专利名称：Rgb接口的液晶屏测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试治具，尤其涉及一种RGB接口的液晶屏测试治具。
背景技术：
液晶显示器为平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成，放置于光源或者反射面前方。液晶显示器具有薄型化、功耗低、适用面广等特点，备受工程师青睐。现有中小尺寸的液晶屏最常用的连接模式，一般是MCU模式和RGB模式，MCU模式 控制简单方便，无需时钟和同步信号，但要耗费GRAM，难以做到大屏幕，常用于显示静止图片；RGB模式无需GRAM，传输速度较快，但操作复杂，需要时钟及同步信号控制，常用于显示视频或动画。现有的液晶屏测试治具采用51单片机设计，系统时钟最高仅达到48MHZ，在测试WVGA的显示屏时，测试效率大大降低，无法满足生产，随着3G智能手机快速发展，更难以满足客户对移动设备智能化要求，快速传输数据和支持高分辨率等性能。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种RGB接口的液晶屏测试治具，按照MPU模式初始化待测液晶屏，显示数据无需写入DDRAM，直接写入液晶屏，不耗费GRAM，传输速度快，支持高分辨率，满足生产和客户的需求。为实现上述目的，本实用新型提供的RGB接口的液晶屏测试治具，包括测试模块、电性连接于所述测试模块的背光源驱动模块、及电性连接于所述测试模块的控制模块，所述测试模块包括微处理器及电性连接于该微处理器的存储模块，所述存储模块预先烧录有测试程序，所述控制模块包括电性连接于该微处理器的液晶驱动模块，所述液晶驱动模块包括一 SPI接口，所述背光源驱动模块电性连接于该微处理器。所述液晶屏测试治具还设有一 JTAG接口，该JTAG接口电性连接于该存储器所述液晶屏测试治具还包括一接口模块，该接口模块电性连接于该控制模块及背光源驱动模块。所述测试治具还包括一蜂鸣器，该蜂鸣器电性连接于该微处理器。所述测试治具还包括一中断开关，该中断开关电性连接于该微处理器。所述测试模块为LPC2138芯片，所述控制模块为SSD1963芯片。所述背光源驱动模块为CP2123芯片。本实用新型的有益效果本实用新型提供的RGB接口的液晶屏测试治具，通过把液晶屏直接接在存储器的总线上，并按照MCU模式初始化待测液晶屏，显示数据不写入DDRAM,直接写屏，不耗费GRAM，数据传输速度快，测试速度快，还支持高分辨率，容易做到大屏。为了能更进一步了解本实用新型的特征以及技术内容，请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制。
以下结合附图，通过对本实用新型的具体实施方式
详细描述，将使本实用新型的技术方案及其它有益效果显而易见。附图中，图I为本实用新型RGB接口的液晶屏测试治具的模块图。
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型所采取的技术手段及其效果，以下结合本实用新型的 优选实施例及其附图进行详细描述。请参阅
图1，本实用新型提供的RGB接口的液晶屏测试治具20，包括测试模块22、电性连接于所述测试模块22的背光源驱动模块25、及电性连接于所述测试模块22的控制模块26，所述测试模块22包括微处理器224及电性连接于该微处理器224的存储模块222，所述存储模块222预先烧录有测试程序，所述控制模块26包括电性连接于该微处理器224的液晶驱动模块262，所述液晶驱动模块262包括一 SPI接口 2622，所述背光源驱动模块25电性连接于该微处理器224。所述液晶屏测试治具20还包括一蜂鸣器21，该蜂鸣器21与该微处理器224电性连接，用于该微处理器224检测所述背光源驱动模块25及液晶驱动模块262存在异常时报警之用及测试完毕后提示该待测液晶屏40测试合格之用。 所述液晶屏测试治具20还设有一 JTAG接口 23，该JTAG接口 23电性相连于该存储模块222，通过该JTAG接口 23可以将测试程序烧录到存储模块222中，及更换测试程序。进而可根据不同产品烧录不同的测试程序，使得该测试治具20适用于多种产品，扩大了适用范围，进而降低了成本。所述液晶屏测试治具20还设有一中断开关24，该中断开关24电性连接于该微处理器224，通过该中断开关24可以中断待测液晶屏40上图像的转换。所述液晶屏测试治具20还包括一接口模块27，该接口模块27与控制模块26及背光源驱动模块25电性连接，测试时待测液晶屏40安装及电性接于所述接口模块27，该待测液晶屏40与液晶驱动模块262及背光源驱动模块25电性连接，亦即SPI接口 2622与待测液晶屏40电性连接。所述待测液晶屏40通过该接口模块27直接接于存储器总线上，取消内部RAM的设置，显示数据不保存到内部RAM中，直接往屏上写，测试速度快。通过该接口模块27，待测液晶屏40与控制模块26的连线有VSYNC、HSYNC、DOTCLK、ENABLE及数据线等，数据传输位可分为8位、16位及18位。