错位场干涉仪的制作方法技术资料下载

技术编号:93242

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本发明提出的领域,属技术光学领域。现有的干涉仪,普遍采用的结构原理是用平板玻璃的一个镀半透半反膜的端面作分束器,以分振幅的方法将一束入射光分裂成两束光,其中的一束光是干涉仪的基准光,另一束光通过被检测的物场使波面发生畸变,则这个畸变正好记录了物场的结构特征;然后,再将这束畸变的物光与基准光相干叠加,则干涉条纹就反映了波面畸变的特征。因而也反映了物场的结构特征。现有干涉仪的典型结构,以迈光尔逊干涉仪为代表。这些干涉仪对于不清晰的物场,没有增强象的反衬度的功能。本发明的目的,在于提出一种能增强图象结构特征识别的干涉仪。...
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