电容检测设备的制作方法

文档序号:26128894发布日期:2021-08-03 13:14阅读:99来源:国知局
电容检测设备的制作方法

本实用新型有关于一种电容检测设备,特别有关于一种在检测完电容元件后,可以将电容元件整齐排列地放置于集装夹具的电容检测设备。



背景技术:

由于科技的发达,随处可见各式各样的电子产品充斥着在日常生活中,而这些电子产品主要都是仰赖电路板的运作而产生各种功能,也因此电路板的设计也是千变万化,然而,尽管各种电路板的设计不尽相同,但通常都是由各种电子元件与电路的配置变化而得。

承上所述,常见的电子元件例如有电阻、电容与电感,而在大部分的电子元件中,由于电容具有正负极,且电容的正负极若接反会造成电容过热而爆炸,因此电容在制造生产时需更加谨慎。

在电容的制造过程中,通常在电容制造完成后,还需要进行一连串的检测,以确保电容的质量,而电容的检测一般包含有外观检测、长短脚位置检测、电性测试以及环境测试等检测项目。

在现有的电容检测制程中,通常是先通过一转盘的转动来带动电容依序进行分脚、整脚、脚长检测与转向等整理作业,然后再将经过整理的电容移送至另一工作站来进行外观检测与电性测试,而经过外观检测与电性测试的电容会被收集存放于一检测完成区,然后才通过人工的方式将电容一一整齐的排列放置于一集装夹具中,以进一步对多个电容进行环境测试等其他测试项目。



技术实现要素:

有鉴于在现有技术中,由于现有的电容检测流程是先利用一转盘来将电容的针脚进行整理与初步检测,然后才接着进行外观检测与电性测试,最后还需通过人工的方式将电容整齐的排列放置于集装夹具中,才能使电容进到下一个检测工作站,非常的不便利且耗费人力与工时;因此,本实用新型的主要目的在于提供一种电容检测设备,可以有效的对电容元件进行一连串的整理、外观检测与电性测试,之后还能自动地将电容元件整齐排列放置于集装夹具中。

为了实现上述目的,本实用新型提供了一种电容检测设备,用于带动多个电容元件沿一环型路径自一入料位置经多个作业位置移动至一出料位置,作业位置至少设置有一检测装置,该电容检测设备包含一基座、一第一转动组件以及一第二转动组件;其中,第一转动组件以一第一轴线为中心而可转动地设置于基座,并设有用于夹持该些电容元件,并带动该些电容元件依序经过该些作业位置而移动至该出料位置的多个第一夹具,第二转动组件以一垂直于第一轴线的第二轴线为中心而可转动地设置于基座,并设有用于将该些电容元件自该出料位置沿一弧形路径移动至一集装位置而装填入一集装夹具的一第二夹具。

上述的电容检测设备,其中,基座包含一平台以及一动力输出装置,动力输出装置固定于平台上,且第一转动组件可转动地设置于动力输出装置。

上述的电容检测设备,其中,第一转动组件更包含一转盘,转盘可转动地设置于基座,且第一夹具以第一轴线为中心而均匀地分散设置于转盘。

上述的电容检测设备,其中,第二转动组件更包含一电机元件与一悬臂,电机元件固定于基座,悬臂可转动地连结于电机元件,且第二夹具固定于悬臂,借以利用电机元件与悬臂带动第二夹具沿弧形路径往复移动。

上述的电容检测设备,其中,电容元件更包含一圆柱本体、一长针脚与一短针脚,长针脚与短针脚分别自圆柱本体的端面沿伸出,且第一夹具夹持圆柱本体,第二夹具夹持长针脚与短针脚。

上述的电容检测设备,其中,电容检测设备更包含一入料模块,设置于基座,并位于入料位置,用以将该些电容元件移动至该环型路径,以使该些第一夹具夹持固定住该些电容元件。

如上所述,本实用新型是利用第一转动组件带动多个电容元件沿环型路径自入料位置经多个作业位置移动至出料位置的同时,可以完成电容元件的整理作业、外观检测作业与电性测试作业,然后利用第二转动组件将电容元件自出料位置沿弧形路径移动至集装位置的方式,可以便利且快速的将电容元件装填集装夹具中,且还能保持多个电容元件的针脚方向一致性,有利于电容元件进行下个测试制程。

以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述,但不作为对本实用新型的限定。

附图说明

图1为显示本实用新型的实施例所提供电容检测设备的立体示意图;

