专利名称：应用线性位移电位尺的锥入度仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及位移测量装置，特别是一种应用线性位移电位尺的锥入度仪。
背景技术：
锥入度仪用于对软膏剂类的半固体物质的软硬度和粘稠度进行测定。测定时，将锥体作自由落体运动，以锥体在一定时间里刺入被测样品的深度，作为锥入度来表示。现有的锥入度仪对于锥体在下落过程中，某一时刻的下落距离的测量，是采用人工掐秒表，同时观察标尺刻度的方法。这种手工操作，人为的影响较大，故仪器的测量速度和精度难以提高。
发明内容
本实用新型为了解决现有的锥入度仪手工操作影响测量精度所存在的技术问题，提供一种应用线性位移电位尺实现高精度测量的锥入度仪。
依据上述目的，本实用新型提供一种应用线性位移电位尺的锥入度仪，由线性位移电位尺、模数转换器、数据处理电路、显示器组成。其中线性位移电位尺的导电塑料轨和置于其中的滑块动配合连接，滑块的下端连接有锥体。其中模数转换器的输入端与导电塑料轨以及滑块的输出线连接，而其输出端与数据处理电路的输入端连接，数据处理电路的输出端与显示器连接。
本实用新型由于采用了以上技术措施，整个操作过程十分简单，测量精度高且重复性极好。
附图是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
如附图所示一种应用线性位移电位尺的锥入度仪，由垂直安装的线性位移电位尺1、模数转换器ADC、数据处理电路MCU、显示器LCD组成。其中线性位移电位尺1的导电塑料轨1-1和置于轨道中的滑块1-2动配合连接，滑块1-2的下端与锥体2连接。其中模数转换器ADC的输入端与导电塑料轨1-1、滑块1-2的输出线连接，而其输出端与数据处理电路MCU的输入端连接，数据处理电路MCU的输出端与显示器LCD连接。
本实用新型主要是将线性位移电位尺1垂直安装于锥入度仪，使其滑块1-2处于自由落体状态并与锥体连成一体。测量时，将被测样品3置于锥体2正下方，启动仪器后，锥体2作自由落体运动，带动滑块1-2在导电塑料轨1-1中向下移动，使线性位移电位尺1的电位发生变化，经模数转换器ADC转换成数字量，再由数据处理电路MCU对数据进行处理，转换成相应的锥入度值在显示器LCD上显示出来。
权利要求1.一种应用线性位移电位尺的锥入度仪，其特征是由线性位移电位尺(1)、模数转换器(ADC)、数据处理电路(MCU)、显示器(LCD)组成；其中线性位移电位尺(1)的导电塑料轨(1-1)和置于轨道中的滑块(1-2)动配合连接，滑块(1-2)的下端与锥体(2)连接；其中模数转换器(ADC)的输入端与导电塑料轨(1-1)、滑块(1-2)的输出线连接，而其输出端与数据处理电路(MCU)的输入端连接，数据处理电路(MCU)的输出端与显示器(LCD)连接。
专利摘要本实用新型提供一种应用线性位移电位尺的锥入度仪，由线性位移电位尺、模数转换器、数据处理电路、显示器组成。其中线性位移电位尺的导电塑料轨和置于其中的滑块动配合连接，滑块的下端连接有锥体。其中模数转换器的输入端与导电塑料轨以及滑块的输出线连接，而其输出端与数据处理电路的输入端连接，数据处理电路的输出端与显示器连接。本实用新型整个操作过程十分简单，测量精度高且重复性极好。
文档编号G01B7/02GK2852048SQ200520047289
公开日2006年12月27日 申请日期2005年12月8日 优先权日2005年12月8日
发明者牛平 申请人:上海精密科学仪器有限公司