一种滤饼刮料系统的制作方法

文档序号:17434221发布日期:2019-04-17 03:54阅读:433来源:国知局
一种滤饼刮料系统的制作方法

本发明总体涉及包装领域,更具体地,涉及一种滤饼刮料系统。



背景技术:

目前,离心固液分离设备在固液分离过程中,物料都是直接到达滤网,在滤网进行脱液处理后,形成滤饼,再由刮板刮出滤饼,基本是一次脱液一次刮料。刮料时,是将所有滤饼沿滤网一次性刮出。离心机在过滤时,转鼓高速运转,刮板是收起状态,当过滤完毕,转鼓转变为低速旋转时,调节刮板靠近转鼓壁,将物料刮取下来。在这种工艺过程中,每次进行新批次的物料过滤时,被过滤的物料对滤网形成直接的冲击,而且冲击较大,滤网的磨损较快,降低了滤网的使用寿命。

在过滤初期,滤网上没有形成滤饼时,粒径小于滤网孔径的物料会大量穿滤,降低固体物料收率。随着过滤作业的进行,物料中的细颗粒逐渐积累,会对脱液效果产生影响,造成滤饼中含湿率升高。在过滤结束后,刮板刮取滤饼时,刮板与滤网接触的位置会造成滤网和刮板的磨损,影响刮板和滤网的使用寿命。

现有技术中存在的问题是,过滤过程中各批次过滤物料对滤网的直接冲击较大;过滤初期粒径小的物料颗粒会穿滤;过滤后期细颗粒物料会造成过滤结构堵塞,造成滤饼含湿率升高;过滤的过程不可控,滤饼不均匀,过滤效率受到很大影响。另外,刮板与滤网的频繁接触会磨损刮板和滤网。



技术实现要素:

本发明要解决的问题是,提供一种滤饼刮料系统,实现对过滤过程的精确控制:解决各批次过滤物料对滤网的直接冲击造成滤网寿命减少的问题;过滤初期粒径小的物料颗粒会穿滤,过滤后期细颗粒物料会造成过滤结构堵塞,造成滤饼含湿率升高;刮板与滤网的频繁接触会磨损刮板和滤网的问题,减少对设备的磨损。

本发明提供了一种滤饼刮料系统,包括刮取装置1、位置调节装置2、检测装置3、控制装置4,所述刮取装置1用于刮取滤饼;所述位置调节装置2与所述刮取装置1连接,用于调节所述刮取装置1的位置;所述检测装置3,用于检测滤饼的性质得到检测结果;所述控制装置4分别与所述检测装置3、位置调节装置2连接,用于根据所述检测装置3的检测结果,控制所述位置调节装置2;所述滤饼的性质包括比阻、可压缩性、孔隙度和含湿率中的至少一项。

根据本发明的一个实施方式,所述控制装置4包括信息采集模块41、信息分析模块42和动作指令模块43,所述信息采集模块41用于接收所述检测装置3的检测结果以及过滤设备运转信息;所述信息分析模块42与所述信息采集模块41连接,用于分析所述检测结果和过滤设备运转信息,得出分析结果;所述动作控制模块用于根据所述分析结果,控制所述位置调节装置2调节所述刮取装置1的位置。

根据本发明的一个实施方式,所述信息分析模块42包括,第一分析模块421和第二分析模块422,所述第一分析模块421用于将滤饼划分为滤料过滤层和卸料层,确定滤料过滤层的厚度作为第一分析结果;所述第二分析模块422用于判断所述卸料层的含水率是否达到预定值作为第二分析结果。

根据本发明的一个实施方式,所述刮取装置1包括刮刀、刮板中的任一种。

根据本发明的一个实施方式,所述位置调节装置2采用电动机驱动。

根据本发明的一个实施方式,所述检测装置3包括红外探测仪、水分测定仪、x光成像仪中的至少一种。

根据本发明的一个实施方式,所述控制装置4采用plc控制系统

本发明实现了刮料过程的可控化,根据滤饼的性质,调整刮取设备的位置,保留物料过滤层,减少了过滤物料对滤网的直接冲击,也减少了细颗粒物料的穿滤,减少了刮取设备与滤网的接触次数,避免刮取设备与滤网的损伤;通过检测卸料层的含湿率,调整刮取设备对滤饼整体进行刮取,保证滤饼含湿率和过滤效率处于稳定状态。

附图说明

图1是一种滤饼刮料系统;

图2是控制装置的示意图;以及

图3是信息分析模块的示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述,参考标号是指本发明中的组件、技术,以便本发明的优点和特征在适合的环境下实现能更易于被理解。下面的描述是对本发明权利要求的具体化,并且与权利要求相关的其它没有明确说明的具体实现也属于权利要求的范围。

图1示出了一种滤饼刮料系统。

如图1所示,一种滤饼刮料系统,包括刮取装置1、位置调节装置2、检测装置3、控制装置4,所述刮取装置1用于刮取滤饼;所述位置调节装置2与所述刮取装置1连接,用于调节所述刮取装置1的位置;所述检测装置3,用于检测滤饼的性质得到检测结果;所述控制装置4分别与所述检测装置3、位置调节装置2连接,用于根据所述检测装置3的检测结果,控制所述位置调节装置2;所述滤饼的性质包括滤饼比阻、可压缩性、孔隙度和含湿率中的至少一项。

