一种像素矩阵的外围补偿系统、方法和显示系统的制作方法_3

文档序号:9305339阅读:来源:国知局
101的老化程度。
[0063] 当模拟校正信号为一固定电压信号与数字校正补偿信号相结合而形成的信号时, 像素单元101会反馈一个预期的信号(电压或电流)。校正信号产生模块302有几种实现 方式,以下试举两种:
[0064] 请参考图8 (a),是校正信号产生模块302的一种实现方式,此时其产生的模拟校 正信号为一固定电压信号与数字校正补偿信号相结合而形成的信号。校正信号产生模块 302包括第三数模转换模块321 ;第三数模转换模块321分别输入数字校正补偿信号和参考 电压,经处理后输出模拟校正信号,其中参考电压为一设定的固定电压。因此当模拟校正信 号为一固定电压信号与数字校正补偿信号相结合而形成的信号时,此模拟校正信号实际上 也就是上述固定电压信号经过数字校正补偿信号的补偿后而形成的一个信号。
[0065] 请参考图8(b),是校正信号产生模块302的另一种实现方式,此时其产生的模拟 校正信号为一固定电压信号与数字校正补偿信号相结合而形成的信号。校正信号产生模块 302包括第三数模转换模块321和第二模拟加法模块322 ;第三数模转换模块321输入数字 校正补偿信号,经处理后输出模拟校正补偿信号给第二模拟加法模块322,第二模拟加法模 块322还输入一固定电压信号,第二模拟加法模块322将模拟校正补偿信号与固定电压信 号进行加法运算后输出模拟校正信号。
[0066] 补偿信号检测模块303的输入端与反馈信号线相连,输出端连到第四移位暂存器 307的输入端,第四移位暂存器307的输出端与补偿器400相连。补偿信号检测模块303 当某行像素单元101被反馈地址信号选通时,接收此行像素单元101发出的反馈信号,从反 馈信号中得出老化信息,并用该老化信息更新补偿信息存储模块402存储的此行像素单元 101的补偿信息。补偿信号检测模块303可以通过模拟电流比较模块、模拟电压比较模块 或模数转换模块这三者中的任一者来实现。情况一,例如当补偿信号检测模块303用模拟 电流比较模块来实现时,校正操作时模拟校正信号是经过补偿的固定电压,不妨令像素单 元101是图7(a)所示的电路结构,像素单元会反馈一个预期的反馈信号,补偿信号检测模 块303将接收到的反馈信号(电流)与一预期信号(参考电流)比较来判断像素单元101 的老化程度(驱动晶体管Q1老化程度)是否发生变化,并将结果通过第四移位暂存器307 输出到补偿器400以更新补偿信息存储模块402中存储的补偿信息。图7(a)的电路结构 令从像素单元101反馈到补偿信号检测模块303的电流只流经像素单元101的驱动晶体管 Q1,那反馈信号(电流)就只能反映驱动晶体管的老化程度;如果像素单元101是其他电路 结构而该结构可以令反馈信号(电流)流经驱动晶体管Q1和有机发光二极管0LED,那么 反馈信号(电流)就同时反映了驱动晶体管Q1和有极发光二极管0LED的综合老化程度。 情况2,当补偿信号检测模块303用模拟电压比较模块来实现时,不妨令像素单元101是图 7(a)所示的电路结构,可以先从校正信号线写入信号截止导通驱动晶体管Q1,补偿信号检 测模块303还包括参考电流产生模块(无图),其产生一固定电流通过反馈信号线流入反馈 地址信号线所选通的像素单元101,让固定电流流经有机发光二极管0LED后再检测反馈信 号线上的电压,来计算有机发光二极管0LED的老化程度。情况3,当补偿信号检测模块303 用模数转换模块实现时,不妨令像素单元101是图7(a)所示的电路结构,如果写入像素单 元101的模拟校正信号是没有经过补偿的固定电压,校正操作时,补偿信号检测模块303将 接收到的为电流信号或电压信号的反馈信号通过模数转换之后得到像素单元101的老化 信息,再经第四移位暂存器307输出给补偿器400以更新补偿信息存储模块402中存储的 补偿信息。补偿信号检测模块303的实现方式除了以上3种情况,也可以是按实际需要混 合搭配电流比较模块、电压比较模块或模数转换模块等。