图2为显示本实用新型的实施例所提供的电容检测设备之平面示意图;

图3为显示在本实用新型的实施例所提供的电容检测设备中,利用第二转动组件的第二夹具夹持电容元件的长针脚与短针脚的平面示意图;

图4为显示在本实用新型的实施例所提供的电容检测设备中,利用第二转动组件将电容元件夹持并移动至集装夹具的平面示意图。

附图标记

100:电容检测设备

1:基座

11:平台

12:动力输出装置

2:第一转动组件

21:转盘

22:第一夹具

3:入料模块

31:支架

32:调整台

33:悬臂

34:移物夹爪组件

4:转向装置

5:检测装置

6:第一不良品排除装置

7:检测装置

8:第二不良品排除装置

9:第二转动组件

91:电机元件

92:悬臂

93:第二夹具

200:送料轨道

300:电容元件

301:圆柱本体

302:长针脚

303:短针脚

400:集装夹具

401:移动轨道

402:载具

403:固定夹具

s1:入料位置

s2:出料位置

s3:集装位置

x1:第一轴线

x2:第二轴线

r1:转动方向

p2:弧形路径

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的结构原理和工作原理作具体的描述:

请参阅图1,图1为显示本实用新型的实施例所提供的电容检测设备的立体示意图。如图1所示,一种电容检测设备100,包含一基座1、一第一转动组件2、一入料模块3、一转向装置4、一检测装置5、一第一不良品排除装置6、一检测装置7、一第二不良品排除装置8以及一第二转动组件9。其中,电容检测设备100还邻近于一送料轨道200,而送料轨道200是用以将多个电容元件300输送至一入料位置s1。

基座1包含一平台11与一动力输出装置12,动力输出装置12是固定于平台11上,且动力输出装置12例如为一步进马达。第一转动组件2包含一转盘21以及十二个第一夹具22,转盘21是以一第一轴线x1为中心而可转动地设置于基座1的动力输出装置12,借以受动力输出装置12的带动而沿一转动方向r1转动。十二个第一夹具22是分别设置于转盘21的底面,并凸伸出转盘21的边缘,且十二个第一夹具22是以第一轴线x1为中心均匀地分散设置。其中,当转盘21受到动力输出装置12的带动而沿转动方向r1转动时,第一夹具22也会随着转盘21的转动而移动,且第一夹具22的移动范围涵盖了入料位置s1。

入料模块3包含一支架31、一调整台32、一悬臂33以及一移物夹爪组件34。支架31是固定地设置于平台11,而调整台32是固接于支架31,悬臂33是可转动地设置于调整台32,而移物夹爪组件34是连结于悬臂33,并受悬臂33的带动而在入料位置s1内移动,用以将通过送料轨道200移动至入料位置s1的电容元件300由送料轨道200上夹持移送至入料位置s1内的第一夹具22处,以使第一夹具22可以夹持住电容元件300。当在入料位置s1的第一夹具22夹持住电容元件300后,通过动力输出装置12带动转盘21沿一转动方向r1移动,会使连结于转盘21的第一夹具22带动电容元件300自入料位置s1沿一环型路径(图中未示出)经多个工作位置(图中未示出)移动至一出料位置s2。

转向装置4是固定于平台11,并对应于上述多个工作位置其中的一个,借以在电容元件300受到第一夹具22的带动而移动至对应于转向装置4的工作位置时,用以转动电容元件300而使电容元件300的短针脚303接近转盘21的中心,以及相对地使电容元件300的长针脚302远离转盘21的中心,意即使短针脚303与长针脚302在转盘21的径向上为一内一外。

在本实施例中,在入料位置s1与对应于转向装置4的工作位置之间的其他工作位置实际上设置有整脚装置、脚拉直装置与长短脚检测装置等装置,其中整脚装置是用来将电容元件300的长针脚302与短针脚303分开,以避免长针脚302与短针脚303交叠,而脚拉直装置是用来将长针脚302与短针脚303拉直,长短脚检测装置则是用来检测长针脚302与短针脚303的内外位置;其中,由于长短脚检测装置是设置在转向装置4之前的工作位置,因此转向装置4可以依据长短脚检测装置所检测的结果来判断是否要将电容元件300转向。此外,由于整脚装置、脚拉直装置与长短脚检测装置皆为现有技术,故在此不多加赘言。

