技术编号：9373076
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。单晶及取向性材料在半导体、电磁学、光学及机械等领域都表现出优越的性能。在新型结构和功能材料及器件的研究过程中，会遇到多晶体、一定宏观尺寸的单晶及大量介于两者之间的取向性材料，晶体取向测试和单晶质量评价越来越受到研究人员的重视。晶向偏离度是晶体的轴与晶体方向不吻合时，其偏离的角度称为晶向偏离度。晶锭端面与被测晶向偏离，腐蚀坑对称性就会偏离，利用这种特性就可以确定晶向偏离度。晶向检测的常用方法有外貌观察法、光点定向法和X射线衍射法，其中光点定向法和X射线衍射法...
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