测量平板透明介质折射率的实验装置与实验方法
【专利摘要】一种测量平板透明介质折射率的实验装置与实验方法，在底座上设置有半导体激光器，底座上半导体激光器光出射方向设置有中心线与半导体激光器中心线相垂直的柱透镜，待测平板透明介质的光入射面上设置有坐标纸，坐标纸的标度面粘贴在平板透明介质光入射方向的一侧面。测量平板透明介质折射率的实验测量方法步骤为：坐标纸的标度面贴在已知厚度的平板透明介质光入射面上，半导体激光器出射的激光束入射到柱透镜，出射的线光源垂直入射于平板透明介质上坐标纸的背面，从平板透明介质的另一侧面迎光观察到以坐标纸上的线状光带为中心线对称的暗带，按公式计算出平板透明介质的折射率。可用于于学生光学实验、课堂演示实验以及工程现场测量。
【专利说明】测量平板透明介质折射率的实验装置与实验方法
【技术领域】
[0001]本发明属于折射率测量设备或装置【技术领域】，具体涉及测量平板透明介质折射率的实验装置。
【背景技术】
[0002]透明介质的折射率是其最重要的光学参数之一，折射率的精确、简便、快速测量技术的研究一直是本【技术领域】的热点问题，也是大学物理光学实验中的基本内容。几何光学测量法是透明固体折射率的主要测量方法，其中最常用的方法是利用分光计的最小偏向角法、V棱镜折射法和阿贝折射仪，虽然其测量精度都较高，但都要求将待测量的固体透明介质加工成所要求的确定形状，其加工成本高、难度大，影响了在一般条件下的使用。专利
【发明者】张宗权, 苗润才, 刘志存, 杨宗立, 鲁百佐, 姚志, 王文成 申请人:陕西师范大学