检测装置5是固定于平台11,并对应于上述多个工作位置其中沿转动方向r1排列于转向装置4后的一个,借以在电容元件300受到第一夹具22的带动自对应于转向装置4的工作位置移动至对应于检测装置5的工作位置时,用以对电容元件300进行检测;在本实施例中,检测装置5为一自动光学检测装置(automatedopticalinspection,aoi),主要是通过照明模块对电容元件300投射光束,并利用图像获取模块来获取电容元件300的图像;其中,由于电容元件300的短针脚303为负极接脚,而圆柱本体301的外观会对应于短针脚303而标示有负极符号,因此本实施例的检测装置5可以通过图像获取模块由内向外获取圆柱本体301内侧的外观图像,进而通过圆柱本体301内侧的外观图像是否有负极符号来判断电容元件300的外观标示与短针脚303的位置是否相符。

第一不良品排除装置6是固定于平台11,并对应于上述多个工作位置其中沿转动方向r1排列于检测装置5后的一个,借以在电容元件300受到第一夹具22的带动自对应于检测装置5的工作位置移动至对应于第一不良品排除装置6的工作位置时,用以将检测装置5检测不合格的电容元件300移除。

检测装置7是固定于平台11,并对应于上述多个工作位置其中沿转动方向r1排列于第一不良品排除装置6后的一个,借以在电容元件300受到第一夹具22的带动自对应于第一不良品排除装置6的工作位置移动至对应于检测装置7的工作位置时,用以对电容元件300进行检测;在本实施例中,检测装置7为一电性测试装置,用以对电容元件300进行电性测试。

第二不良品排除装置8是固定于平台11,并对应于上述多个工作位置其中沿转动方向r1排列于检测装置7后的一个,借以在电容元件300受到第一夹具22的带动自对应于检测装置7的工作位置移动至对应于第二不良品排除装置8的工作位置时,用以将检测装置7检测不合格的电容元件300移除。

请一并参阅图1与图2,图2为显示本实用新型的实施例所提供的电容检测设备的平面示意图。如图1与图2所示,第二转动组件9包含一电机元件91、一悬臂92以及一第二夹具93,电机元件91是固定于平台11,悬臂92是以一垂直于第一轴线x1的第二轴线x2为中心而可转动地连结于电机元件91,第二夹具93是固定于悬臂92,借以受电机元件91与悬臂92的带动而自出料位置s2沿一弧形路径p2移动至一邻近于一集装夹具400的集装位置s3;其中,集装夹具400包含一移动轨道401、一载具402以及多个固定夹具403(图中仅标示一个),移动轨道401是延伸至其他工作站,载具402是可移动地设置于移动轨道401上,而固定夹具403是排列设置于载具402上。

请继续参阅图3与图4,图3为显示在本实用新型的实施例所提供的电容检测设备中,利用第二转动组件的第二夹具夹持电容元件的长针脚与短针脚的平面示意图;图4为显示在本实用新型的实施例所提供的电容检测设备中,利用第二转动组件将电容元件夹持并移动至集装夹具的平面示意图。如图1至图4所示,当电容元件300受到第一夹具22的带动而移动至出料位置s2时,第二转动组件9可以通过电机元件91与悬臂92带动第二夹具93在出料位置s2夹取电容元件300的长针脚302与短针脚303,并进一步带动电容元件300沿弧形路径p2移动至集装位置s3,以使圆柱本体301直接移动至固定夹具403的夹持空间内,并使固定夹具403可以直接夹持住圆柱本体301而露出长针脚302与短针脚303,借此,由于每个经过电容检测设备100所送出的电容元件300都以相同的摆放角度固定于集装夹具400,因此集装夹具400可以将多个电容元件300以一致的排列方式进到下个工作站,进而有效的提升下个工作站的作业便利性。

综上所述,相较于现有技术的电容检测制程是先将电容的针脚进行整理与初步检测,然后才接着进行外观检测与电性测试,最后还需通过人工的方式将电容整齐的排列放置于集装夹具中,本实用新型利用第一转动组件带动多个电容元件沿环型路径自入料位置经多个作业位置移动至出料位置的同时,可以完成电容元件的整理作业、外观检测作业与电性测试作业,然后利用第二转动组件将电容元件自出料位置沿弧形路径移动至集装位置的方式,可以便利且快速的将电容元件装填集装夹具中,且还能保持多个电容元件的针脚方向一致性,有利于电容元件进行下个测试制程。

当然,本实用新型还可有其它多种实施例,在不背离本实用新型精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据本实用新型作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。

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