用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头的制作方法

文档序号:6104769阅读:442来源:国知局
专利名称:用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头的制作方法
技术领域
本实用新型涉及超声波探伤领域,尤其涉及用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头。
背景技术
超声波探头又称超声波换能器,它是实现电能和声能相互转换的一种器件。由于被检工件是不同的材料和不同加工工艺所制成,因此,工件的形状和工件中的缺陷取向、缺陷的性质、缺陷类型也各有不同,现有技术对工件中的各类缺陷实施超声波检测时,根据超声波探伤标准要求,常用的探伤方法有纵波探伤法和横波探伤法。纵波探伤法采用直探头探测,它主要检测与金属工件探测面平行的缺陷,如分层、夹杂、缩孔等缺陷;横波探伤法采用斜探头探测,它主要检测与金属工件探测面有一定夹角的缺陷,如裂纹、折叠等缺陷。因此,根据现有金属材料的超声波探伤标准的规定,对于同一个要求实施纵波和横波探伤的工件,探伤步骤为先用直探头对工件进行纵波探伤,然后再用斜探头进行横波探伤,这种探伤方法虽然能够保证探伤质量,但是探伤效率较低,不利于大批量工件的探伤。

发明内容本实用新型的目的在于提供一种用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头,该组合探头采用两组晶片在不同位置同时工作,一次探伤即可完成纵、横波两种探伤检测,可明显缩短工件的探伤时间,提高探伤工作效率。
本实用新型是这样实现的一种用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头,包括外壳、晶片、阻尼吸收块、匹配线圈、斜楔、导线、电极,其特征是晶片为一组纵波晶片和一组横波晶片,纵波晶片与组合探头的探测表面平行,横波晶片与组合探头的探测表面成一夹角,两组晶片一端通过导线分别连接匹配线圈,另一端分别与两组电极接线柱连接,两组晶片分别置于各自阻尼吸收块上,在两个阻尼吸收块间置有隔声层,阻尼吸收块、隔声层和匹配线圈置于壳体内,斜楔上装有电极接线柱。
本实用新型是在组合探头两个不同位置上安装了两组晶片,一组晶片它与工件探测面平行,主要发射和接收纵波,对工件实施纵波探伤,而另一组晶片与工件探测面形成一定夹角,主要通过斜入射发射和接收横波,对工件实施横波探伤。两组晶片一端通过连线分别与匹配线圈连接,另一端分别与两组电极接线柱连接,两组晶片的工作模式均为单发单收独立工作。由于纵、横波方向不同,因此,超声波声束互相之间不会产生干扰,可实现纵、横波同步探伤。
与现有技术相比,本实用新型采用两组晶片在不同位置同时工作,一次探伤即可完成纵、横波两种探伤方法的检测,可明显缩短工件的探伤时间,提高探伤节奏,为在线自动探伤提高探伤节奏,提供有效保障,从而提高探伤的工作效率。


以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步说明。
图1为用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头探伤原理图;图2为本实用新型用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头结构示意图。
图中1外壳、2纵波晶片、3横波晶片、4隔声层、5、匹配线圈、6阻尼吸收块、7斜楔、8导线、9电极。
具体实施方式
参见图1、图2,一种用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头,包括外壳1、晶片、阻尼吸收块6、匹配线圈5、斜楔7、导线8、电极9。晶片为一组纵波晶片2和一组横波晶片3,纵波晶片2与组合探头的探测表面平行,即纵波晶片2与工件探测面平行,工作模式为发射和接收纵波,主要对工件实施纵波探伤;横波晶片3与组合探头的探测表面成一夹角,即横波晶片3与工件探测面形成一定夹角,工作模式为发射和接收横波,主要对工件实施斜射探伤,用于工件的横波探伤。两组晶片一端通过导线8分别连接匹配线圈5,另一端分别与两组电极9接线柱连接。两组晶片分别置于各自阻尼吸收块6上,在两个阻尼吸收块6间置有隔声层4,隔声层4采用环氧树脂制成。阻尼吸收块6、隔声层4和匹配线圈5置于壳体1内,斜楔7上装有电极9接线柱。由于组合探头发射接收的纵、横波方向不同,因此超声波声束互相之间不会产生干扰,从而可实现纵、横波同步探伤。
本实用新型的组合探头可适用于直缝焊管管端盲区、宽厚板的四周端部及锻件的手工探伤。
权利要求1.一种用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头,包括外壳、晶片、阻尼吸收块、匹配线圈、斜楔、导线、电极,其特征是晶片为一组纵波晶片和一组横波晶片,纵波晶片与组合探头的探测表面平行,横波晶片与组合探头的探测表面成一夹角,两组晶片一端通过导线分别连接匹配线圈,另一端分别与两组电极接线柱连接,两组晶片分别置于各自阻尼吸收块上,在两个阻尼吸收块间置有隔声层,阻尼吸收块、隔声层和匹配线圈置于壳体内,斜楔上装有电极接线柱。
专利摘要本实用新型涉及超声波探伤领域。一种用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头,包括外壳、晶片、阻尼吸收块、匹配线圈、斜楔、导线、电极,其特征是晶片为一组纵波晶片和一组横波晶片,纵波晶片与组合探头的探测表面平行,横波晶片与组合探头的探测表面成一夹角,两组晶片一端通过导线分别连接匹配线圈,另一端分别与两组电极接线柱连接,两组晶片分别置于各自阻尼吸收块上,在两个阻尼吸收块间置有隔声层,阻尼吸收块、隔声层和匹配线圈置于壳体内,斜楔上装有电极接线柱。本实用新型采用两组晶片在不同位置同时工作,一次探伤即可完成纵、横波两种探伤检测,可明显缩短工件的探伤时间,提高探伤工作效率。
文档编号G01N29/24GK2807256SQ200520043060
公开日2006年8月16日 申请日期2005年6月30日 优先权日2005年6月30日
发明者陈杰 申请人:宝山钢铁股份有限公司
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