一种像素电路及其驱动方法、显示装置与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种像素电路及其驱动方法、显示装置。

背景技术：

有机电致发光二极管(Organic Light Emitting Diode，简称OLED)具有自发光、对比度高、色域广、制备工艺简单、以及易形成柔性结构等优点，因此，利用有机发光二极管的显示技术已成为一种重要的显示技术。

尤其是主动式矩阵有机电致发光二极管(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，简称AMOLED)，其具有无视角限制、制造成本低、应答速度快、节省功耗，而具有极大的发展潜力。

但是，目前的OLED显示面板，由于在设计以及工艺稳定性等方面的问题，发生亮点的几率非常的大，而亮点问题在许多领域的应用中，容忍度几乎为零。

目前解决亮点的方法主要为通过设备对面板中的亮点进行扫描，在确定亮点位置后通过激光切割的方案关闭像素点。但该方案效率低下且对像素的损伤较高。而且，当像素的尺寸降低到纳米级时，激光修复将无法对像素点进行修复。

技术实现要素：

本发明的实施例提供一种像素电路及其驱动方法、显示装置，可解决亮点不良的问题，且不会对像素造成损伤。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供一种像素电路，包括驱动模块、发光模块、熔断模块和熔断控制模块。

具体的，所述驱动模块，分别连接扫描信号线、数据信号线、第一电压端和熔断模块，用于在所述扫描信号线和所述数据信号线的控制下，将所述第一电压端输入的电压信号转化为驱动电流信号，并输出至所述熔断模块。

所述熔断模块，还连接所述熔断控制模块和所述发光模块，用于在所述熔断控制模块的控制下，使所述发光模块和所述驱动模块的连接断开。

所述熔断控制模块，还连接控制线和接地端，用于在所述控制线输入信号的控制下，使所述驱动模块输出至所述熔断模块的驱动电流信号流向所述接地端，以使所述发光模块和所述驱动模块的连接断开。

所述发光模块，还连接第二电压端，用于在所述第二电压端的控制下，通过所述驱动模块输出的驱动电流信号进行发光。

可选的，所述驱动模块包括第一晶体管、第二晶体管和存储电容；所述第一晶体管的栅极连接所述扫描信号线，第一极连接所述数据信号线，第二极连接所述第二晶体管的栅极；所述第二晶体管的第一极连接所述第一电压端，第二极连接所述熔断模块；所述存储电容的一端连接所述第二晶体管的栅极，另一端连接所述第二晶体管的第二极，或者，另一端连接所述第二晶体管的第一极。

可选的，所述熔断模块包括熔断元件；所述熔断元件的一端连接所述驱动模块，另一端与所述发光模块和所述熔断控制模块均连接。

可选的，所述熔断控制模块包括第三晶体管；所述第三晶体管的栅极连接所述控制线，第一极连接所述熔断模块，第二极连接所述接地端。

可选的，所述发光模块包括发光器件；所述发光器件的阳极连接所述熔断模块，阴极连接所述第二电压端。

基于上述，优选的，所述像素电路还包括控制线信号输入模块，分别连接所述扫描信号线、所述数据信号线、所述控制线和第三电压端，用于在所述扫描信号线输入扫描信号，所述数据信号线输入关闭信号时，向所述控制线输入第一信号，以在所述驱动模块有驱动电流信号输出时，使所述发光模块和所述驱动模块的连接断开。

进一步可选的，所述控制线信号输入模块包括第四晶体管和第五晶体管；所述第四晶体管的栅极连接所述数据信号线，第一极连接所述控制线，第二极连接所述第三电压端；所述第五晶体管的栅极和第一极连接所述扫描信号线，第二极连接所述第四晶体管的第一极；其中，所述第四晶体管的宽长比为所述第五晶体管的宽长比的10倍以上。

第二方面，提供一种显示装置，包括第一方面所述的像素电路。

第三方面，提供一种像素电路的驱动方法，用于驱动第一方面所述的像素电路，所述方法包括：在对所述像素电路进行测试时，扫描信号线输入扫描信号，数据信号线输入关闭信号，控制线输入第一信号，以在驱动模块有驱动电流信号输出时，使发光模块和所述驱动模块的连接断开；在所述像素电路正常工作时，所述扫描信号线输入扫描信号，所述数据信号线输入数据信号，所述控制线输入第二信号，所述驱动模块输出的驱动电流信号驱动所述发光模块发光。

