一种坏点检测方法、电子设备及装置与流程

本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种坏点检测方法、电子设备及装置。

背景技术：

随着电子技术发展，各种便携式电子设备也越来越多，比如手机、平板电脑等便携式电子设备。

这些电子设备一般都具备显示屏，而显示屏在被使用时，都会进行坏点检测，这里的坏点是指由于工艺或设计原因出现坏的电路，导致坏的像素点出现，或者是由于温度或者老化等原因出现位置和强度不固定的坏点。

但是，当前对于显示屏的坏点检测方法的准确性较低。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种坏点检测方法、电子设备及装置，用以解决现有技术中对于显示屏的坏点检测方法的准确性较低的问题。

其具体的技术方案如下：

一种坏点检测方法，应用于一电子设备，所述方法包括：

获取第一待检测像素点的像素值，以及与所述第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值；

确定所述像素值与所述第一像素值以及所述第二像素值之间的差分值；

基于所述差分值与第一预设阈值范围的关系，确定所述第一待检测像素点是否为坏点。

可选的，分别获取第一待检测像素点的像素值，以及与所述第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值，包括：

确定以所述第一待检测像素点为中心像素点的第一像素点矩阵；

在所述第一像素点矩阵中，确定出所述第一待检测像素点对应的第一参考像素点以及第二参考像素点，并获取所述第一参考像素点的第一像素值以及第二参考像素点的第二像素值。

可选的，确定所述像素值与所述第一像素值以及所述第二像素值之间的差分值，包括：

获取所述像素值与第一像素值的差值的第一绝对值以及所述像素值与所述第二像素值的差值的第二绝对值；

将所述第一绝对值与所述第二绝对值之和作为所述差分值。

可选的，在确定所述第一待检测像素点为非坏点时，所述方法还包括：

分别获取所述第一待检测像素点对应的八个像素点的像素值；

获取所述像素值分别与八个像素点的像素值中每个像素值的差值的绝对值的和；

判定所述绝对值的和是否处于第二预设阈值范围内；

若所述绝对值的和未处于所述第二预设阈值范围内时，则确定所述第一待检测点为坏点。

可选的，分别获取所述第一待检测像素点对应的八个像素点的像素值，包括：

确定出以所述第一待检测像素点作为中心像素点的第二像素点矩阵；

在所述第二像素点矩阵中选取出与所述第一待检测像素点具有相同颜色通道的八个像素点；

分别确定八个像素点中每个像素点的像素值。

一种电子设备，包括：

检测器，用于获取第一检测像素点的像素值，以及与第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值；

处理器，与所述检测器连接，用于确定所述像素值与所述第一像素值以及 所述第二像素值之间的差分值，基于所述差分值与第一预设阈值范围的关系，确定所述第一待检测像素点是否为坏点。

可选的，所述检测器，具体用于确定以所述第一待检测像素点为中心像素点的第一像素点矩阵，在所述第一像素点矩阵中，确定出所述第一待检测像素点对应的第一参考像素点以及第二参考像素点，并获取所述第一参考像素点的第一像素值以及第二参考像素点的第二像素值。

可选的，所述处理器，具体用于获取所述像素值与第一像素值的差值的第一绝对值以及所述像素值与所述第二像素值的差值的第二绝对值，将所述第一绝对值与所述第二绝对值之和作为所述差分值。

可选的，所述检测器，还用于分别获取所述第一待检测像素点对应的八个像素点的像素值；

所述处理器，还用于获取所述像素值分别与八个像素点的像素值中每个像素值的差值的绝对值的和，判定所述绝对值的和是否处于第二预设阈值范围内，若所述绝对值的和未处于所述第二预设阈值范围内时，则确定所述第一待检测点为坏点。

可选的，所述检测器，具体用于确定出以所述第一待检测像素点作为中心像素点的第二像素点矩阵；

所述处理器，具体用于在所述第二像素点矩阵中选取出与所述第一待检测像素点具有相同颜色通道的八个像素点，分别确定八个像素点中每个像素点的像素值。

一种坏点检测装置，包括：

获取模块，用于获取第一待检测像素点的像素值，以及与所述第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值；

