专利名称：应用于oled/tft-lcd电性能检测的高频小信号放大电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种主要应用于OLED/TFT IXD电性能检测的高频小信号放大电路。
背景技术：
实际生产过程中，由于制程和原材料的 不良，OLED/TFT IXD产品质量不能达到100%的合格率，或多或少地存在缺陷，如由于制程不良导致TFT LCD的TFT栅极、源极的短路、断路；TFT存储电容的制程不良和液晶等基材的不良导致的売点、Gap不均等缺陷。因此在实际的OLED/TFT IXD生产中，在工序“驱动IC结合”之前会增加“面板综合电性能检测”工序，企业内部通常叫“点灯”测试，防止不合格面板进入下工序，以免价格昂贵的1C、FPC和ACF材料的浪费。其测试仪器通常称为“面板综合电性能检测仪”。OLED发展到现在，其驱动电路和TFT IXD基本一致，故市场上OLED的驱动IC也与TFT IXD通用，同样OLED“面板综合电性能检测”工序使用的测试仪器也原用TFT LCD “面板综合电性能检测”工序测试的测试仪器，简称前测仪(TFT LCD没有结合1C、FPC前进行的电性能综合测试)。前测仪是针对OLED/TFT LCD存在的点不亮或有亮点亮线等问题，根据OLED/TFT LCD电性能检测测试波形设计一种基于单片机的能够产生变化的驱动电压信号的能够综合测试0LED/TFTLCD电性能的仪器，图I (a)为某公司某型号TFT LCD面板的面板综合电性能检测测试波形，图1(b)为某公司某型号TFT OLED面板的面板综合电性能检测测试波形。从图I波形发现VO、VE的占空比非常小，频率较高，但其电压幅值范围非常大，达到±20V，要实现这样的达到窄带宽，高增益的方波，设计相应的高频放大电路是开发设计OLED/TFT LCD前测仪的一个关键技术。图2是单级的单协调回路谐振放大电路的原理图，它由共发射极组态的晶体管Q3和并联谐振回路L6和CS组成，电阻Rl和R7提供晶体管的直流偏置，当信号从基极输入，经过Q3的放大作用和并联谐振回路的选频作用，由晶体管的集电极输出。由于负载的影响，单调谐谐振放大器的品质降低，导致通频带变宽，选择性差，且单调谐谐振放大器的增益较低，这是该放大器的主要缺点。
发明内容本实用新型的目的在于针对现有的高频小信号放大电路选频性差，增益低的技术性问题，提供一种应用于OLED/TFT LCD电性能检测的高频小信号放大电路的设计方法。该放大电路的带宽小于300kHZ，且放大倍数超过1000倍(三个数量级)，达到窄带宽、高增益的技术要求。本实用新型提供的应用于OLED/TFT IXD电性能检测的高频小信号放大电路，由三个组态相同的单级电路级联而成，所述单级电路由电阻与晶体管组成共射放大电路，且该晶体管集电极负载为一个电感和一个电容组成的并联谐振电路，级与级之间采用电容进行隔直，隔直电容连接端为前级三极管的集电极和后级晶体管的基级，信号由第一级电路的晶体管基级进入，由第三级电路的晶体管集电极输出，放大电路电源采用η型LC滤波器进行滤波。本实用新型提供的应用于OLED/TFT LCD电性能检测的高频小信号放大电路的共射放大电路由两个电阻为高频晶体管提供基极静态偏置，晶体管发射极串联两个电阻，其中一个电阻与一个电容并联，以提供晶体管的静态工作点，晶体管的集电极负载为一个电感和一个电容组成的选频电路。其电源为单电源，且为直流电源，放大倍数超过1000倍，且放大电路的带宽小于300kHz。本实用新型与单调谐谐振回路放大电路的改进在于通过级联的方式，增加放大电路的增益，极大的提高放大电路的选频特性(放大电路的带宽更窄)。本实用新型的有益效果在于(1)使OLED/TFT IXD电性能测试仪能够输出窄带宽、高增益的不畸变、不失真的方波电压信号；(2)利用基于该实用新型的OLED/TFT LCD电性能测试仪能够检测OLED/TFT IXD的几乎各种性能缺陷，通过检测的OLED/TFT IXD再进入下一道工序，提高成品率，降低企业成本。·
