万向比对显微镜的制作方法

文档序号:2753921阅读:364来源:国知局
专利名称:万向比对显微镜的制作方法
技术领域
本实用新型涉及显微镜,更具体地说是一种特种显微镜---比对显微镜。
背景技术
比对显微镜是公、检、法等部门刑事侦查、司法鉴定中痕迹检验、文件检验常规使用的仪器。但是,在对痕检、文检中的旋切痕迹、印章印文、有曲线图案的印制痕迹进行比对时,现有技术中的比对显微镜就暴露出其只能左右平移对接,而不能在任意方向上进行对接的缺憾。

发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是避免上述现有技术中所存在的不足之处,提供一种能任意方向划像对接、重影比较的万向比对显微镜。
本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是本实用新型由载物台、照明光源和比对显微光学系统构成。
本实用新型的结构特点是,设置左右光栏联动机构,其联动方式包括,左右光栏以合像棱镜入射光轴为中心,在垂直于该入射光轴的平面内的转动,以及在其转动平面内的径向移动。
本实用新型中左右光栏的径向移动使其对左右视场遮挡不同,以此可实现重影、划像对接、左右单视场观察的功能。同时,由于光栏可以在以合像棱镜入射光轴为中心、垂直于该入射光轴的平面内作转动,当将左右光栏锁定在不同的转动角度上,便具有了不同的划像角度。从而可实现不同方向的划像对接。
与已有技术相比,本实用新型划像方式多样,功能扩大,实用性增强;仪器操作更为方便、舒适;可简化现有比对显微镜结构,去掉半五棱镜及几只转向棱镜、反射镜,降低了比对显微镜制造成本。本实用新型尤其对于痕检、文检中的旋切痕迹、印章印文、有曲线图案的印制痕迹进行比对,可极大地提高比对工作的可靠性。
图面说明


图1为本实用新型光路示意图。
图2为本实用新型光栏联动机构结构示意图。
图3为图2侧视图。
图4为本实用新型双目头倾角可调结构示意图。
具体实施方式
参见
图1,本实施例由载物台、照明光源和比对显微光学系统构成。整个比对显微镜光路分成左右两条光线由左右光源1照射在物体(检材或样本)2上,经左右物镜3显微后由左右反射镜4折射再通过左右光栏5、6和场镜7入射到合像棱镜8合像,经中央透镜9双目头10,最后在目镜11焦平面内成像。
本实施例中,设置左右光栏5、6的联动机构,其联动方式包括,左右光栏5、6以合像棱镜入射光轴12为中心,在垂直于该入射光轴12的平面内的转动,以及在该转动平面内的径向移动。
参见图2、图3,本实施例中,联动机构是以跨接在两侧场镜7之间的桥体14为基座,针对左右光栏对称设置以合像棱镜入射光轴12为中心、可在垂直于该入射光轴12的平面内转动的左右转盘13,转盘13上设置径向滑道,光栏5、6通过滑块17嵌设在转盘13的径向滑道内,如图中所示的相配合的滑块及滑道为燕尾形。为了实现联动,在左右两只转盘13的外周设置可共同带动左右转盘13转动、并可进行自转的转盘驱动杆15,在转盘驱动杆15与光栏5、6间之间,设置可使光栏5、6通过滑块17在转盘径向滑道中滑动的齿轮齿条传动机构,其中,齿轮16固联在驱动杆15上,齿条与滑块17为一体。
以上结构中,驱动杆15的自转通过齿轮齿条传动机构使左右光栏5、6在滑道中作相同方向的移动,此时,可进行重影、对接、左右单视场三重观察。当需要左右(水平)划像对接,驱动杆15在0度位置自转;需要斜向划像时,驱动杆15带动转盘13以光轴12为中心转动,并锁定在45度或135度位置后自转;需垂直划像时,同样以驱动杆15带动转盘13以光轴12为中心进行转动,并锁定在90度位置后自转。其锁定功能以驱动杆15上的锁紧螺母18来实现。同样的操作方式,本实用新型可得到所需的任意划像角度。
参见图4,由于显微镜观察者高低不同,他们目视观察高度也不同。为了实现双目头倾角可调,本实施例中的合像棱镜8、中央透镜9及双目头10为集装结构,以其集装基座19铰接在桥体14上,目视倾角可通过调其铰接角度得到调节。
权利要求1.万向比对显微镜,由载物台、照明光源和比对显微光学系统构成,其特征是设置左右光栏(5、6)的联动机构,其联动方式包括,左右光栏(5、6)以合像棱镜入射光轴(12)为中心、在垂直于该入射光轴(12)的平面内的转动,以及在该转动平面内的径向移动。
2.根据权利要求1所述的万向比对显微镜,其特征是所述联动机构以跨接在两侧场镜(7)之间的桥体(14)为基座,针对左右光栏(5、6),对称设置以合像棱镜入射光轴(12)为中心、可在垂直于该入射光轴(12)的平面内转动的左右转盘(13),转盘(13)上设置径向滑道,光栏(5、6)通过滑块(17)嵌设在该径向滑道内。
3.根据权利要求1所述的万向比对显微镜,其特征是在所述转盘(13)的外周设置可共同带动左右转盘(13)转动,并可自转的转盘驱动杆(15),在转盘驱动杆(15)与光栏(5、6)间之间设置可使光栏(5、6)在其滑道中径向滑动的齿轮齿条传动机构。
4.根据权利要求1或2或3所述的万向比对显微镜,其特征是所述光学系统中的合像棱镜(8)、中央透镜(9)及双目头(10)为集装结构,以其集装基座(19)铰接在桥体(14)上,目视倾角可调。
专利摘要万向比对显微镜,由载物台、照明光源和比对显微光学系统构成,其特征是设置左右光栏联动机构,其联动方式包括,左右光栏以合像棱镜入射光轴为中心,在垂直于该入射光轴的平面内的转动,以及在该转动平面内的径向移动。本实用新型划像方式多样,功能扩大,实用性增强;可简化现有比对显微镜结构,降低制造成本。尤其对于痕检、文检中的旋切痕迹、印章印文、有曲线图案的印制痕迹进行比对,可极大地提高比对工作的可靠性。
文档编号G02B21/18GK2578849SQ0226441
公开日2003年10月8日 申请日期2002年9月14日 优先权日2002年9月14日
发明者刘荣和 申请人:芜湖市皖江光电仪器有限责任公司
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