一种面板缺陷位置的偏移补偿方法、装置及系统与流程

本发明涉及面板检测领域，具体涉及一种面板缺陷位置的偏移补偿方法及装置。

背景技术：

近年来，显示技术快速发展，对显示面板的要求也越来越高。然而，现有的显示面板的制造技术，无法完全避免显示缺陷的发生，因此在面板的生成过程中，对面板缺陷的检测至关重要。对于存在缺陷的面板，为了避免浪费、节约资源，不是将存在缺陷的面板全部淘汰，而是采用修补设备对存在缺陷的面板产品进行修补，从而有效挽救产品的良率。

修补设备的修补成功率及修补效率是面板生产过程中的关键因素，在实际使用修补设备的过程中，上游设备传过来的缺陷坐标信息与修补设备坐标系存在一定偏差，作业人员需要人工检查后才能找到需要实施修补的缺陷位置，然后再进行修补，这种方式不仅需要花费较多的时间，人工检查也容易导致定位不准确的缺陷，因此使得修补设备的产能低下。

技术实现要素：

因此，本发明要解决的技术问题在于现有技术的面板修补过程中上游设备和修补设备的坐标存在误差。

为此，本发明提供一种面板缺陷位置的偏移补偿方法，包括如下步骤：获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标；将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件；将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件；当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值；根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。

优选地，当所述第一对比结果不满足第一条件时，则对自动光学检测设备进行故障排查。

优选地，当所述第二对比结果不满足第二条件时，则对修补设备进行故障排查。

优选地，根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿的步骤，包括：将所述坐标偏差值写入到所述自动光学检测设备的DFS文件中。

优选地，所述总间距测量设备为TP设备。

此外，本发明还提供一种面板缺陷位置的偏移补偿装置，包括：坐标获取单元，用于获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标；第一比较单元，用于将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件；第二比较单元，用于将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件；缺陷坐标计算单元，用于当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值；补偿单元，用于根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。

优选地，还包括第一故障排查单元，用于当所述第一对比结果不满足第一条件时，则对自动光学检测设备进行故障排查。

优选地，还包括第二故障排查单元，用于当所述第二对比结果不满足第二条件时，则对修补设备进行故障排查。

优选地，所述补偿单元包括补偿子单元，用于将所述坐标偏差值写入到所述自动光学检测设备的DFS文件中。

此外，本发明还提供一种面板缺陷位置的偏移补偿系统，包括总间距测量设备，用于识别第一缺陷坐标；自动光学检测设备，用于识别第二缺陷坐标；修补设备，用于识别第三缺陷坐标；所述的偏移补偿装置，与所述获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别连接，用于对面板缺陷位置进行补偿。

本发明技术方案，具有如下优点：

本发明提供的面板缺陷位置的偏移补偿方法，首先获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标，然后将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比，将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比，均满足条件时，即第一对比结果小于预设的第一阈值，第二对比结果小于预设的第二阈值时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值，根据该坐标偏差值进行补偿，其中第一阈值和第二阈值根据AOI设备和修补设备的允许误差合理设置，该方案可以及时修正上游设备及修补设备坐标偏差，避免了人工查找带来的缺陷，提高了面板缺陷位置定位的准确性，提高了补偿的及时性，从而提高了面板修补的产能。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例1中面板缺陷位置的偏移补偿方法的一个具体示例的流程图；

图2为本发明实施例2中面板缺陷位置的偏移补偿装置的一个具体示例的结构框图；

图3为本发明实施例3中面板缺陷位置的偏移补偿系统的一个具体示例的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

实施例1

本实施例中提供一种面板缺陷位置的偏移补偿方法，用于修正面板缺陷位置的坐标，该方法可以设置在CIM系统中，CIM全称为Computer Integrated Manufacturing,即计算机集成制造系统，是指在所有与生产有关企业部门中集成地用电子数据处理的系统，该面板缺陷位置的偏移补偿方法包括如下步骤：

S1、获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标。

总间距测量设备，简称TP设备是用于测量阵列图形形变量的设备，其中TP是Total Pitch的缩写，Total Pitch是指在面板制造工序中产生的、玻璃基板上两点之间距离的变化。TP设备可以测量上述Total Pitch，TP设备的测量精度比较高，使用TP设备获得的缺陷位置的坐标作为第一缺陷坐标。自动光学检测设备(AOI设备)是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备，也可以得到一个缺陷坐标，作为第二缺陷坐标。修补设备(Repair设备)是用于进行修补校正的设备，也对应一个缺陷坐标，作为第三缺陷坐标。