图I为某公司某型号TFT IXD/0LED面板的面板综合电性能检测测试波形图；图2是现有的闻频小彳目号谐振放大电路的原理图；图3是本实用新型的应用于OLED/TFT LCD电性能检测的高频信号放大电路的工作原理图；图4是LC谐振回路的选频特性；图5是OLED/TFT IXD电性能检测测试电路系统结构图。
具体实施方式
以下结合附图3对本实用新型的具体实施作进一步具体的描述，放大电路的中心频率由LC选频电路决定，假如已知信号频率约为5kHz，则通过设置每一级的电感和电容值，将放大电路的中心频率设置为5kHz，从而实现信号放大。若C取56uF，由f = I/(2π XLXC)可得，L = 64mH，则当信号由第一级的基极进入时，由于LC选频电路发生谐振，呈纯阻性，此时第一级电路的放大倍数最大，且无附加相移，对于其它频率的信号，电压放大倍数减小且产生附加相移(选频特性如附图4)，放大电路由此实现选频作用。同理，第一级放大电路输出的信号再经过第二级，第三级信号的选频与放大，由最后一级放大电路集电极输出，经过三级的选频与放大，有效信号得到高增益放大，夹杂在有效信号中的干扰信号也被滤除。放大信号通过控制模块控制输出到检测电路的显示测试模块，可分别显示红绿蓝三色，检测三色是否显示正确，还可检测亮点亮线等缺陷，实现OLED/TFT IXD电性能的检测。图5是OLED/TFT LCD电性能检测测试电路系统结构图，该电路结构由控制模块，放大电路模块，D/A转换模块，光电耦合开关模块，电源模块和显示测试模块组成。根据不同厂家不同尺寸的OLED/TFT IXD调制相应的程序，并生产制作相应的测试探针，所有输出信号通过输出电路输出给测试探针，测试探针对准OLED/TFT LCD的测试点施加信号，加上合适的背光和偏光片，连接电源即可对OLED/TFT IXD进行测试。
权利要求1.一种应用于OLED/TFT-LCD电性能检测的高频小信号放大电路，其特征是由三个组态相同的单级电路级联而成，每个单级电路由电阻与晶体管组成共射放大电路，且该晶体管集电极负载为一个电感和一个电容组成的谐振电路，级与级之间采用电容进行隔直，隔直电容连接端为前级三极管的集电极和后级晶体管的基级，信号由第一级电路的晶体管基级进入，由第三级电路的晶体管集电极输出，放大器电源采用η型LC滤波器进行滤波。
2.一种应用权利I所述的应用于OLED/TFT-LCD电性能检测的高频小信号放大电路的共射放大电路，其特征为由两个电阻为高频晶体管提供基极静态偏置，晶体管发射极串联两个电阻，其中一个电阻与一个电容并联，以提供晶体管的静态工作点，晶体管的集电极负载为一个电容和一个电感组成的选频电路。
3.—种权利要求保护I所述的应用于OLED/TFT-LCD电性能检测的高频小信号放大电路，其特征为电源为单电源，且为直流电源，放大倍数超过1000倍，且放大电路的带宽小于 300kHz ο
专利摘要本实用新型提出了一种应用于OLED/TFT-LCD电性能检测的高频小信号放大电路，旨在实现某一频率的高频信号的不失真、高增益地放大。该实用新型由三个共射级组态的晶体管和位于晶体管集电极上的LC谐振电路组成。在本实用新型中，当某一频率的高频电压信号进入本放大器时，通过电路中得多个共射级组态的晶体管放大和并联谐振回路的选频作用，信号被放大1000倍以上，且放大器的带宽小于300kHz；该装置相比与单调谐回路谐振放大电路具有高增益、窄带宽的优点，并且该放大器采用单电源供电。图一是本实用新型的应用于OLED/TFT LCD电性能检测的高频信号放大电路的工作原理图。
文档编号G09G3/00GK202602596SQ201120560148
公开日2012年12月12日 申请日期2011年12月28日 优先权日2011年12月28日
发明者唐惠玲, 刘志军, 刘汉瑞, 陈佳, 翁文威, 梁康才, 何圣华 申请人:广东工业大学