确定模块，用于确定所述像素值与所述第一像素值以及所述第二像素值之间的差分值；

处理模块，用于基于所述差分值与第一预设阈值范围的关系，确定所述第 一待检测像素点是否为坏点。

本发明实施例提供了一种坏点检测的方法，该方法包括：获取第一待检测像素点的像素值，以及与第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值，确定第一待检测像素点的像素值与第一像素值以及第二像素值之间的差分值，基于该差分值与第一预设阈值范围的关系，确定第一待检测像素点是否为坏点。简单来讲，在本发明实施例中，通过第一待检测像素点的像素值与其他两个像素点的像素值的关系来确定出该第一待检测像素点是否与其他两个像素点一致，从而通过较为简单的算法来较为准确的测算出相邻像素点之间的像素值是否一致，进而最终确定出第一待检测像素点是否为坏点。

附图说明

图1为本发明实施例中一种坏点检测方法的流程图；

图2为本发明实施例中3×3的第一像素点矩阵的示意图之一；

图3a为本发明实施例中3×3的第一像素点矩阵的示意图之二；

图3b为本发明实施例中3×3的第一像素点矩阵的示意图之三；

图3c为本发明实施例中3×3的第一像素点矩阵的示意图之四；

图3d为本发明实施例中3×3的第一像素点矩阵的示意图之五；

图4为本发明实施例中5×5的第一像素点矩阵的示意图之一；

图5a为本发明实施例中5×5的第一像素点矩阵的示意图之二；

图5b为本发明实施例中5×5的第一像素点矩阵的示意图之三；

图5c为本发明实施例中5×5的第一像素点矩阵的示意图之四；

图6为本发明实施例中双通到情况下进行坏点检测的方法流程图；

图7为本发明实施例中像素点矩阵为9×9的像素点矩阵；

图8为本发明实施例中一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

至少为了解决当前对于显示屏的坏点检测的准确率较低的问题，本发明实施例提供了一种坏点检测的方法、装置以及电子设备，该方法包括：获取第一待检测像素点的像素值，以及与第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值，确定第一待检测像素点的像素值与第一像素值以及第二像素值之间的差分值，基于该差分值与第一预设阈值范围的关系，确定第一待检测像素点是否为坏点。简单来讲，在本发明实施例中，通过第一待检测像素点的像素值与其他两个像素点的像素值的关系来确定出该第一待检测像素点是否与其他两个像素点一致，从而通过较为简单的算法来较为准确的测算出相邻像素点之间的像素值是否一致，进而最终确定出第一待检测像素点是否为坏点。

对于上述的技术方案，下面通过附图以及具体实施例进行详细的说明，应当理解，本发明实施例以及实施例中的具体技术特征只是对本发明技术方案的详细说明，而不是限定，在不冲突的情况下，本发明实施例以及实施例中的具体技术特征可以相互组合。

如图1所示为本发明实施例中一种坏点检测方法的流程图，该方法包括：

S101，获取第一待检测像素点的像素值，以及与第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值；

具体来讲，在本发明实施例中的坏点检测方法可以应用到一电子设备中，该电子设备包括一显示屏，该显示屏包含了多个像素点，每个像素点都对应有一个像素值，因此在对该显示屏进行坏点检测时，首先就需要确定出一个待检测像素点，该待检测像素点可以是系统默认的该显示屏的左上角的第一个像素点作为第一待检测像素点，也就是该显示屏的使用者指定的一个位置上的像素点，在本发明实施例中不限定确定第一待检测像素点的方式以及方法，在实际的应用场景中可以根据用户的需求来进行自动选取和手动选取。

在确定出第一待检测像素点之后，该电子设备将通过处理器或者其他装置来获取第一待检测像素点的像素值，在此处并不限定获取第一待检测像素点的 像素值的方式，本领域技术人员通过已知的任何方式来确定出第一待检测像素点的像素值的方式都在本发明实施例所包含的范围内。

