运用事件相关电位仪辅助筛查轻度认知障碍的方法【
技术领域：
】[0001]本发明涉及一种运用事件相关电位（ERPs)仪辅助筛查轻度认知障碍的方法。【
背景技术：
】[0002]老年性痴呆（Alzheimer'sdisease,AD)是持续进行性的智能衰退，并且缺乏有效的治疗手段，病因学复杂，早期识别较为困难。轻度认知障碍（mildcognitiveimpairment,MCI)被认为是AD的早期阶段，是介于AD和正常衰老之间的一种认知功能损害状态。在正常人向痴呆演化过程中，被试会明显的表现出智能下降，最突出表现为记忆力衰退。在轻度认知损害期，被试会表现为对新发生的事情记忆能力下降。患者经常为错过某些重要的事情和场合而烦恼，家庭主妇也会表现出做菜的口味发生变化，这是由于他们忘了自己到底添加了多少调味料。随着智能损害的加重，这种记忆能力也会逐渐向远期记忆发展，直至完全忘记整个世界，包括自己的子女和伴侣。相关研宄显示，轻度认知损害在老年人中的发生率为5.3%，每年约有10%~15%的轻度认知损害患者转化为AD，而正常老年人群每年转化为AD仅为1%~2%。学者HuangC，WahlundLO，Almkvist0等（2003)对82例轻度认知损害患者进行为期2年的随访研宄，其中28例（34%)例转化为AD，54例(66%)例保持稳定状态，依此将轻度认知损害分为进展型（ProgressiveMCI，PMCI)和稳定型（StableMCI，SMCI)。目前最迫切的任务是如何有效识别PMCI患者，并对其进行早期干预，延缓其向AD发展。[0003]以往研宄表明，情绪信息可能被优先得到加工，当给被试看同样唤醒程度的面孔和情绪图片时，情绪面孔又会得到优先加工。也就是说，个体在观察带情绪的面孔时，能使用最小的资源，得到最大程度的加工。但是这种情绪优势效应可能在MCI被试中损害，这种损害是MCI在行为异常前的早期表现。而且这种损害能通过事件相关电位（Event-relatedpotentials，ERPs)技术检测到。基于此，我们发明了一种MCI的早期识别技术。[0004]ERPs是对客观事件进行认知加工时产生的脑电变化，它具有较高时间分辨率，能够实时记录与认知加工相关联的神经电生理过程，并且可能在行为问题还不明显的时候，可见部分皮层神经的异常脑电活动。【
发明内容】[0005]本发明要解决的技术问题在于提供一种识别MCI的技术，即运用事件相关电位(ERPs)仪辅助筛查轻度认知障碍的方法，它可以早发现痴呆，为早治疗痴呆提供有益帮助。[0006]为解决上述技术问题本发明的技术方案为：[0007]本发明一种运用事件相关电位仪辅助筛查轻度认知障碍的方法，包括下述步骤：[0008]a.根据Petersen(1999)的轻度认知障碍诊断标准，判断患者是否为轻度认知障碍的患者；[0009]b.使用编程软件E-prime在计算机上呈现情绪面孔图片，让可疑为轻度认知损害的被试者进行情绪面孔记忆，分别让轻度认知损害患者学习三类情绪面孔（正性面孔，中性面孔，负性面孔）各50张，在第一次学习时让被试对每个面孔的情绪类型进行分类，并对分类错误的照片给予纠正，以后每隔30分钟浏览温习一遍面孔照片，共学习四次；[0010]C.在末次学习完成1小时后，进行学习效果测试，即再认测试，将学习过的面孔和未学习过的面孔按1:1的比例混合，随机呈现给被试，请被试逐个进行区分，在被试进行图片辨别任务的同时，采用事件相关电位仪记录其脑电；[0011]d.在次日，在与C步骤中的时间的同一时间，将记忆过的面孔和新面孔（前面没有看见过）按1:1比例混合随机呈现，让被试再次判断该面孔是否浏览过。在被试进行区分任务的同时，采用事件相关电位仪记录脑电；[0012]e.采用scan4.3对脑电数据进行预处理，提取的事件相关电位成份主要有N170，早期新旧效应（300-500ms)和晚期的新旧效应（500-800ms)等三个指标，并采用Spss统计软件包分析上述四个指标在24小时内变化；[0013]f.被试的再认的精确度越低，事件相关电位成份（N170成份、早期新旧效应、晚期的新旧效应）学习完成24小时后与刚完成时相比，如果该被试的比值越小，表明其为轻度认知损害的可能越大。[0014]所述a步骤中，判断患者是否为轻度认知障碍的标准有如下几点：[0015]a)经常为忘事烦恼；b)被试出现与受教育程度、年龄不相称的记忆损害；c)被试的一般的认知功能正常；d)被试的日常生活能力正常；e)没有痴呆表现。[0016]所述步骤c、d中，使用事件相关电位仪收集被试脑电时，主要参数设置如下：[0017]电极帽按国际10/20系统电极安置法放置电极，采用64导联电极帽，记录P07，P08，Fz，Cz，Pz电极的脑电图，参考电极置于左耳后单侧乳突，左眼上下2个电极记录垂直眼电（VEOG)，两眼外侧2个电极记录水平眼电（HEOG)，接地点位于Fpz点和Fz点连线的中点，连续记录时滤波带通为0.05-lOOHz，采样率为500Hz，每个电极与头皮之间的电阻均小于5KQ。[0018]所述步骤e中，在对脑电数据进行预处理过程中，主要有以下几个要点：[0019]截取每个刺激呈现前IOOms到呈现后800ms的脑电，以回归法自动校正眼电伪迹，并剔除波幅超过±75yV的脑电，滤波带通为0.05-40HZ;[0020]N170分析P08和P07两个电极，平均波幅取值范围在160到240ms之间。新旧效应共选取3个电极进行分析（Fz，Cz，Pz)。早期新旧效应分析时间窗为300~500ms，晚期新旧效应分析500~800ms。[0021]所述步骤f?中，被试在学习阶段的精确度，事件相关电位成份（N170成份、早期新旧效应、晚期的新旧效应）学习完成24小时后与刚完成时的比值计算方法如下：[0022]被试的精确度（用Xl表示）：击中率减去虚报率（击中率是指被试正确再认学习过的图片的概率；虚报率是指被试把未学习过的面孔说成学习过的概率）；[0023]Xl=p[hits]-p[falsepositives][0024]所述p[hits]表示击中率，所述p[falsepositives]表示虚报率。[0025]N170波幅和潜伏期（用X2表示）：该指标反应被试在学习完成24小时后再认时的脑电图的变化，N170潜伏期计算时不考虑新面孔和旧面孔的差异，N170波幅计算时使用学习过的"旧面孔"波幅当前第1页1 2