技术编号：9765175
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。设想到其中多个负载一一诸如例如发光二级管(LED) —一放置在阵列中并且提供单独为每一个负载供电的器件电路的场景。这典型地通过提供每个负载的器件单元来实现，其中每一个单元包括电流源以选择性地为相关联的负载供电。典型地，电流源包括场效应晶体管(FET)，其充当用于选择性地为相应负载供电的开关。有时，测试器件的操作可靠性是合期望的。一种这样的测试是FET的栅应力测试。在此，在施加应力电压之前和之后测量每一个FET的源接触件与漏接触件之间的漏电流是合期望的。然而...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。