)的间距为0.25mm。
【专利摘要】本实用新型涉及测试治具技术领域，具体涉及用于激光蚀刻后的电容屏测试治具，包括治具本体，所述治具本体与一手柄垂直连接，所述治具本体上设有一排探针，所述探针等间距设置，所述探针的间距与传感器绑定拼位的间距相等。本实用新型采用上述结构，通过在治具上设置一排探针，可以有效提高电容屏的测试速度和测试准确率，且能够有效增加测试频率，以及提高生产良率，从而可以解决现有技术在激光蚀刻后测试速度慢，测试不准确等问题。另外，该测试治具设计合理，结构简单，操作简便，易于推广和使用。
【IPC分类】G01R31-02
【公开号】CN204374340
【申请号】CN201420418401
【发明人】吴辉彪, 吕谦, 佘怡春
【申请人】湖南东迪科技有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2014年7月28日