专利名称：一种光电效应测试器的制作方法
技术领域：
本实用新型属于光电试验仪器制造技术领域，尤其涉及一种防止部件损坏的光电效应测试器。
背景技术：
光电效应实验，是一个非常经典和 通行的大学基础物理实验，在各大专院校非常普及，适用范围也很广泛。目前在实验室教学中通用的光电效应测试仪，均是由光源、光电管暗盒、设于光电暗盒内的接受器、滤色片、电流电压记录仪、以及仪器外壳构成，如最为典型的如GD-I型。现有技术中滤色片是直接设置于光电管暗室的光电管暗盒的进光孔外。现有光电效应测试仪在使用时因需频繁更换滤色片，不可避免的因操作者手与滤色片的接触，造成滤色片严重的污染和磨损。根据设备设计的要求，使用光电效应测试仪中在每次变换滤色片时，必须遮挡光电管暗盒的进光孔，以防止光源射出的光直接照射到光电管接受器，使光电流过大而烧毁光电管，造成仪器损坏，但在实际使用过程中，由于使用者的失误，常易发生光源出射光直接照射光电管接受器的情况，导致光电管烧毁，使仪器设备受损，而在高等学校中因参与实验者多为首次接触实验操作的学生，类似情况的出现更为常见，因此现有光电测试仪的损坏较为普遍，而且损坏的数量也较多。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种光电效应测试器，旨在解决现有技术提供的光电效应测试器，当更换滤色片时容易使操作者的手和滤色片直接接触，造成滤色片的严重污染和磨损，同时在更换滤色片时容易使光源的出射光直接照射到光电管接受器，造成仪器损坏的问题。本实用新型是这样实现的，一种光电效应测试器，该测试器包括光源、光电管接受器、电压电流记录仪、滤波片转盘、中心转轴、滤波片安装孔、定位钉、暗盒外壳、转轴孔、进光孔、定位孔；所述滤波片转盘的中心位置设置有所述中心转轴，所述滤波片转盘的周边上均匀分布有滤波片安装孔，所述滤波片安装孔的下面设置有所述定位钉；所述暗盒外壳上设置有所述转轴孔及进光孔，所述进光孔下面设置有所述定位孔。进一步，所述滤波片转盘的周边上均匀分布有八个滤波片安装孔。进一步，每个所述滤波片安装孔下面设置均设置有一个定位钉。进一步，所述中心转轴与所述转轴孔配合安装。进一步，所述定位钉与所述定位孔配合安装。 进一步，所述滤波片安装在所述滤波片安装孔中。本实用新型提供的光电效应测试器，滤波片转盘上均匀分布八个滤波片安装孔，每个滤波片安装孔下面设置一个定位钉，中心转轴设置在滤波片转盘的中心位置，暗盒外壳上设有进光孔，进光孔下面与定位钉的对应位置设置有一个定位孔，转轴孔设置在暗盒外壳上，该测试仪利用定位钉及中心转轴两点定位的方式，既可以在更换滤色片时完全消除人手触摸造成对多种不同频率滤色片的严重污染和磨损，又可以克服在更换滤波片时避免使光源的出射光直接照射到光电管接受器造成仪器损坏，从根本上保证了滤波片更换时位置的准确性，操作方便，保障了仪器设备的使用安全。
图I是本实用新型实施例提供的滤波片转盘的结构示意图；图2是本实用新型实施例提供的暗盒外壳的结构示意图。图中1、滤波片安装孔；2、滤波片转盘；3、定位钉；4、中心转轴；5、暗盒外壳；6、进光孔；7、定位孔；8、转轴孔。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。图I及图2示出了本实用新型实施例提供的光电效应测试器的滤波片转盘2及暗盒外壳5的结构。为了便于说明，仅仅示出了与本实用新型实施例相关的部分。该测试器包括光源、光电管接受器、电压电流记录仪、滤波片转盘2、中心转轴4、滤波片安装孔I、定位钉3、暗盒外壳5、转轴孔8、进光孔6、定位孔7 ；滤波片转盘2的中心位置设置有中心转轴4，滤波片转盘2的周边上均匀分布有滤波片安装孔I，滤波片安装孔I的下面设置有定位钉3 ；暗盒外壳5上设置有转轴孔8及进光孔6，进光孔6下面设置有定位孔7。