一种测量建筑基坑水平位移的方法
【专利摘要】本发明是一种测量建筑基坑水平位移的方法，该方法是采用双极坐标测量方法对监测点进行角度距离的采集，通过简单计算即可获得各监测点的坐标，利用程序可快速、准确的计算出监测点到虚拟基准线的垂直距离。距离的差值即为基坑水平位移。此方法简单易行，方便进行程序的编写和批量处理，大大的提高了计算效率，且将出错的概率降低到最低。
【专利说明】一种测量建筑基坑水平位移的方法
【技术领域】
[0001]本发明是一种测量建筑基坑水平位移的方法，属于测量【技术领域】。
【背景技术】
[0002]目前建筑物，往往带有较深的地下建筑，故在施工前首先要进行土方开挖，土方开挖形成的坑即为建筑基坑。为了确保在基坑施工过程中的安全，需对基坑进行位移监测。过去土地利用率较低，基坑开挖绝大多数形状规则，此类基坑在基坑水平位移监测的计算过程中，可直接比较监测的坐标值以计算出水平位移量。随着经济的发展，土地供应量越来越少，基坑开挖受到周边环境的限制也越来越多，故包括弧形、三角形、拐角等特殊形状得基坑也由此产生，此类基坑需布设的水平位移监测点较多，在进行基坑水平位移监测的计算时，则需要通过坐标矢量合成才能计算出监测点的水平位移量，这种矢量合成参数，各点都不相同，计算工作复杂，基本不具备实现程序化自动计算的条件。
【发明内容】
[0003]本发明正是针对上述现有技术中存在的不足而设计提供了一种测量建筑基坑水平位移的方法，其目的是快速、准确地测量出建筑基坑的水平位移。
[0004]本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:
[0005]该种测量建筑基坑水平位移的方法，其特征在于:该方法的步骤是:
[0006]⑴利用两个基坑的水平位移测量基准点(4)建立一个独立的平面坐标系，在该坐标系下，绘制基坑开挖线(I)并标注每个基坑的水平位移监测点(2)的坐标位置，然后沿基坑开挖线(I)向外偏移2~3米构成一条与基坑开挖线(I)平行的虚拟基准线(3)；
[0007]⑵在现场一个基坑的水平位移测量基准点(4)上架设I"级或以上精度的全站仪(5)，照准另一个基坑的水平位移测量基准点(4)，测量两个基坑的水平位移测量基准点
(4)之间的连线与全站仪(5)所在基坑的水平位移测量基准点(4)和各个基坑的水平位移监测点(2)的连线的夹角P，测量全站仪(5)所在基坑的水平位移测量基准点(4)和各个基坑的水平位移监测点⑵之间的距离S ；
[0008]⑶计算各个基坑的水平位移监测点(2)的坐标值，计算公式如下:
【权利要求】
1.一种测量建筑基坑水平位移的方法，其特征在于:该方法的步骤是: ⑴利用两个基坑的水平位移测量基准点(4)建立一个独立的平面坐标系，在该坐标系下，绘制基坑开挖线(I)并标注每个基坑的水平位移监测点(2)的坐标位置，然后沿基坑开挖线(I)向外偏移2~3米构成一条与基坑开挖线(I)平行的虚拟基准线(3)； ⑵在现场一个基坑的水平位移测量基准点(4)上架设I"级或以上精度的全站仪(5)，照准另一个基坑的水平位移测量基准点(4)，测量两个基坑的水平位移测量基准点(4)之间的连线与全站仪(5)所在基坑的水平位移测量基准点(4)和各个基坑的水平位移监测点(2)的连线的夹角β，测量全站仪(5)所在基坑的水平位移测量基准点(4)和各个基坑的水平位移监测点(2)之间的距离S ； ⑶计算各个基坑的水平位移监测点(2)的坐标值，计算公式如下:
【文档编号】E02D33/00GK103526783SQ201310493151
【公开日】2014年1月22日 申请日期:2013年10月21日 优先权日:2013年10月21日
【发明者】李富荣, 李维功, 王永跃, 石俊成, 唐庆隆, 刘云利 申请人:中航勘察设计研究院有限公司