在确定出第一待检测像素点或者在确定出第一待检测像素点的像素值之后，该电子设备将确定出与第一待检测像素点对应的至少两个像素点，这两个像素点具体确定方式如下：

在本发明实施例中，该电子设备将基于第一待检测像素点的位置，确定出以第一待检测像素点为中心像素点的第一像素点矩阵，在第一像素点矩阵中，确定出第一待检测像素点对应的第一参考像素点以及第二参考像素点，并获取第一参考像素点的第一像素值以及第二参考像素点的第二像素值。

比如说，如图2所示的3×3的第一像素点矩阵，在图2所示的第一像素点矩阵中，像素点B为第一待检测像素点，即：第一待检测像素点为第一像素点矩阵中的中心像素点。然后像素点B为中心，在第一待检测像素点中确定出与像素点B相邻的两个像素点，确定出的两个像素点可以是图3a所示的两个像素点，可以是图3b所示的两个像素点，还可以是图3c所示的两个像素点，还可以是图3d所示的两个像素点，当然还可以是其他的组合方式，在本发明实施例中就不再进行一一的举例说明。

在确定出与第一待检测像素点相邻的两个像素点之后，该电子设备将获取到与第一待检测像素点相邻的两个像素点的像素值，这两个像素点的像素值的确定方式可以与确定第一待检测像素点的像素值的方式一致，在此就不进行多余赘述。

在上述的描述中是以3×3的像素矩阵来进行说明，当然该第一像素点矩阵还可以是5×5的像素点矩阵，比如图4所示的像素点矩阵就为5×5的像素点矩阵，在该5×5的像素点矩阵中，第一待检测像素点为5×5的像素点矩阵的中心像素点，然后该电子设备将确定与该中心像素点相邻的像素点，此时确定出的像素点为4个像素点，比如说确定出图5a所示的四个像素点，或者是图5b所示的四个像素点，或者是图5c所示的四个像素点。简单来讲，在任何的像素 点矩阵中，可以确定出以第一待检测像素点为中点的一条线，在该线上的像素点都作为第一待检测像素的相邻像素点。

当然，除了上述的像素点矩阵之外，还可以确定出其他像素点矩阵，比如说7×7的像素点矩阵作为第一像素点矩阵，或者是9×9的像素点矩阵作为第一像素点矩阵等，在本发明实施例中并不限定像素点矩阵的类型，在实际的应用过程中，可以根据用户的需求来调整像素点矩阵。而在这些像素点矩阵的中心点都是第一待检测像素点。

S102，确定像素值与第一像素值以及第二像素值之间的差分值；

在确定出第一待检测像素点对应的至少两个像素的像素值之后，该电子设备将基于第一待检测像素点的像素值以及第一像素值以及第二像素值，确定像素值与第一像素值以及第二像素值之间的差分值。

具体来讲，在本发明实施例中可以获取第一待检测像素点与第一像素值的差值的第一绝对值以及该像素值与第二像素值的差值的第二绝对值，具体的公式如下：

Dh＝|B-A|+|B-C|

其中，Dh表征了该差分值，B表征第一待检测像素点的像素值，A表征第一像素值，C表征第二像素值。

上述的公式是适用于3×3的像素点矩阵，而对于其他像素点矩阵也可以使用上述的公式来计算，比如说在5×5的像素点矩阵中，若是包含了A、B、C、D、E五个像素点，首先将计算5×5像素点矩阵中的A、B、C三个像素点之间的差分值，然后再计算C、D、E三个像素点之间的差分值。同样的道理，对于7×7的像素点矩阵以及9×9的像素点矩阵都可以使用上的公式进行计算。在此就不再一一的进行说明。

S103，基于差分值与第一预设阈值范围的关系，确定第一待检测像素点是否为坏点。

在通过S102中的计算公式得到第一待检测像素点的像素值与第一像素值以 及第二像素值之间差分值之后，该电子设备将得到的差分值与设定的第一预设阈值范围进行比较判定，这里的判定过程确定的就是第一待检测像素点的像素值与相邻的两个像素点的像素值之间的差异，若是该差异已经超过了设定的范围，也就是差分值大于第一预设阈值范围，则说明第一待检测像素点的像素值与相邻两个像素点的像素值差异较大，此时第一待检测像素点就可以判定为坏点。

