专利名称：静力触探方法
技术领域：
本发明涉及岩土工程中的测试方式，尤其涉及一种静力触探方法。
背景技术：
现有技术中，应用于岩土工程原位测试的静力触探，按能读取数据划分，分为单桥
静力触探法和双桥静力触探法。其中单桥静力触探法只能读取土层的比贯入阻力Ps，数据
单一，工程人员很难进行更多的分析，故已越来越少人使用。双桥静力触探法能读取土层中
的锥头阻力^和侧壁摩阻力fs，并计算出摩阻比Rf = f乂q。，其结果可用于根据贯入曲线的
线形特征、结合钻孔资料划分土层，估算土的强度、压縮性、承载力、单桩竖向极限承载力，
沉桩可能性和判定液化，是目前使用较多的静探方法；但该方法只能用于初步估算，尤其侧
壁摩阻力fs的读数与实际所受摩擦力相差较远，从而使得结果并不准确；且这一方法得出
的数据十分有限，其利用受到很大的限制。 为此，需要提供一种改进的静力触探方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种静力触探方法，利用该方法能得出更多的数据，从而
有利于进行更多更准确的下一步分析，譬如能较为精确地估算将桩压入一定的深度需要施
加的总力，在某预设压力下可将桩压入的深度，以及方便土层特征的估算等。
为达到上述目的，本发明采用如下技术方案一种静力触探方法，包括如下步骤
(1) 在静力触探杆贯入土层中时，读出探头在第i层土处的锥尖阻力q。i和侧壁摩阻力fsi ;
(2) 在静力触探杆的顶部加入测压体系，在静力触探杆贯入土层中时，用所述测压体系测量 出在第i层土处的总贯入压力Pi。 本发明的有益效果在于本发明提供的静力触探方法可以得出总贯入压力Pi、锥 尖阻力q。i、侧壁摩阻力fsi和摩阻比Rf，锥压比Rqi = qci 'A/Pi以及侧压比Rsi = fsi 、 .1/ Pi等，多次进行测量可以得出某个土层的平均摩阻比，平均锥压比及平均侧压比等，从而可 以建立这些比率与土层性质(如含水量、压縮性、粘性及剪切性)之间的关系，对勘探工作 具有很好的参考价值；同时，得出某个土层的侧摩阻出力系数 i能对静探头读出的侧壁摩 阻力进行校正，得出更接近实际的侧壁摩阻力，从而能更准确地估算一定的总压力下桩能 压入的深度，以及要将桩压入一定的深度时，需要在桩顶部施加的总压力；此外，还可以更 为准确地估算单桩竖向极限承载力。
具体实施例方式
下面将介绍本发明的一个实施例。 该实施例的一种新的静力触探方法，包括如下步骤(i)利用双桥静力触探探头，在静力触探杆贯入土层中时，测出岩土层的锥尖阻力
q。i和侧壁摩阻力fsi ;[OOW] (2)在静力触探杆的顶部加入测压体系，在静力触探探杆贯入土层中时，用测压体 系测出在岩土层的总贯入压力P。 在本实施例中，该方法是通过一种改进的静力触探设备来实现的，该改进的设备 包括机身平台、设置在机身平台上的静探装置及对称设置在该静探装置两侧的增重装置， 以及设置在机身平台下的支腿系统；该静探装置包括静力触探杆和位于静力触探杆顶部向 该静力触探杆施力的施力装置，在静力触探杆顶部与施力装置之间加入测压体系，该测压 体系包括一传感器，用于感知施加在静力触探杆顶部的力，在传感器周围设置保护装置，以 防止传感器损坏。 这样，在静力触探时就能同时读取总贯入压力P、锥尖阻力q。、侦幢摩阻力fs，并计 算得出摩阻比Rf = f^/q。i，锥压比Rqi = q。i A/Pi及侧压比Rsi = fsi ^ 1/Pi等。这种 新的静探方法比传统的静力触探方法得出了更多的数据，为之后的分析运算等提供了更多 的依据；且多次测量可以建立上述各比率与土层性质(如含水量、压縮性、粘性及剪切性) 之间的关系，对勘探工作具有很好的参考价值；解决了土建勘探工作中所面临的勘探数据 有限，估算结果与实际相距较远的问题。 此外，还可以利用下述公式求得第i层土的侧摩阻出力系数、i(即计算得出的侧 壁摩阻力与静探杆探头测出的侧壁摩阻力的比值) 其中，hi为第i层土层厚，fsi为静探杆探头读出的第i层土侧壁摩阻力读数，L 为静探杆探头测出的第i层土锥尖阻力读数，Pi为利用称重体系测出的第i层土处的总压 力读数换算值，1为探头周长，A为锥尖及扩大头组合截面积，13 ,为探头扩大头影响系数。 本说明书中出现在其他地方的上述符号代表的意思同上。 多次测量可以得出某场地所有土层的平均侧摩阻出力系数a^，从而能更准确地 估算将桩压入一定深度时施力装置需要施加的总力，以及在预设的总施加力下桩可以压入 的深度等等，此外还能更准确的估算桩的极限承载力等等。 以上所述仅为本发明的实施例，不能以此来限定本发明之权利范围，因此，依本发 明申请专利范围所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的保护范围。
权利要求
一种静力触探方法，其包括如下步骤(1)在静力触探杆贯入土层中时，读出探头在第i层土处的锥尖阻力qci和侧壁摩阻力fsi；(2)在静力触探杆的顶部加入测压体系，在静力触探杆贯入土层中时，用所述测压体系测量出在第i层土处的总贯入压力Pi。
全文摘要
本发明公开了一种静力触探方法，其包括如下步骤(1)利用探头，在静力触探杆贯入土层中时，测出探头在第i层土处的锥尖阻力qci和侧壁摩阻力fsi；(2)在静力触探杆的顶部加入测压体系，在静力触探杆贯入土层中时，用所述称重体系测量出在第i层土处的总贯入压力Pi。这种静力触探方法可以得出总贯入压力Pi、锥尖阻力qci、侧壁摩阻力fsi和摩阻比Rf＝fsi/qci，锥压比Rqi＝qci.A/Pi以及侧压比Rsi＝fsi.hi.l/Pi等，从而能进行更多更准确的下一步分析。
文档编号E02D1/02GK101705678SQ20091019365
公开日2010年5月12日 申请日期2009年11月4日 优先权日2009年11月4日
发明者黎志中 申请人:广东永基建筑基础有限公司