技术编号：9348352
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明电子显微镜配件及微纳米材料原位测量研究领域，涉及一种用于电子显微镜的原位定量加热装置。背景技术电子显微镜是指通过电子来成像的显微镜，例如透射电子显微镜和扫描电子显微镜。原位电子显微镜(in-situ TEM)技术是指通过对电子显微镜及其样品杆进行改造，对样品施加其他外部激励，如力、热、电等，并实时观测在这些外部激励的作用下样品的形貌、结构的动态变化过程的技术。用于电子显微镜尤其是透射电子显微镜的样品可以分为两种类型，一种是自底向上方法生长的纳米材料，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。