专利名称：一种带有综合定位参照系统的放大镜的制作方法
技术领域：
本实用新型属于物理领域的光学产品，具体地说涉及一种带有综合定位参照系统的放大镜。
现有的普通放大镜，只具有对观察样本进行放大观察的功能，无法实现定量观测的目的，这种缺陷表现在对两个以上的观察样本进行对比观察时，只能停留在定性对比的水平上，用来区分两个样本是否为同一性质的物体。当需要比较鉴别肉眼识别差距很小的样本时，这种普通的放大镜就无能为力了。为了达到精确识别的目的，有的放大镜刻有带长度标刻，这样对于长度尺寸可以进行量化对比，这种放大镜的标刻是刻在放大镜上的，制作复杂，同时对样本的角度和弧度无法进行量化对比，鉴别率无法提高，应用范围受到限制。
本实用新型的目的就是为了解决上述问题，而提供一种带有综合定位参照系统的放大镜。
一种带有综合定位参照系统的放大镜，其特征在于由放大镜和带有长度、角度、弧度参照系的覆膜组成，覆膜粘贴在放大镜的底部。
由于本实用新型的放大镜底部带有长度、角度、弧度参照系，因此在使用时可以对两个样本的长度尺寸以及角度、弧度进行量化对比，提高了鉴别率，应用范围广泛。
图1为本实用新型的结构剖面图；图2是带有长度、角度、弧度的覆膜。
以下结合
。
1是放大镜，2是覆膜。
一种带有综合定位参照系统的放大镜，其特征在于由放大镜和带有长度、角度、弧度参照系的覆膜组成，覆膜粘贴在放大镜的底部。
本实用新型在底部贴膜，还可以防止放大镜在使用时磨花，保证鉴别效果。
权利要求一种带有综合定位参照系统的放大镜，其特征在于由放大镜和带有长度、角度、弧度参照系的覆膜组成，覆膜粘贴在放大镜的底部。
专利摘要一种带有综合定位参照系统的放大镜,其特征在于由放大镜和带有长度、角度、弧度参照系的覆膜组成,覆膜粘贴在放大镜的底部。由于本实用新型的放大镜底部带有长度、角度、弧度参照系,因此在使用时可以对两个样本的长度尺寸以及角度、弧度进行量化对比,提高了鉴别率,应用范围广泛。本实用新型在底部贴膜,还可以防止放大镜在使用时磨花,保证鉴别效果。
文档编号G02B25/00GK2444248SQ0023935
公开日2001年8月22日 申请日期2000年8月30日 优先权日2000年8月30日
发明者徐颖辉 申请人:徐颖辉