优选的，所述控制线输入第一信号或第二信号，包括：在所述扫描信号线、所述数据信号线和所述第三电压端的控制下，通过控制线信号输入模块向所述控制线输入第一信号或第二信号。

本发明的实施例提供一种像素电路及其驱动方法、显示装置，通过向扫描信号线输入扫描信号，向数据信号线输入关闭信号，向控制线输入第一信号，若所述像素电路存在常亮不良，则驱动模块输出至熔断模块的驱动电流信号流向接地端，发光模块和驱动模块的连接断开，从而可解决常亮不良的问题，否则由于驱动模块没有驱动电流信号输出，发光模块和驱动模块仍然通过熔断模块连接，不影响像素电路的正常工作。其中，当所述像素电路正常工作时，扫描信号线输入扫描信号，数据信号线输入数据信号，控制线输入第二信号，可保证驱动模块输出的驱动电流信号驱动发光模块发光。基于此，可知，本发明实施例在解决常亮不良问题的基础上，不会对像素造成损伤。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图一；

图2为图1所示像素电路的各个模块的一种具体结构示意图一；

图3为图1所示像素电路的各个模块的一种具体结构示意图二；

图4为本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图二；

图5为图4所示像素电路的各个模块的一种具体结构示意图；

图6a-图6d为图5所示的像素电路对应不同情况时的等效电路图；

图7为像素电路正常工作时的时序图；

图8为本发明实施例提供的一种像素电路的驱动方法流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种像素电路，如图1所示，可以包括驱动模块10、发光模块20、熔断模块30和熔断控制模块40。

具体的，驱动模块10，分别连接扫描信号线SL、数据信号线DL、第一电压端V1和熔断模块30，用于在扫描信号线SL和数据信号线DL的控制下，将第一电压端V1输入的电压信号转化为驱动电流信号，并输出至熔断模块30。

熔断模块30，还连接熔断控制模块40和发光模块20，用于在熔断控制模块40的控制下，使发光模块20和驱动模块10的连接断开。

熔断控制模块40，还连接控制线CL和接地端GND，用于在控制线CL输入信号的控制下，使驱动模块10输出至熔断模块30的驱动电流信号流向接地端GND，以使发光模块20和驱动模块10的连接断开。

发光模块20，还连接第二电压端V2，用于在第二电压端V2的控制下，通过驱动模块10输出的驱动电流信号进行发光。

本发明实施例像素电路的工作方式为：当像素电路正常工作时，控制线CL输入的第二信号，保证发光模块20和驱动模块10通过熔断模块30连接，此时，在第二电压端V2的控制下，驱动模块10输出的驱动电流信号通过熔断模块30流向发光模块20，以驱动发光模块20发光。

当像素电路出现常亮不良时，控制线CL输入的第一信号，使驱动模块10输出至熔断模块30的驱动电流信号流向接地端，以使发光模块20和驱动模块10的连接断开。在此情况下，由于驱动模块10输出的电流信号不能流向发光模块20，发光模块20不再发光。

需要说明的是，第一，对于熔断模块30，一旦在熔断控制模块40的控制下，使发光模块20和驱动模块10的连接断开，则发光模块20和驱动模块10不能再恢复连接状态。

第二，第一电压端V1可以连接供电电压端Vref或Vdd。第二电压端V2可以连接低电压端或接地端GND。

本发明实施例提供一种像素电路，通过向扫描信号线SL输入扫描信号，向数据信号线DL输入关闭信号，向控制线CL输入第一信号，若所述像素电路存在常亮不良，则驱动模块10输出至熔断模块30的驱动电流信号流向接地端GND，发光模块20和驱动模块10的连接断开，从而可解决常亮不良的问题，否则由于驱动模块10没有驱动电流信号输出，发光模块20和驱动模块10仍然通过熔断模块30连接，不影响像素电路的正常工作。其中，当所述像素电路正常工作时，扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入数据信号，控制线CL输入第二信号，可保证驱动模块10输出的驱动电流信号驱动发光模块20发光。基于此，可知，本发明实施例在解决常亮不良问题的基础上，不会对像素造成损伤。