若是第一待检测像素点的像素值与相邻的两个像素点的像素值之间的差异在设定的范围内，也就是差分值小于第一预设阈值范围，则说明第一待检测像素点的像素值与相邻两个像素点的像素值差异较小，此时第一待检测像素点就可以判定为好点。

具体以图3a所示的3×3矩阵来举例说明，其中，像素点B为第一待检测像素点，像素点A和像素点C为相邻的两个像素点，当计算出像素点B的像素值与像素点A的像素值以及像素点C的像素值之间的差分值时，若是该差分值大于第一预设阈值范围，则像素点B的像素值与像素点A以及像素点C的像素值差异较大，则说明像素点B为坏点；若是该差分值小于第一预设阈值范围，则像素点B的像素值与像素点A以及像素点C的像素值差异较小，则说明像素点B为好点。

虽然上述的实施例中只是说明了在3×3像素点矩阵中的应用情况，但是上述的方式可以完全的应用到5×5像素点矩阵中，比如说，以比如说在5×5的像素点矩阵中，若是包含了A、B、C、D、E五个像素点，像素点B为第一待检测像素点，该电子设备将首先确定像素点B的像素值与像素点A的像素值以及与像素点C的像素值之间的差分值，然后判定像素点B是否为坏点，然后再进一步的判定B、C、D三个像素点的像素值的差分值，若是该差分值大于第一预设阈值范围，则C点为坏点，若是该差分值小于第一预设阈值范围时，则C点为好点，同理，可以进一步的确定C、D、E三个像素点的像素值的差分值，这样可以确定D点是否为坏点。若是C、D像素点都是好点时，并且像素点B 与像素点A以及像素点C之间的差分值小于第一预设阈值范围时，则说明像素点B为好点。

在本发明实施例中，在确定出需要检测的待检测像素点之后，该电子设备将确定待检测像素点相邻的像素点，然后得到待检测像素点的像素值与相邻的像素点的像素值的差分值，然后根据差分值来判定待检测像素点是否为坏点，从而实现了为坏点检测的边间性，并且通过比较待检测像素点的像素值与相邻像素点的像素值之间的差异，可以更加准确的判定待检测像素点是否为坏点。

进一步，在上述的实施例中针对的是显示屏上的第一待检测像素点为非坏点之后，为了进一步的验证第一待检测像素是否为坏点，因此该电子设备还将在双通道的情况下，进一步的确定单通道检测下的非坏点是否为坏点，如图6所示为双通到情况下进行坏点检测的方法流程图：

S601，分别获取第一待检测像素点对应的八个像素点的像素值；

具体来讲，在本发明实施例中，在双通道的情况下，并且在确定出第一待检测像素点的情况下，该电子设备将以第一待检测像素点为中心像素点确定出一个第二像素点矩阵，该第二像素点矩阵一般情况是9×9的像素点矩阵，在该9×9像素点矩阵中，中心点为第一待检测像素点，比如说，图7所示的像素点矩阵为9×9的像素点矩阵，其中，像素点P为第一待检测像素点，通过第一待检测像素点可以确定出与第一待检测像素点具有相同颜色通道的八个像素点，这八个像素点即为9×9的像素点矩阵中的P_-1，-1、P_-1，0、P_-1，1、P_0，-1、P_-1，1、P_1，-1、P_1，0、P_1，1像素点为与P像素点具有相同颜色通道的八个像素点。