物料的过滤一般采用分批次连续进行过滤的形式。当第一批物料进入过滤设备,经过滤网对物料进行过滤,滤液穿过滤网被收集,物料在滤网的表面形成滤饼,将滤饼刮取收集,从而完成一次过滤。在本发明中,物料在滤网过滤形成滤饼后,刮取装置1在卸料时,只刮取表层滤饼,在滤网表面留下一定厚度的滤饼,这部分被留下的滤饼作为滤料过滤层。当下一批滤料进入过滤设备后,由所述滤料过滤层和滤网共同对物料进行过滤,即下一批滤料首先穿过所述滤料过滤层,再穿过滤网,从而被过滤物料中的细颗粒在随液体穿过所述滤料过滤层时,其行程增大,会被所述滤料过滤层拦截,减少穿滤。另一方面,新批次的物料在受到离心力的作用,首先冲击的是滤料过滤层,从而减少滤料对滤网的直接冲击。

所述刮取装置1可以采用现有的或将来发明的刮板、刮刀等,本发明不对其型号和材质进行限定。

所述位置调节装置2可以采用液压驱动、电力驱动等多种形式,既可以采用设备程序控制,也可以采用机械控制,如齿轮组等,可采用现有的位置调节设备和其他可替代的结构,本发明不予限定,只要其功能满足调整所述刮取装置1的位置即可。

所述检测装置3,包括现有的或将来发明的能够检测滤饼的滤饼比阻、可压缩性、孔隙度和含湿率等的各种设备。其测定结果将直接影响所述滤料过滤层的厚度以及所述滤料过滤层的刮取间隔。

上述过程也可以由用户在现场实时控制,包括读取检测设备的结果,调整刮取设备的位置等。

图2示出了控制装置的示意图。

如图2所示,所述控制装置4包括信息采集模块41、信息分析模块42和动作指令模块43,所述信息采集模块41用于接收所述检测装置3的检测结果以及过滤设备运转信息;所述信息分析模块42与所述信息采集模块41连接,用于分析所述检测结果和过滤设备运转信息,得出分析结果;所述动作控制模块用于根据所述分析结果,控制所述位置调节装置2调节所述刮取装置1的位置。

所述控制装置4是多个设备的组合体。其功能是对信息进行分析,并按照过滤工艺的需求,通过位置调节装置2在不同阶段对刮取装置1进行位置调整。

所述信息采集模块41和所述检测装置3连接,将所述检测装置3的检测结果进行采集,传输至信息分析模块42,所述信息分析模块42将所述检测结果进行分类,并根据滤饼比阻、可压缩性、孔隙度和含湿率等信息确定滤料过滤层的厚度,并将得出的分析结果发送至动作指令模块43,由动作指令模块43向位置调节装置2发出调节指令,所述位置调节装置2对刮取装置1进行调节,从而对滤饼进行刮料,只保留滤料过滤层。在对后续批次物料的过滤以及滤饼刮料的过程中,保持所述刮取装置1的位置不变,同时所述检测装置3对所述卸料层的含湿率等信息进行测定,并将检测结果传输至信息采集模块41,所述分析模块根据所述卸料层的含湿率等信息进行分析,当所述卸料层的含湿率达到过滤工艺要求的滤饼的含湿率的最大值时,向所述动作指令模块43传输分析结果,所述动作指令模块43形成新的动作指令,控制所述位置调节模块对刮取装置1进行位置调节,将所述滤料过滤层刮取。重新进行下一批次物料的进料过滤,检测装置3再次对形成的滤饼进行检测,形成新的滤料过滤层。按照上述步骤循环执行,直至物料过滤完毕。

图3示出了信息分析模块的示意图。

如图3所示,所述信息分析模块42包括,第一分析模块421和第二分析模块422,所述第一分析模块421用于将滤饼划分为滤料过滤层和卸料层,确定滤料过滤层的厚度作为第一分析结果;所述第二分析模块422用于判断所述卸料层的含水率是否达到预定值作为第二分析结果。

所述第一分析模块421在每次将滤料过滤层进行刮取后进行对滤饼性质的分析,确定新的滤料过滤层厚度。

所述第二分析模块422在每次形成滤料过滤层后对所述卸料层进行含湿率等性质的监测。

根据本发明的一个实施方式,所述刮取装置1包括刮刀、刮板中的任一种。

所述刮取设备可以采用现有的以及将来发明的刮板、刮刀以及可替代的设备,只要其满足可以刮取滤饼即可。所述位置调节设备也可以采用现有的以及将来发明的各种位置调节设备,只要其满足可以将所述刮取设备进行相对于滤网的位置调节即可,本发明不对其具体结构进行限定。

根据本发明的一个实施方式,所述位置调节装置2采用电动机驱动。

根据本发明的一个实施方式,所述检测装置3包括红外探测仪、水分测定仪、x光成像仪。

根据本发明的一个实施方式,所述控制装置4采用plc控制系统

本发明实现了刮料过程的可控化,根据滤饼的性质,调整刮取设备的位置,保留物料过滤层,减少了过滤物料对滤网的直接冲击,也减少了细颗粒物料的穿滤,减少了刮取设备与滤网的接触次数,避免刮取设备与滤网的损伤;通过检测卸料层的含湿率,调整刮取设备对滤饼整体进行刮取,保证滤饼含湿率和过滤效率处于稳定状态。

应该注意的是,上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制,并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。

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