技术编号：92485
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明属于电路测试领域，确切地说是大规模和超大规模集成电路、插件板易测设计方法的改进。由于逻辑电路集成度的不断提高，集成电路内部所包含的电路越来越复杂，使插件板和集成电路本身的测试越来越困难，成本也越来越高。现时国外采用的易测设计方法没有理论根据，只是凭经验定出一套规则，然后按规则人工机械地修改电路，增设硬件，由此使增设的硬件在20%以上，而且对逻辑设计强加许多限制，并要占用三条以上的引出线。美国的IBM公司提出了LSSD(Level-Sensitive Scan Design)方法，这种方法由于置初...
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