飞秒激光脉冲的自相关测量仪的制作方法

文档序号:6150983阅读:733来源:国知局
专利名称:飞秒激光脉冲的自相关测量仪的制作方法
技术领域
本实用新型是一种飞秒激光脉冲的自相关测量仪,主要用来测量准连续飞秒激光脉冲的时间宽度。
背景技术
在先技术中的连续式自相关测量仪在结构上都使用倍频晶体和光电倍增管来产生和探测信号。比如转镜式自相关测量仪(中国专利ZL95246707.0)包含倍频晶体和光电倍增管,这两种元件的价钱很高,总共要在5000元以上,所以成本高,而且结构复杂。在最近的一篇报道里,描述了一种单摆式半导体发光二级管的自相关测量仪(Piotr Wasylczyk,“Ultracompact autocorrelatorforfemtosecond laser pulses”,Rev.Sci.Instrum.,Vo1.72,Num.4,2001),它使用电磁铁驱动单摆来获得光程的变化,同时用一块透镜聚焦光束。单摆的使用会带来光程变化的非线性,从而降低测量的精确度。同时使用透镜不但会影响待测脉冲的时间宽度,而且更会增加仪器调试的困难程度。

发明内容
本实用新型的目的就是要提供一种能让光程线性变化并且容易调试的测量仪器。
本实用新型的结构如图1所示,包括分束镜1,第一角反射镜2和第二角反射镜3,分束镜1的中心点O和第一角反射镜2的顶点O1的第一条连线OO1与分束镜1的中心点O和第二角反射镜3的顶点O2的第二条连线OO2相互垂直。分束镜1的分光面与第一条连线OO1和第二条连线OO2成45°角置放。所说的第二角反射镜3带有压电陶瓷驱动器4。有反射面向着第一角反射镜2反射面的抛面反射镜5,有输出连接到示波器7上的半导体发光二极管的接收器6。
当测量时,首先将待测脉冲D入射到分束镜1上,分束镜1将待测脉冲D分为强度相等的两束光,反射光束R经过第一角反射镜2反射后,返回到分束镜1。透射光束T经过第二角反射镜3反射后也返回到分束镜1,然后共线入射到抛面反射镜5上。通过抛面反射镜5的聚焦作用,共线的R和T光束被聚焦到半导体发光二级管的接收器6的PN结上。此时打开压电陶瓷驱动器4的电源,然后第二角反射镜3在压电陶瓷驱动器4的带动下线性的左右振动,产生的干涉自相关信号通过示波器来显示和测量在半导体发光二级管的接收器6所产生的电压信号。
本实用新型与在先技术相比,本实用新型用压电陶瓷驱动器4驱动第二角反射镜3做为改变光程的部件,达到了自动,线性,精确的地调节光程差。本实用新型与在先技术相比,避免了光程变化的非线性,提高了测量的精度;用抛面反射镜5来代替在先技术中的凸透镜聚焦能避免透射结构对待测脉冲D的影响,而且抛面反射镜5能方便的调整反射光的角度,这对于对角度极为敏感的半导体发光二极管接收器来说是大大的降低了仪器调试的难度,操作方便。


图1为本实用新型的自相关测量仪结构示意图;图2为具体实施方式
中所测到的干涉自相关信号曲线图。
具体实施方式
如图1所示的结构,分束镜1的厚度为100μm,其分束比为1∶1;第一第二角反射镜2,3和抛面反射镜5的反射面都镀了金全反射膜;压电陶瓷驱动器4电压的变化范围为-700V~700V,频率是0~20HZ可调,产生的电压波形为锯齿波,相应带来的位移范围是50μm。半导体发光二极管6的PN结材料是砷化镓铝(AlGaAs)。
在用本实用新型所测到的干涉自相关信号曲线图2中,待测脉冲D的相关信号半高宽为Dx=27fs,假设脉冲形状为高斯形,则待测脉冲D的宽度DL=0.709×DX=19.1fs。
权利要求1.一种飞秒激光脉冲的自相关测量仪,包括分束镜(1),第一角反射镜(2)和第二角反射镜(3),分束镜(1)的中心点(O)和第一角反射镜(2)的顶点(O1)的第一条连线(OO1)与分束镜(1)的中心点(O)和第二角反射镜(3)的顶点(O2)的第二条连线(OO2)相互垂直,分束镜(1)的分光面与第一条连线(OO1)和第二条连线(OO2)成45°角置放,其特征在于第二角反射镜(3)带有压电陶瓷驱动器(4),有反射面向着第一角反射镜(2)反射面的抛面反射镜(5),有输出连接到示波器(7)上的半导体发光二极管的接收器(6)。
专利摘要一种飞秒激光脉冲的自相关测量仪,由分束镜中心点和第一角反射镜顶点的第一条连线与分束镜中心点和第二角反射镜顶点的第二条连线相互垂直。分束镜的分束面与第一条连线和第二条连线成45°角置放。第二角反射镜带有压电陶瓷驱动器。有反射面向着第一角反射镜反射面的抛面反射镜。在抛面反射镜的焦点处置有输出连接到示波器上的半导体发光二极管接收器。与先技术相比,达到了自动、线性、精确地调节光程差,提高了测量精度。调整容易,操作方便。
文档编号G01J11/00GK2551982SQ0221818
公开日2003年5月21日 申请日期2002年6月14日 优先权日2002年6月14日
发明者钏晔, 李儒新, 张正泉, 印定军, 金石琦 申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所
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