专利名称：抽屉式寿命测试烤箱的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试用烤箱，尤其是指用于电子产品寿命测试一种抽屉式寿命测试烤箱。
背景技术：
很多电子产品如LCD面板等，通常需要进行必要的寿命性能测试，测试方法一般是将待测产品放入烤箱内进行加速老化实验，传统的测试用烤箱一般是在箱体内设置多层横向格板，将待测试的样品放置在格板上，关闭箱门后进行测试，因箱门的开启需要较大的空间，存在占地面积大的不足；同时，在需要对部分测试产品的测试状况进行检查时，需要将箱门全部打开，存在操作、使用不方便。本申请的发明人针对现有技术的不足，提出了一种抽屉式寿命测试烤箱的专利申请(申请号200520059201.5，申请日2005年6月6日)，解决了传统烤箱占地面积大、操作不使用方便的不足，但是，该方案中对抽屉式储物格的底部导向滚轮，采用两侧的槽形导轨和上、下导向柱、滚轮相结合的方式，存在结构复杂、移动不够灵活的不足。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、移动灵活的一种抽屉式寿命测试烤箱。
本实用新型的目的是这样实现的一种抽屉式寿命测试烤箱，包括箱体，在箱体内设有多个成纵向排列的抽屉式储物格，其中所述储物格底部下侧的箱体上设有两条成平行设置的圆柱形导轨，在储物格底部两边设有多个与圆柱形导轨相适应的滚轮。
本实用新型采用上述结构后，取消了槽形导轨和上导向柱，大大的简化了储物格的移动导向机构，一方便降低生产成本，另一方面储物格的移动更加灵活、省力。
以下结合附图中的实施例对本实用新型作进一步地详细说明，但不构成对本实用新型的任何限制。
图1是本实用新型的一种具体实施例的结构示意图。
图中1—箱体、2—储物格、3—圆柱形导轨、4—滚轮。
具体实施方式
参阅图1所示，本实用新型的抽屉式寿命测试烤箱，包括箱体1，在箱体1内设有六个成纵向排列的抽屉式储物格2，在每个储物格2底部下侧的箱体1上设有两条成平行设置的圆柱形导轨3，在储物格2的前后底部两边设有多个与圆柱形导轨3相适应的滚轮4。本实用新型具体使用时，可以轻松的将抽屉式储物格2拉出、推入，非常方便、灵活。
权利要求1.一种抽屉式寿命测试烤箱，包括箱体(1)，在箱体(1)内设有多个成纵向排列的抽屉式储物格(2)，其特征在于所述储物格(2)底部下侧的箱体(1)上设有两条成平行设置的圆柱形导轨(3)，在储物格(2)底部两边设有多个与圆柱形导轨(3)相适应的滚轮(4)。
专利摘要本实用新型提供了一种抽屉式寿命测试烤箱，包括箱体，在箱体内设有多个成纵向排列的抽屉式储物格，其中所述储物格底部下侧的箱体上设有两条成平行设置的圆柱形导轨，在储物格底部两边设有多个与圆柱形导轨相适应的滚轮。本实用新型具有结构简单、移动灵活的优点，用于电子产品的寿命测试。
文档编号G01R31/00GK2835985SQ20052011958
公开日2006年11月8日 申请日期2005年11月28日 优先权日2005年11月28日
发明者邵建国 申请人:志圣科技(广州)有限公司