如图2和图3所示，驱动模块10可以包括第一晶体管T1、第二晶体管T2和存储电容Cst。

其中，第一晶体管T1的栅极连接扫描信号线SL，第一极连接数据信号线DL，第二极连接第二晶体管T2的栅极。

第二晶体管T2的第一极连接第一电压端V1，第二极连接熔断模块30。

存储电容Cst的一端连接第二晶体管T2的栅极，另一端连接第二晶体管T2的第二极，或者，另一端连接第二晶体管T2的第一极。

此处，第二晶体管T2为驱动晶体管。

需要说明的是，所述驱动模块10还可以包括与第一晶体管T1并联的多个开关晶体管，和/或,还可以包括与第二晶体管T2并联的多个驱动晶体管。上述仅仅是对驱动模块10的举例说明，其它与该驱动模块10功能相同的结构在此不再一一赘述，但都应当属于本发明的保护范围。

如图2和图3所示，熔断模块30可以包括熔断元件FU。熔断元件FU可以包括保险丝或保险管等，通过电压变化实现熔断功能的元件。

其中，熔断元件FU的一端连接驱动模块10，另一端与发光模块20和熔断控制模块40均连接。当驱动模块10为上述结构时，熔断元件FU的一端连接第二晶体管T2的第二极。

需要说明的是，上述仅仅是对熔断模块30的举例说明，其它与该熔断模块30功能相同的结构在此不再一一赘述，但都应当属于本发明的保护范围。

如图2和图3所示，熔断控制模块40可以包括第三晶体管T3。

其中，第三晶体管T3的栅极连接控制线CL，第一极连接熔断模块30，第二极连接接地端GND。当熔断模块30为上述结构时，第三晶体管T3的第一极连接熔断元件的另一端。

需要说明的是，所述熔断控制模块40还可以包括与第三晶体管T3并联的多个开关晶体管。上述仅仅是对熔断控制模块40的举例说明，其它与该熔断控制模块40功能相同的结构在此不再一一赘述，但都应当属于本发明的保护范围。

发光模块20包括发光器件。图2和图3中以发光模块20为OLED(Organic Light Emitting Diode，有机发光二极管)进行示意。

其中，发光器件的阳极连接熔断模块30，阴极连接第二电压端V2。当熔断模块30为上述结构时，发光器件的阳极连接熔断元件FU的另一端。

需要说明的是，发光器件并不限于OLED，还可以是包括LED(Light Emitting Diode，发光二极管)在内的多种电流驱动发光器件。

基于上述，如图4所示，所述像素电路还包括控制线信号输入模块50，分别连接扫描信号线SL、数据信号线DL、控制线CL和第三电压端V3，用于在扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入关闭信号时，向控制线CL输入第一信号，以在驱动模块10有驱动电流信号输出时，使发光模块20和驱动模块10的连接断开。

即：当扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入关闭信号时，若存在常亮不良，则驱动模块10输出驱动电流信号。在此情况下，在扫描信号线SL输入扫描信号、数据信号线DL输入关闭信号、以及第三电压端V3的控制下，控制线信号输入模块50向控制线CL输入第一信号，以使驱动模块10输出的驱动电流信号流向接地端GND，从而使发光模块20和驱动模块10的连接断开，发光模块20不再发光。当扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入关闭信号时，若不存在常亮不良，虽然控制线信号输入模块50向控制线CL输入第一信号，但由于驱动模块10没有驱动输出电流信号，对熔断模块30无影响，发光模块20和驱动模块10仍然通过熔断模块30连接。

在扫描信号线SL输入扫描信号、数据信号线DL输入数据信号、以及第三电压端V3的控制下，通过控制线信号输入模块50向控制线CL输入第二信号，可保证驱动模块10输出的电流信号驱动发光模块20发光。