在本实用新型实施例中，滤波片转盘2的周边上均匀分布有八个滤波片安装孔I。在本实用新型实施例中，每个滤波片安装孔I下面设置均设置有一个定位钉3。在本实用新型实施例中，中心转轴4与转轴孔8配合安装。在本实用新型实施例中，定位钉3与定位孔7配合安装。在本实用新型实施例中，滤波片安装在滤波片安装孔I中。本实用新型实施例提供的光电效应测试器，滤波片转盘2上均匀分布八个滤波片安装孔1，每个滤波片安装孔I下面设置一个定位钉3，中心转轴4设置在滤波片转盘2的中心位置，暗盒外壳5上设有进光孔6，进光孔6下面与定位钉3的对应位置设置有一个定位孔7，转轴孔8设置在暗盒外壳5上，该测试仪利用定位钉3及中心转轴4两点定位的方式，既可以在更换滤色片时完全消除人手触摸造成对多种不同频率滤色片的严重污染和磨损，又可以克服在更换滤波片时避免使光源的出射光直接照射到光电管接受器造成仪器损坏，保证了滤波片更换时位置的准确性，操作方便，保障了仪器设备的使用安全。
以下结合附图及具体实施例对本实用新型的应用原理作进一步描述。如图I所示，滤波片转盘2上均匀分布八个滤波片安装孔1，每个滤波片安装孔I下面设置一个定位钉3 ;中心转轴4设置在滤波片转盘2的中心位置；如图2所示，暗盒外壳5上设有进光孔6 ;进光孔6下面与定位钉3对应位置有一个定位孔7 ;转轴孔8设置在暗盒外壳5上；滤波片转盘2上设置了八个滤波片安装孔1，可以安装八种不同的滤波片。使用时，旋转中心转轴4，当定位钉3到达定位孔7的位置后，停止旋转，将中心转轴4安装在转轴孔8中；该仪器利用定位钉3和中心转轴4两点定位的方式，保证了滤波片更换时位置的准确性，操作方便。 以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种光电效应测试器，包括光源、光电管接受器、电压电流记录仪，其特征在于，所述测试器还包括滤波片转盘、中心转轴、滤波片安装孔、定位钉、暗盒外壳、转轴孔、进光孔、定位孔； 所述滤波片转盘的中心位置设置有所述中心转轴，所述滤波片转盘的周边上均匀分布有滤波片安装孔，所述滤波片安装孔的下面设置有所述定位钉； 所述暗盒外壳上设置有所述转轴孔及进光孔，所述进光孔下面设置有所述定位孔。
2.如权利要求I所述的一种光电效应测试器，其特征在于，所述滤波片转盘的周边上均匀分布有八个滤波片安装孔。
3.如权利要求I或2所述的一种光电效应测试器，其特征在于，每个所述滤波片安装孔下面设置均设置有一个定位钉。
4.如权利要求I所述的一种光电效应测试器，其特征在于，所述中心转轴与所述转轴孔配合安装。
5.如权利要求I所述的一种光电效应测试器，其特征在于，所述定位钉与所述定位孔配合安装。
6.如权利要求I所述的一种光电效应测试器，其特征在于，所述滤波片安装在所述滤波片安装孔中。
专利摘要本实用新型适用于光电试验仪器制造技术领域，提供了一种光电效应测试器，滤波片转盘上均匀分布八个滤波片安装孔，每个滤波片安装孔下面设置一个定位钉，中心转轴设置在滤波片转盘的中心位置，暗盒外壳上设有进光孔，进光孔下面与定位钉的对应位置设置有一个定位孔，转轴孔设置在暗盒外壳上，该测试仪利用定位钉及中心转轴两点定位的方式，既可以在更换滤色片时完全消除人手触摸造成对多种不同频率滤色片的严重污染和磨损，又可以克服在更换滤波片时避免使光源的出射光直接照射到光电管接受器造成仪器损坏，保证了滤波片更换时位置的准确性，操作方便，保障了仪器设备的使用安全。
文档编号G09B23/22GK202563785SQ20122007729
公开日2012年11月28日 申请日期2012年3月5日 优先权日2012年3月5日
发明者张延赐 申请人:张延赐