一种双层防伪标签的制作方法

本发明涉及商品防伪
技术领域：
，尤其涉及一种双层防伪标签。
背景技术：
：目前，防伪已经是商品流通、销售等不可缺少的技术。当前的商品防伪技术方法主要有二维码，激光全息技术，荧光材料，水印纸等。二维码的语义信息易于解读但也易于被复制；激光全息技术，荧光材料，水印纸等方法将主要精力放在防伪材料和复杂的纹理上面，生产成本高、技术复杂且不利于大规模推广。技术实现要素：本发明要解决的技术问题在于针对现有技术中的缺陷，提供一种双层防伪标签。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种双层防伪标签，包括：上层标签和下层标签；所述上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内；所述下层标签的纹理信息为用于SIFT特征提取的纹理信息。按上述方案，所述上层标签的纹理信息为包括商品信息的纹理信息。按上述方案，所述上层标签为二维码标签。按上述方案，所述上层标签中包括的商品信息包括商品名称、商品产地和制造商。按上述方案，所述上层标签的纹理信息包括丰富的灰度梯度特征信息。即可用于sift特征提取的灰度梯度特征信息。按上述方案，所述下层标签的面积大于等于上层标签面积的3倍。本发明的工作原理如下：1)取真实的商品样本和待检测的商品样本记为S1，S2；S1的下层标签记为D1，S2的下层标签记为D2，D1和D2分别贴在商品S1，S2表面；S1的上层标签记为U1，S2的上层标签记为U2。将商品S1的双标签记为T，以T为模板双标签，T＝{U1，D1}，U1以手工或某种机械方式贴在下层标签D1上；商品S2的双标签记为P，P作为待检验的双标签，P＝{U2，D2}，U2也是以手工或某种机械方式贴在下层标签D2上。然后，对双标签T，P拍摄形成两幅图片记为IMG1,IMG2；2)分别读取IMG1,IMG2中上层标签的语义信息，获得商品的信息，也可获得商品的产地、制造商等信息。并进行信息比对，进行第一次防伪判别；3)分别提取IMG1中上下标签D1，U1和IMG2中上下标签D2，U2的SIFT特征点；4)对D1和D2进行SIFT特征配准，取出D1和D2中配准的SIFT特征点集记为f1,f2；以D1作为参照的标准，利用SIFT特征点集f1和f2的位置坐标，构建D2到D1的仿射变换矩阵记为M，M包含旋转，平移，尺度变换因子等参数。此步骤是将D2变换到与D1同一个位置，削弱不同拍摄角度和商品摆放位置带来的干扰。5)对U1和U2进行SIFT特征配准，取出配准的SIFT特征点集f1’,f2’；将U2的SIFT特征点集f2’按照步骤3)计算出的M矩阵进行仿射变换得到特征点集f2”。6)根据f1’和f2”的位置坐标，计算SIFT特征点集f1’和f2”的距离d，d是点集f1’和f2”对应点距离之和。此d反映了商品S2待测双标签P的上层标签U2相对下层标签D2的相对位移信息。7)根据d与给定距离阈值的比较并结合上层标签的语义信息，综合判断待测双标签P是否是真实商品的双标签，进而判定商品S2的合法性。本发明产生的有益效果是：本发明由于采用了双层标签，上下层标签的纹理特征特殊但不复杂且上下层标签的相对几何位置信息不易物理简单重复，避免了引入复杂纹理和复杂材料所带来的高昂成本和复杂技术要求。附图说明下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：图1是本发明实施例的烟盒商品真实双标签图；图2是本发明实施例的烟盒商品待核验双标签图；图3真品商品经过SIFT特征提取后的示意图；图4是待检验商品经过SIFT特征提取后的示意图；图5是本发明实施例的双标签型防伪标签示意图。具体实施方式为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。如图5所示，一种双标签型防伪标签，包括：上层标签和下层标签；所述上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内；所述下层标签的纹理信息为用于SIFT特征提取的纹理信息。其中，所述上层标签的纹理信息为包括商品信息的纹理信息。常用的，所述上层标签为二维码标签，上层标签中包括的商品信息包括商品名称、商品产地和制造商。上层标签的纹理信息包括丰富的灰度梯度特征信息。实施实例，参阅图1,2,3,4本实例提供一种可用于商品防伪的双层标签。图1和图2分别是烟盒商品真实双标签和待核验双标签的图片，其中灰白长条纹理区域代表下层标签，表面纹理主要用作参考背景，其丰富的局部特征信息如灰度梯度等可用于SIFT特征提取；二维码代表上层标签，表面纹理主要包含商品的语义信息。图3和图4中分别是真品和待检验商品经过SIFT特征提取后的图片，红色点为SIFT特征点。本发明使用时，包括以下步骤：取真实的商品样本和待检测的商品样本记为S1，S2；S1的下层标签记为D1，S2的下层标签记为D2，D1和D2分别贴在商品S1，S2表面；S1的上层标签记为U1，S2的上层标签记为U2。将商品S1的双标签记为T，以T为模板双标签，T＝{U1，D1}，U1以手工或某种机械方式贴在下层标签D1上；商品S2的双标签记为P，P作为待检验的双标签，P＝{U2，D2}，U2也是以手工或某种机械方式贴在下层标签D2上。然后，对双标签T，P拍摄形成两幅图片记为IMG1，如图1所示，IMG2如图2所示。分别读取IMG1,IMG2中上层标签的语义信息，获得商品的信息，也可获得商品的产地、制造商等信息。并进行商品信息比对，进行第一次防伪判别；分别提取IMG1中上下标签D1，U1和IMG2中上下标签D2，U2的SIFT特征点。其中，IMG1的下层标签典型SIFT特征点坐标如下表所示：111.5168.44110.6167.28106.6572.35……107.660.35IMG1上层标签典型SIFT特征点坐标如下表所示：112.2270.23113.9665.91103.4480.88109.1873.39……108.2283.04IMG2的下层标签典型SIFT特征点坐标如下表所示：113.9670.41110.2268.23103.4471.88……109.1860.39IMG2上层标签典型SIFT特征点坐标如下表所示：113.8271.31110.1569.24106.4473.01105.8669.25……110.2161.59对D1和D2进行SIFT特征配准，取出D1和D2中配准的SIFT特征点集记为f1,f2；以D1作为参照的标准，利用SIFT特征点集f1和f2的位置坐标，构建D2到D1的仿射变换矩阵记为M，M包含旋转，平移，尺度变换因子等参数。此步骤是将D2变换到与D1同一个位置，削弱不同拍摄角度和商品摆放位置带来的干扰。对U1和U2进行SIFT特征配准，取出配准的SIFT特征点集f1’,f2’；将U2的SIFT特征点集f2’按照3)计算出的M矩阵进行仿射变换得到的特征点集f2’。根据f1’和f2”的位置坐标，计算SIFT特征点集f1’和f2”的距离d，d是点集f1’和f2”对应点距离之和。此d反映了商品S2待测双标签P的上层标签U2相对下层标签D2的相对位移信息。根据d与给定距离阈值的比较并结合上层标签的语义信息，综合判断待测双标签P是否是真实商品的双标签，进而判定商品S2的合法性。根据上述的方法，取50个待检测样本进行防伪测试，设置合适的阈值0.6,真伪识别正确率为达到100％。应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。当前第1页1 2 3