技术特征：
1.一种半导体分立器件上料数量检测装置，其特征在于：包括主体、上料装置、运输装置和计数装置，所述上料装置设于主体的一侧，所述运输装置设于主体上，所述计数装置设于主体的另一侧；所述上料装置包括第一箱体、第一齿轮、第一电机、第一气泵、第一吸孔、第一滤网、第一限数件、第一上料管、上料装置运输装置和上料装置计数装置，所述第一箱体设于上料装置上，所述上料装置运输装置设于第一箱体内，所述上料装置计数装置书第一箱体内；所述第一电机设于上料装置运输装置的外壁上，所述第一齿轮设于第一电机的输出端，所述第一吸孔设于上料装置运输装置的壁上，所述第一滤网设于第一吸孔上，所述第一限数件设于上料装置运输装置内，所述第一上料管贯通设于上料装置运输装置上，所述第一气泵贯通设于上料装置计数装置的外壁上。2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件上料数量检测装置，其特征在于：所述运输装置包括第二箱体、第二电机、第一转动滚筒、第二转动滚筒、第一转动带、第一传送带和第一挡板，所述第二箱体设于运输装置上，所述第二电机设于第二箱体内，所述第一转动滚筒转动设于第二箱体的一端，所述第二转动滚筒转动设于第二箱体的另一端，所述第一转动带的一端绕接设于第二电机的输出端，所述第一转动带的另一端绕接设于第一转动滚筒的一端，所述第一传送带的一端套接设于第一转动滚筒上，所述第一传送带的另一端套接设于第二转动滚筒上，所述第一挡板设于第二箱体上。3.根据权利要求2所述的一种半导体分立器件上料数量检测装置，其特征在于：所述计数装置包括收集箱、数量显示器和环形红外线传感器，所述收集箱设于计数装置上，所述环形红外线传感器设于收集箱上，所述数量显示器设于收集箱上。4.根据权利要求3所述的一种半导体分立器件上料数量检测装置，其特征在于：所述环形红外线传感器电连接数量显示器。
技术总结
本实用新型公开了一种半导体分立器件上料数量检测装置，包括主体、上料装置、运输装置和计数装置，所述上料装置设于主体的一侧，所述运输装置设于主体上，所述计数装置设于主体的另一侧。本实用新型属于半导体分立器件上料数量检测技术领域，具体是指一种半导体分立器件上料数量检测装置；在使用过程中，通过上料装置进行单个上料，运输装置进行运输，计数装置进行计数收集，有效解决了目前市场上半导体分立器件计数效率低下，现行生产力提升，造成了很多的人力浪费，大大的降低了生产效率的问题。题。题。
技术研发人员：杜浩晨
受保护的技术使用者：陕西开尔文测控技术有限公司
技术研发日：2021.02.09
技术公布日：2021/11/30