[0067] 行扫描驱动器200,在实施例一的基础上,还用于按照设定的时序通过校正地址线 向像素矩阵1〇〇发送校正地址信号以在一帧或多帧时间内按照设定顺序选通各行像素单 元101 ;当某行像素单元101被校正地址信号选通时,该行像素单元101通过校正信号线 接收相对应的模拟校正信号,在模拟校正信号驱动该行像素单元101产生的反馈信号消失 前,行扫描驱动器200通过反馈地址线向像素矩阵100发送反馈地址信号以选通此行像素 单元101将其产生的反馈信号发出给列驱动器300,具体地,发送列驱动器300的补偿信号 检测模块303,其中反馈信号包含该行像素单元101的老化信息。
[0068] 本实施例的补偿器400用于接收补偿信号检测模块303的检测结果,并根据该结 果更新其存储的补偿信息;当某行像素单元101被显示地址信号选通时,补偿器400取出其 存储的此行像素单元101的补偿信息并根据该补偿信息计算一补偿信号(数字显示补偿信 号或数字校正补偿信号)或不经计算直接将储存的补偿信号经第二移位暂存器305发送给 列驱动器300的显示信号产生模块301,列驱动器300的显示信号产生模块301接收此补偿 信号后将其与数字原始显示信号相结合以形成模拟显示信号;当某行像素单元101被校正 地址选通时,补偿器400取出其存储的此行像素单元101的补偿信息并根据该补偿信息计 算一数字校正补偿信号或不经计算直接将储存的数字校正补偿信号经第三移位暂存器306 发送给列驱动器300的校正信号产生模块302,列驱动器300的校正信号产生模块302接收 此数字校正补偿信号后将其与固定电压相结合以形成模拟校正信号。
[0069] 相应地,本实施例还公开了一种像素矩阵的外围补偿系统的方法,包括以下步 骤:
[0070] 每行像素单元101依次进行显示操作,其中第n行像素单元101在tn时进行显示 操作:此行像素单元101被显示地址信号选通,接收模拟显示信号,其中n为小于或等于N 的正整数;
[0071] 在^时,第i行像素单元101进行显示操作,若此时外围补偿系统不是处于反馈 检测状态,则^时,第i+k行像素单元101进行校正操作:此行像素单元101被写入模拟校 正信号;第丨1+1到t1+ki时间内,外围补偿系统进入反馈检测状态:将第i+k行像素单元101 中包含老化信息的反馈信号反馈至补偿信号检测摸块303;其中i和k都为正整数,且i+k 小于或等于N。
[0072] 另外,第t1+1到t1+k丨时间内:
[0073] 第i+1行到第i+k-1行的像素单元101如常进行显示操作,被写入模拟显示信号;
[0074] 第i+1+k行到第i+k-1+k行的像素单元101被写入模拟校正信号,所述模拟校 正信号不用于驱动像素单元101产生一包含老化信息的反馈信号;或者第i+1+k行到第 i+k-1+k行的像素单元101不写入模拟校正信号。
[0075] 需要说明的是,可以将一帧时间依据像素单元101的行数而划分成若干相等的行 时间ti~tN。当t的下标为负数时,表明此时其代表的时间位于为此帧与前帧之间的空白 时段内,比如若某帧的第1个行时间为,则ti、t2、t3代表的时间位于此帧与前帧的空白 时段内,且分别比超前1、2、3个行时间;当t的下标大于N时,表示此时其代表的时间位 于此帧与后帧之间的空白时间,比如若某帧的第N个行时间(最后1个行时间)为、,则 tN+1、tN+2、tN+3代表的时间位于此帧与后帧的空白时段内,且分别比tN滞后1、2、3个行时间。
[0076] 下面结合图9进一步说明。