本发明实施例通过在像素电路中设置控制线信号输入模块50，并使其与控制线CL、扫描信号线SL、数据信号线DL、第三电压端V3连接，可实现在扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入关闭信号时，向控制线CL输入第一信号，在此情况下，若存在常亮不良，则驱动模块10输出的驱动电流信号流向接地端GND，达到使发光模块20和驱动模块10自动断开的目的，而若不存在常亮不良，则由于驱动模块10没有驱动电流信号输出，对熔断模块30无影响；在扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入数据信号时，通过向控制线CL输入第二信号，可保证像素电路的正常工作。其中，当扫描信号线SL输入关闭信号时，不管向控制线CL输入第一信号或是第二信号，由于驱动模块10没有输出电流，对熔断模块30无影响。

进一步的，如图5所示，控制线信号输入模块50包括第四晶体管T4和第五晶体管T5。

第四晶体管T4的栅极连接数据信号线DL，第一极连接控制线CL，第二极连接第三电压端V3。

第五晶体管T5的栅极和第一极连接扫描信号线SL，第二极连接第四晶体管T4的第一极。

其中，第四晶体管T4的宽长比为第五晶体管T5的宽长比的10倍以上。

具体的，当扫描信号线SL输入扫描信号、数据信号线DL输入数据信号时，第四晶体管T4和第五晶体管T5导通，此时由于第四晶体管T4的宽长比为第五晶体管T5的宽长比的10倍以上，因此，第五晶体管T5的电阻大于第四晶体管的电阻；在第三电压端V3的控制下，可使控制线信号输入模块50向控制线CL输入第二信号，以使得对熔断模块30无影响，驱动模块10输出的驱动电流信号，通过熔断模块30流向发光模块20。

当扫描信号线SL输入扫描信号、数据信号线DL输入关闭信号时，第四晶体管T4截止，第五晶体管T5导通，控制线信号输入模块50向控制线CL输入第一信号。其中，若像素电路正常工作，则由于数据信号线DL输入关闭信号，驱动模块10不输出驱动电流信号，因而对熔断模块30无影响；若像素电路存在常亮不良，则驱动模块10会输出驱动电流信号，驱动模块10输出的驱动电流信号会流向接地端GND，以使发光模块20和驱动模块10的连接断开，从而使得驱动模块10输出的驱动电流信号则不能流向发光模块20，发光模块20不再发光。

当扫描信号线SL输入关闭信号时，数据信号线DL输入数据信号时，第四晶体管T4导通，第五晶体管T5截止，在第三电压端V3的控制下，控制线信号输入模块50向控制线CL输入第二信号，对熔断模块30无影响。

需要说明的是，第一，当第四晶体管T4和第五晶体管T5均为P型晶体管时，第三电压端则为高电压端，第一信号为低电压信号，第二信号为高电压信号。基于此，当熔断控制模块40包括第三晶体管T3时，第三晶体管T3也为P型晶体管。

当第四晶体管T4和第五晶体管T5均为N型晶体管时，第三电压端则为低电压端，第一信号为高电压信号，第二信号为低电压信号。基于此，当熔断控制模块40包括第三晶体管T3时，第三晶体管T3也为N型晶体管。

其中，当驱动模块10包括第一晶体管T1和第二晶体管T2时，则第一晶体管T1和第二晶体管T2的类型与第四晶体管T4和第五晶体管T5的类型一致。

第二，所述控制线信号输入模块50还可以包括多个并联的第四晶体管T4，包括多个并联的第五晶体管T5。上述仅仅是对控制线信号输入模块50的举例说明，其它与该控制线信号输入模块50功能相同的结构在此不再一一赘述，但都应当属于本发明的保护范围。

基于上述对各模块具体电路的描述，当图5中的所有晶体管均为P型晶体管，且第三电压端V3为高电压端时，对如图5所示的像素电路的工作过程进行详细的描述。其中，本发明实施例提供的等效电路图中，处于截止状态的晶体管以打“×”表示，处于熔断状态的熔断元件FU以打“×”表示。

结合如图7所示的时序，当扫描信号线SL输入扫描信号、数据信号线DL输入数据信号时，如图6a所示，第一晶体管T1、第二晶体管T2导通，第二晶体管T2输出驱动电流信号；同时，第四晶体管T4、第五晶体管T5导通，向控制线CL输入高电压信号(即第二信号)，第三晶体管T3截止，第二晶体管T2输出的驱动电流信号通过熔断元件FU流向发光器件，发光器件发光。

