技术编号：9217125
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。对于低集成度存储器，目前有多种方法对其进行多位翻转检测和判别。通过定量分析工艺静态随机读取存储器(Static Random Access Memory, SRAM)的多位翻转贡献的检测方法，可检测到错误信息错误发生的逻辑地址、写入存储器的数据、从存储器读出的数据和错误发生的时间。根据检测到的错误信息，将逻辑地址转换成物理地址后，可以获得单粒子翻转和多维翻转的可视化图像。将物理地址相邻、同一时间段的几个错误判定为多位翻转。根据报错率、器件容量和读写速度计算...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。