[0077]图9(a)、(b)和(c)是本实施例外围补偿系统的一种时序图,其中图9(a)所示的 时序图为显示操作的时序图,图9(b)和(c)所示的时序为校正操作的时序图。需要说明的 是,图中C表示是模拟校正信号,C后面加上序号后,表示的是此序号行的像素单元101的 模拟校正信号,比如C1表示的是第1行的像素单元101的模拟校正信号,同样,F表示的是 反馈信号,F后面加上序号后,表示的是此序号行的像素单元101的反馈信号,比如F1表示 的是第1行的像素单元101的反馈信号;图9(a)、(b)和(C)中不妨令N= 768,M= 1024。
[0078] 如图9(a)所示,本实施例的显示操作部分是和实施例1的显示操作部分是一样 的。行扫描驱动器200在一帧的时间内依次逐行选通像素单元101,每选通一行的像素单 元101,列驱动器300的显示信号产生模块301就会产生一补偿过的模拟显示信号给显示 信号线,以将模拟显示信号写入被选通此行的像素单元101。当最后一行像素单元101完 成显示操作后,会有一段帧与帧之间的空白时间,之后又到了下一帧的第一行像素单元101 开始进行显示操作。
[0079] 由于本实施例的显示地址线,校正地址线和反馈地址线是各自独立的;显示信号 线,校正信号线和反馈信号线也是各自独立的,如图6所示。这样的话,校正操作也是可以 与显示操作独立分开进行。图9(b)所示的校正操作部分记载了校正地址线和校正信号线 的波形。若外围补偿系统对第i行的像素单元101进行显示操作,如果此刻外围补偿系统 处于反馈检测状态,则第i+k行的像素单元101就不会做任何校正操作,否则的话,外围补 偿系统会对第i+k行的像素单元进行校正操作,在i+1行至i+k-1行的时间里做反馈检测, 外围补偿系统会在期间处于反馈检测状态,其中i、k均为正整数,且i+k小于或等于N。
[0080] 图9 (a)、(b)和(c)为k= 3的情况。这时校正操作包括以下步骤,首先先通过 行扫描驱动器200的校正地址线选通第i+3行的像素单元101,列驱动器300的校正信号 产生模块302就会发出第i+3行像素单元101相对应的模拟校正信号到与之相连的校正信 号线,当行扫描驱动器200通过校正地址线截止选通第i+3行的像素单元101时,外围补偿 系统随即进入反馈检测状态,行扫描驱动器200通过反馈地址线选通第i+3行的像素单元 101,第i+3行的像素单元101开始反馈反馈信号到反馈信号线,列驱动器300的补偿信号 检测模块303接受和检测反馈信号,检测结果会在反馈检测状态结束之前并行存入第四移 位暂存器307,再一个个串行传给补偿器400更新补偿信息储存模块402中的补偿信息。存 储到补偿信息储存模块402的补偿信息可以在储存之前经信号处理之后再存到补偿信息 储存模块402,或者在从补偿信息储存模块402中读取补偿信息时再做信号处理,处理完之 后再转递给显示信号产生模块301或校正信号产生模块302。其中一个补偿信号处理是从 整个帧的检测结果里计算出参考补偿信息值,再把每个像素单元101的相对补偿信息存入 补偿信息储存模块402。采用参考补偿信息值的一个目的是尽可能的让储存在补偿信息储 存模块402的相对补偿信息不会溢出。
[0081] 由于校正操作总是在显示操作后k行的位置,也就是第i行像素单元101在做显 示操作的时候,同时第i+k行像素单元101则在做校正操作。当显示操作进行到第i+k行 的时候,之前写入像素单元101的模拟校正信号就会被写入第i+k行的像素单元101的模 拟显示信号覆盖。由于模拟校正信号只存在很短的k行时间,是不会对正常的显示造成明 显的影响。尤其可以选择在反馈检测状态时不让有机发光二级管0LED发光,具体的做法是 在反馈信号线上赋予一个电压值低于有机发光二级管0LED的阈值电压。
[0082] 图9(a)、(b)和(c)所示,k= 3时,第1行像素单元101的校正操作是在第1行 的模拟显示信号来之前3行的时间,也就是如图9所示在第13行时间,在tjPt:的时间 做反馈检测。第t3行时间,第t2行时
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