当扫描信号线SL输入扫描信号、数据信号线DL输入关闭信号时，若第二晶体管T2正常，则如图6b所示，第一晶体管T1导通、第二晶体管T2截止，第二晶体管T2无驱动电流信号输出；同时，第五晶体管T5导通、第四晶体管T4截止，向控制线CL输入低电压信号(即第一信号)，第三晶体管T3导通，但由于第二晶体管T2无驱动电流信号输出，熔断元件FU两端的电压无变化，熔断元件FU不熔断。

当扫描信号线SL输入扫描信号、数据信号线DL输入关闭信号时，若第二晶体管T2由于设计以及工艺稳定性等原因导致近似常开，则如图6c所示，第一晶体管T1导通，第二晶体管T2有驱动电流信号输出；同时，第五晶体管T5导通、第四晶体管T4截止，向控制线CL输入低电压信号，第三晶体管T3导通，使第二晶体管T2输出的驱动电流信号流向接地端GND，此时由于熔断元件FU两端的电压发生变化，使得熔断元件FU熔断，从而使发光器件关闭。

当扫描信号线SL输入关闭信号、数据信号线DL输入数据信号时，如图6d所示，第一晶体管T1、第一晶体管T2、第三晶体管T3、第五晶体管T5均截止，对熔断元件FU无影响。

需要说明的是，本发明对除了第二晶体管T2，即驱动晶体管以外的晶体管的第一极、第二极不做限定，第一极可以是漏极，第二极可以是源极；或者第一极可以是源极，第二极可以是漏极。当驱动晶体管为P型晶体管时，由于P型晶体管的源极电压高于漏极电压，因此，驱动晶体管的第一极为源极，第二极为漏极。当驱动晶体管为N型晶体管时，与P型晶体管正好相反。

本发明实施例还提供一种显示装置，包括上所述的任意一种像素电路。

考虑到硅基OLED显示装置，其分辨率较高，容易出现像素常亮不良，因此，优选所述显示装置为OLED显示装置。

本发明实施例的显示装置具有与本发明前述实施例提供的像素电路相同的有益效果，由于像素电路在前述实施例中已经进行了详细说明，此处不再赘述。

本发明实施例还通过一种像素电路的驱动方法，用于驱动如上所述的任意一种像素电路，如图8所示，所述方法包括：

S10、在对所述像素电路进行测试时，扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入关闭信号，控制线CL输入第一信号，以在驱动模块10有驱动电流信号输出时，使发光模块20和驱动模块10的连接断开。

此处，若所述像素电路存在常亮不良，则驱动模块10输出至熔断模块30的驱动电流信号流向接地端GND，发光模块20和驱动模块10的连接断开；否则，即使控制线CL输入第一信号，也由于驱动模块10没有驱动电流信号输出，发光模块20和驱动模块10仍然通过熔断模块30连接。

S20、在所述像素电路正常工作时，扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入数据信号，控制线CL输入第二信号，驱动模块10输出的驱动电流信号驱动发光模块20发光。

本发明实施例提供一种像素电路的驱动方法，通过向扫描信号线SL输入扫描信号，向数据信号线DL输入关闭信号，向控制线CL输入第一信号，若所述像素电路存在常亮不良，则驱动模块10输出至熔断模块30的驱动电流信号流向接地端GND，发光模块20和驱动模块10的连接断开，从而可解决常亮不良的问题，否则由于驱动模块10没有驱动电流信号输出，发光模块20和驱动模块10仍然通过熔断模块30连接，不影响像素电路的正常工作。其中，当所述像素电路正常工作时，扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入数据信号，控制线CL输入第二信号，可保证驱动模块10输出的驱动电流信号驱动发光模块20发光。基于此，可知，本发明实施例在解决常亮不良问题的基础上，不会对像素造成损伤。

优选的，所述控制线CL输入第一信号或第二信号，包括：在扫描信号线SL、数据信号线DL和第三电压端V3的控制下，通过控制线信号输入模块50向所述控制线CL输入第一信号或第二信号。

这样，当扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入关闭信号时，可在第三电压端V3的控制下，自动输出第一信号，而在扫描信号线SL输入扫描信号，数据信号线DL输入数据信号时，可自动输出第二信号，因而可简化所述像素电路。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。