S2、将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件，第一条件为第一对比结果是否小于预设的第一阈值Spec1，如果不小于执行S6，如果满足该条件(即第一对比结果小于预设的第一阈值)且满足S3的条件时执行S4。此处的第一阈值Spec1是预先设定的一个数值，第一缺陷坐标是准确度比较高的一个值，如果第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标的差别比较大，说明自动光学检测设备存在问题，导致第二缺陷坐标的误差较大，此时无法进行缺陷位置补偿，第一阈值根据第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标的合理误差范围来确定，第一阈值根据TP设备的允许误差范围和AOI设备的允许误差范围确定，第一阈值可以选择为TP设备的最大允许误差和AOI设备的最大允许误差之和，第一对比结果小于该第一阈值可以认为是合理的误差，超出该第一阈值时，由于TP设备准确度高，则说明AOI设备出现了故障。

S3、将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件，第二条件为第二对比结果是否小于预设的第二阈值Spec2，如果不小于预设的第二阈值Spec2则执行S7，如果小于预设的第二阈值Spec2且满足S2条件时执行S4。此处的第二阈值Spec2也是预先设定的一个数值，根据第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的合理误差范围来确定。第一缺陷坐标是准确度比较高的一个值，如果第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的差别比较大，说明修补设备存在问题，导致第三缺陷坐标的误差较大，此时无法进行缺陷位置补偿。第二阈值根据TP设备的允许误差范围和修补设备的允许误差范围确定，第二阈值可以选择为TP设备的最大允许误差和修补设备的最大允许误差之和，第二对比结果小于该第二阈值可以认为是合理的误差，超出该第二阈值时，由于TP设备准确度高，则说明修补设备出现了故障。

S4、当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，也就是说第一对比结果小于预设的第一阈值Spec1且第二对比结果小于预设的第二阈值Spec2时，此时计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值。

S5、根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿，该步骤中将坐标偏差值写入到AOI设备的DFS文件中，repair设备读取该文件，找到正确的坐标位置，实现缺陷位置的补偿校正。

S6、当所述第一对比结果不满足第一条件，也就是说第一对比结果大于或等于预设的第一阈值时，则对自动光学检测设备进行故障排查。由于此时第一对比结果较大，第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标的差别已经超出了合理的范围，说明自动光学检测设备存在问题，因此需要对自动光学检测设备进行排查，从而降低面板缺陷。

S7、当所述第二对比结果不满足第二条件时，也就是说第二对比结果大于或等于预设的第二阈值时，则对修补设备进行故障排查。当第二对比结果的值超出第二阈值时，说明第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的差别已经超出了合理的范围，说明修补设备出现了问题，此时需要对修补设备进行排查，排除故障，降低面板缺陷。

本方案中的面板缺陷位置的偏移补偿方法，以TP设备识别的缺陷坐标位置为标准，对AOI设备和Repair设备识别的缺陷坐标位置进行监控，并在AOI设备和Repair设备均无异常的情况下，通过CIM系统实现AOI设备与Repair设备间缺陷坐标偏差的补正，使缺陷位于修补换面的中央，节约时间，提升产生。

实施例2：

本实施例中提供一种面板缺陷位置的偏移补偿装置，结构框图如图2所示，包括：

坐标获取单元021，用于获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标；

第一比较单元022，用于将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件；

第二比较单元023，用于将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件；

缺陷坐标计算单元024，用于当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值；

补偿单元025，用于根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。

此外，还包括第一故障排查单元026，用于当所述第一对比结果不满足第一条件时，则对自动光学检测设备进行故障排查。

进一步，还包括第二故障排查单元027，用于当所述第二对比结果不满足第二条件时，则对修补设备进行故障排查。

其中，所述补偿单元包括补偿子单元，用于将所述坐标偏差值写入到所述自动光学检测设备的DFS文件中，使得缺陷位置位于修补画面的中央。

实施例3：

一种面板缺陷位置的偏移补偿系统，结构图如图3所示，包括

总间距测量设备031，用于识别第一缺陷坐标；

自动光学检测设备032，用于识别第二缺陷坐标；

修补设备033，用于识别第三缺陷坐标；

偏移补偿装置034，与所述获取总间距测量设备031、自动光学检测设备032、修补设备033分别连接，用于对面板缺陷位置进行补偿。该偏移补偿装置034与实施例2中的偏移补偿装置相同，在此不再赘述。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。