在确定出与第一待检测像素点对应的八个像素点之后，该电子设备将获取这八个像素点的像素值。

S602，获取像素值分别与八个像素点的像素值中每个像素值的差值的绝对值的和；

在电子设备获取到与第一待检测像素点处于相同颜色通道的八个像素点的像素值之后，该电子设备将获取第一待检测像素点的像素值与其中一个像素点 的像素值之间的差值的绝对值，然后依次获取第一待检测像素点的像素值与其他各像素点的像素值之间的差值的绝对值，最后再计算得到每个绝对值的和。具体来讲，就通过如下的公式来计算该绝对值的和：

d_i,j＝∑|P_i,j-P|,i,j＝-1,0,1,&i≠0,j≠0

其中，d_i,j表征了绝对值的和，P_i,j表征了与第一待检测像素点的像素值，P表征了第一待检测像素点的像素值。

S603，判定绝对值的和是否处于第二预设阈值范围内；

S604，若绝对值的和未处于第二预设阈值范围内时，则确定第一待检测点为坏点。

也就是说，该绝对值的和说明了第一待检测像素点的像素值与其他八个像素点的像素值之间的差异，并且差异在该第二预设阈值范围内时，则说明该第一待检测像素点为好点，若是该差异未在第二预设阈值范围内时，则说明第一待检测像素点已经发生了改变，此时就可以确定第一待检测像素点为坏点。

通过上述的八个像素点的像素值与第一待检测像素点的像素值的差异来确定第一待检测像素点是否为坏点，可以更加准确的确定第一待检测像素是否与同一颜色通道的像素点的像素值存在差异，从而更加准确的确定出第一待检测像素点是否为坏点。

这里需要说明的是，在步骤S601-S604中的第一待检测像素点可以是S101-S103中所述的第一待检测像素点，也可以是显示屏上的其他像素点，这里并不是限定这两个像素点一定是同一像素点。

进一步，在上述实施例中的举例说明都是为了对技术方案进行详细的描述，并不是限定实际产品的参数或者是执行方式，实际的产品应用中可以基于上述实施例中的参数或者执行方式进行调整。

另外，还需要说明的是，在本发明实施例中，该电子设备也可以直接在双通道的情况下对第一待检测像素点进行检测，也就是说该电子设备可以将双通道的检测过程作为独立的检测过程，这样可以使得单通道检测故障时，保证坏 点检测实时性以及准确性。

在本发明实施例中，还提供了一种电子设备，如图8所示为本发明实施例中一种电子设备的结构示意图，该电子设备包括：

检测器801，用于获取第一检测像素点的像素值，以及与第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值；

处理器802，与所述检测器801连接，用于确定所述像素值与所述第一像素值以及所述第二像素值之间的差分值，基于所述差分值与第一预设阈值范围的关系，确定所述第一待检测像素点是否为坏点。

进一步，该电子设备中的检测器801，具体用于确定以所述第一待检测像素点为中心像素点的第一像素点矩阵，在所述第一像素点矩阵中，确定出所述第一待检测像素点对应的第一参考像素点以及第二参考像素点，并获取所述第一参考像素点的第一像素值以及第二参考像素点的第二像素值。

进一步，该电子设备中的处理器802，具体用于获取所述像素值与第一像素值的差值的第一绝对值以及所述像素值与所述第二像素值的差值的第二绝对值，将所述第一绝对值与所述第二绝对值之和作为所述差分值。

进一步，该电子设备中的检测器801，还用于分别获取所述第一待检测像素点对应的八个像素点的像素值；

该电子设备中的处理器802，还用于获取所述像素值分别与八个像素点的像素值中每个像素值的差值的绝对值的和，判定所述绝对值的和是否处于第二预设阈值范围内，若所述绝对值的和未处于所述第二预设阈值范围内时，则确定所述第一待检测点为坏点。

进一步，该电子设备中的检测器801，具体用于确定出以所述第一待检测像素点作为中心像素点的第二像素点矩阵；

该电子设备中的处理器802，具体用于在所述第二像素点矩阵中选取出与所述第一待检测像素点具有相同颜色通道的八个像素点，分别确定八个像素点中每个像素点的像素值。

另外，在本发明实施例中，还提供了一种坏点检测装置，该装置包括：

获取模块，用于获取第一待检测像素点的像素值，以及与所述第一待检测像素点对应的至少两个像素点的第一像素值以及第二像素值；

确定模块，用于确定所述像素值与所述第一像素值以及所述第二像素值之间的差分值；

处理模块，用于基于所述差分值与第一预设阈值范围的关系，确定所述第一待检测像素点是否为坏点。

尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的普通技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。