本实用新型提供的RGB接口的液晶屏测试治具工作原理如下将待测液晶屏40安装在接口模块27上，该待测液晶屏40与控制模块26及背光源驱动模块25电性连接，接通该测试治具20的电源，微处理器224运行测试程序，对电性连接于该微处理器224的背光源驱动模块25及液晶驱动模块262进行检测，若检测到背光源驱动模块25或液晶驱动模块262存在异常时，则控制蜂鸣器21发出报警提示，提示用户背光源驱动模块25或液晶驱动模块262存在异常；若检测到背光源驱动模块25及液晶驱动模块262无异常，则对背光源驱动模块25及液晶驱动模块262进行初始化，微处理器224控制背光源驱动模块25驱动待测液晶屏40的背光源工作，同时向控制模块26发送控制信号及测试信号，液晶驱动模块262通过SPI接口 2622按MCU模式初始化该待测液晶屏40，控制模块26将接收到的测试信号直接传输给待测液晶屏40，该待测液晶屏40根据该测试信号显示对应图像。判断图像是否异常，若测试过程没有发现图像异常，则判断该待测液晶屏40合格，该微处理器224发出该待测液晶屏40合格的信号；若测试过程中某个图像出现异常，则判断待测液晶屏40不合格，并触发该中断开关24，中断待测液晶屏40上图像的转换，并对该异常画面进行分析。所述待测液晶屏40根据测试信号依次显示黑、白、红、绿、蓝、灰阶、彩色图像。所述微处理器224发出报警提示为微处理器224控制蜂鸣器21发出“滴”的提示音。所述微处理器224发出该待测液晶屏40合格的信号为该微处理器224控制该待测液晶屏40显示 PASS画面及控制蜂鸣器21发出“滴”的提示音。为了将所述蜂鸣器21所发出的报警提示音与合格提示音予以区别，可设置合格提示音为短音，而报警提示音为长音。在进行测试前，对电性接于该微处理器224的背光源驱动模块25及液晶驱动模块262进行检测，确保了该测试治具的正常运行，这大大提高了该测试治具20的准确度，避免了使用不良测试治具得出不准确的测试结果。该测试治具20在初始化待测液晶屏40时，采用MCU模式，使得该测试治具20操作简单方便，无需时钟信号和同步信号，待测液晶屏40直接接在存储器总线上，显示数据无需写入DDRAM，直接写屏，无需耗费GRAM，支持高分辨率，最高支持WVGA分辨率。在整个测试过程，所述待测液晶屏40初始化后，该微处理器224通过控制模块26不停地往待测液晶屏40写数据。在本较佳实施例中，所述测试模块22选用LPC2138芯片，所述控制模块26选用SSD1963芯片，所述背光源驱动模块25选用CP2123芯片。综上所述，本实用新型提供的RGB接口的液晶屏测试治具，通过把液晶屏直接接在存储器的总线上，并按照MCU模式初始化待测液晶屏，显示数据不写入DDRAM，直接写屏，不耗费GRAM，数据传输速度快，测试速度快，还支持高分辨率，容易做到大屏。以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本实用新型权利要求的保护范围。
权利要求1.一种RGB接口的液晶屏测试治具，其特征在于，包括测试模块、电性连接于所述测试模块的背光源驱动模块、及电性连接于所述测试模块的控制模块，所述测试模块包括微处理器及电性连接于该微处理器的存储模块，所述存储模块预先烧录有测试程序，所述控制模块包括电性连接于该微处理器的液晶驱动模块，所述液晶驱动模块包括一 SPI接口，所述背光源驱动模块电性连接于该微处理器。
2.如权利要求I所述的RGB接口的液晶屏测试治具，其特征在于，所述液晶屏测试治具还设有一 JTAG接口，该JTAG接口电性连接于该存储器。
3.如权利要求I所述的RGB接口的液晶屏测试治具，其特征在于，所述液晶屏测试治具还包括一接口模块，该接口模块电性连接于该控制模块及背光源驱动模块。
4.如权利要求I所述的RGB接口的液晶屏测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括一蜂鸣器，该蜂鸣器电性连接于该微处理器。
5.如权利要求I所述的RGB接口的液晶屏测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括 一中断开关，该中断开关电性连接于该微处理器。
6.如权利要求I所述的RGB接口的液晶屏测试治具，其特征在于，所述测试模块为LPC2138芯片，所述控制模块为SSD1963芯片。
7.如权利要求I所述的RGB接口的液晶屏测试治具，其特征在于，所述背光源驱动模块为CP2123芯片。
专利摘要本实用新型提供一种RGB接口的液晶屏测试治具，其包括测试模块、电性连接于所述测试模块的背光源驱动模块、及电性连接于所述测试模块的控制模块，所述测试模块包括微处理器及电性连接于该微处理器的存储模块，所述存储模块预先烧录有测试程序，所述控制模块包括电性连接于该微处理器的液晶驱动模块，所述液晶驱动模块包括一SPI接口，所述背光源驱动模块电性连接于该微处理器。通过将待测液晶屏直接接在存储器的总线上，并按照MCU模式初始化待测液晶屏，显示数据不写入DDRAM，直接写屏，不耗费GRAM，数据传输速度快，测试速度快，还支持高分辨率，容易做到大屏。
文档编号G09G3/00GK202487114SQ20122008562
公开日2012年10月10日 申请日期2012年3月8日 优先权日2012年3月8日
发明者乔伟雄 申请人:无锡博一光电科技有限公司