一种led灯耐低频脉冲高压测试的治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试治具，特别是涉及一种LED灯耐低频脉冲高压测试的治具，属于电学领域。
【背景技术】
[0002]LED (LightEmittingD1de)，发光二极管，是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，它可以直接把电转化为光。LED灯作为一种照明电设备产品，需要对其做性能测试，特别是耐低频脉冲高压测试，以判定LED灯是否能够抵抗相应等级的脉冲高压测试。经过多次试验，判定LED灯是否能够抵抗高压干扰。如果直接在测试样品即LED灯两端施加高压，无法实现低频脉冲的测试要求，且无法重复测试。持续施加高压，易造成LED灯的损坏。因此，需要一种性能可靠、稳定度高的耐低频脉冲高压测试治具，以满足LED灯的测试要求。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种性能可靠、稳定度高的LED灯耐低频脉冲高压测试的治具。
[0004]为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案予以实现:一种LED灯耐低频脉冲高压测试的治具，包括一耐低频脉冲高压测试电路，所述耐低频脉冲高压测试电路包括充电电路、放电电路，所述充电电路和放电电路的共用部分为电容C和单刀双掷开关SI,所述充电电路和放电电路分别接入单刀双掷开关SI的两个输出端，所述放电电路中接入测试样品。
[0005]采用上述技术，通过充电电路使电容C充电获得高电压，然后通过单刀双掷开关SI断开充电电路，将电容C接入放电电路，利用电容C储存电能的特点，对放电电路中的测试样品形成瞬时高压，可对LED灯进行高压测试。然后，通过电容C缓慢释放储能电容中的能量。这个测试电路性能安全可靠、稳定度高。通过控制单刀双掷开关SI可以进行多次重复试验，实现LED灯的耐低频脉冲高压测试。
[0006]作为本实用新型的一种改进，所述充电电路包括串联的脉冲电源\、电阻R、电容C及单刀双掷开关Si。
[0007]作为本实用新型的进一步改进，所述放电电路包括电阻R1、电阻R2、二极管D1、电容C及单刀双掷开关SI，所述电阻R2、二极管Dl及测试样品串联后与电阻Rl并联，该并联电路与电容C及单刀双掷开关SI串联，所述二极管Dl的导通方向与电容C的放电方向一致。
[0008]优选地，脉冲电源V。= (60±1)￥，电容0= 1500(^?，电阻1?1 = 110，电阻1?2 =0.8Ω 0
[0009]优选地，脉冲电源V。= (300±5) V，电容C = 33 μ F，电阻Rl = 100 Ω，电阻R2 =75 Ω。
[0010]作为本实用新型的进一步改进，还包括工作电路，所述工作电路包括串联的工作电源V及二极管D2，工作电路两端分别连接至测试样品两端，且二极管D2的导通方向与工作电源V的电压方向一致、与二极管Dl的导通方向相反。
[0011]采用上述技术，通过所述电阻R2、二极管Dl及测试样品串联后与电阻Rl并联，可以实现分流的效果，对电路进行保护。电阻R2及二极管Dl与测试样品串联可以控制电路流通的方向，实现对测试样品的单向导通的高压测试。
[0012]作为本实用新型的另一种改进，所述放电电路包括电阻R1、电阻R2、二极管D3、电容C、开关S2及单刀双掷开关SI，所述电阻R2、开关S2及测试样品串联后与所述电阻Rl及二极管D3形成的串联电路并联，该并联电路与电容C及单刀双掷开关SI串联，所述二极管D3的导通方向与电容C的放电方向相反，所述开关S1、S2为联动控制。
[0013]作为本实用新型的进一步改进，还包括工作电路，所述工作电路包括串联的工作电源V及开关S3，工作电路两端分别连接至测试样品两端。所述开关S1、S2、S3为联动控制。
[0014]优选地，脉冲电源V。= (300±5)V，电容C = 33yF，电阻Rl = 100Ω，电阻R2 =75 Ω。
[0015]采用上述技术，通过所述电阻R2、开关S2及测试样品串联后与所述电阻Rl及二极管D3形成的串联电路并联，二极管D3的导通方向与电容C的放电方向相反，二极管D3可以释放逆向电流，对电路进行保护。开关S1、S2、S3为联动控制，同时控制三个开关，简化了测试的控制操作过程。
[0016]相对于现有技术，本实用新型通过充电电路使电容C充电，然后通过单刀双掷开关SI将电容C接入放电电路，利用电容C储存电能的特点，对放电电路中的测试样品形成瞬时高压，可对LED灯进行高压测试。然后，通过电容C缓慢释放储能电容中的能量。这个测试电路性能安全可靠、稳定度高。
【附图说明】
[0017]图1是本实用新型实施例1中的电路示意图；
[0018]图2是本实用新型实施例2中的电路示意图。
【具体实施方式】
[0019]下面结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
[0020]实施例1
[0021]图1示出了本实用新型的一种实施方式。一种LED灯耐低频脉冲高压测试的治具，包括一耐低频脉冲高压测试电路，所述耐低频脉冲高压测试电路包括充电电路、放电电路，所述充电电路和放电电路的共用部分为电容C和单刀双掷开关SI,所述充电电路和放电电路分别接入单刀双掷开关Si的两个输出端，所述放电电路中接入测试样品。所述充电电路包括串联的脉冲电源\、电阻R、电容C及单刀双掷开关SI。所述放电电路包括电阻R1、电阻R2、二极管D1、电容C及单刀双掷开关SI，所述电阻R2、二极管Dl及测试样品串联后与电阻Rl并联，该并联电路与电容C及单刀双掷开关SI串联，所述二极管Dl的导通方向与电容C的放电方向一致。还包括工作电路，所述工作电路包括串联的工作电源V及二极管D2，工作电路两端分别连接至测试样品两端，且二极管D2的导通方向与工作电源V的电压方向一致、与二极管Dl的导通方向相反。脉冲电源V。= (300±5)V，电容C = 33yF，电阻Rl = 100Ω，电阻 R2 = 75Ω。或，脉冲电源 V。= (60±1)V，电容 C = 15000 μ F，电阻 Rl =110，电阻尺2 = 0.8