技术编号：9074332
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在电子组件制程中，因各制程步骤间无法避免的原因会产生缺陷。因此为维持产品质量的稳定，须针对所生产的电子组件进行缺陷检测，以根据检测结果分析造成这些缺陷的原因并进行改善，达到提升电子组件制程良率及可靠度的目的。在现有的检测技术步骤中，当电子组件测试完成后，会经由入料座内的孔道进入下一程序，如转盘、输送带等。但是如果电子组件在入料座的孔道前进行测试，承载有电子组件的载具必须减速或停止，因此造成载具与入料座摩擦而产生凹陷或损耗，间接导致入料不顺畅等问题。由此可见...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。