专利名称：一种抽屉式寿命测试烤箱的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试用烤箱，尤其是指用于电子产品寿命测试一种抽屉式寿命测试烤箱。
背景技术：
很多电子产品如LCD面板等，通常需要进行必要的寿命性能测试，测试方法一般是将待测产品放入烤箱内进行加速老化实验，传统的测试用烤箱一般是在箱体内设置多层横向格板，将待测试的样品放置在格板上，关闭箱门后进行测试，因箱门的开启需要较大的空间，存在占地面积大的不足；同时，在需要对部分测试产品的测试状况进行检查时，需要将箱门全部打开，存在操作、使用不方便。本申请的发明人针对现有技术的不足，提出了一种抽屉式寿命测试烤箱的专利申请(申请号200520059201.5，申请日2005年6月6日)，解决了传统烤箱占地面积大、操作不使用方便的不足，但因抽屉式储物格需经常拉出检测受试样品，而抽屉式储物格未设置保温门，热量容易散失，存在能耗较高的不足。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、使用方便、可降低能源消耗的一种抽屉式寿命测试烤箱。
本实用新型的目的是这样实现的一种抽屉式寿命测试烤箱，包括箱体，在箱体内设有多个成纵向排列的抽屉式储物格，其中所述的储物格侧面设有透明的推拉式保温门。
上述的一种抽屉式寿命测试烤箱中所述的推拉式保温门为折叠式，这样使用更加方便。
本实用新型采用上述结构后，通过在储物格侧面设置透明的推拉式保温门，通过门也可以观测到受试样品的测试情况，而热量又不容易散失，降低能源消耗。
以下结合附图中的实施例对本实用新型作进一步地详细说明，但不构成对本实用新型的任何限制。
图1是本实用新型的一种具体实施例的结构示意图；图2是本实用新型中抽屉式储物格的结构示意图；图3是图2的俯视图；图4是图2的左视图。
图中1-箱体、2-抽屉式储物格、3-推拉式保温门。
具体实施方式
参阅图1至图4所示，本实用新型的一种抽屉式寿命测试烤箱，包括箱体1，在箱体1内设有多个成纵向排列的抽屉式储物格2，在储物格2侧面设有透明的PC推拉式保温门3，推拉式保温门3为折叠式。
本实用新型具体使用时，当需要拉出储物格2观测受测样品的测试情况时，可直接通过透明的PC推拉式保温门3直接观测，不需要将保温门3推开，以免热量散失，观测完毕后，将储物格2推入箱体1内，这样可以减小能源消耗。
权利要求1.一种抽屉式寿命测试烤箱，包括箱体(1)，在箱体(1)内设有多个成纵向排列的抽屉式储物格(2)，其特征在于所述的储物格(2)的两侧面设有透明的推拉式保温门(3)。
2.根据权利求1所述的一种抽屉式寿命测试烤箱，其特征在于所述的推拉式保温门(3)为折叠式。
专利摘要本实用新型提供了一种抽屉式寿命测试烤箱，包括箱体，在箱体内设有多个成纵向排列的抽屉式储物格，其中所述的储物格侧面设有透明的推拉式保温门。本实用新型具有结构简单、使用方便、可降低能源消耗的优点，用于电子产品的寿命测试。
文档编号G01R31/00GK2837818SQ20052011958
公开日2006年11月15日 申请日期2005年11月28日 优先权日2005年11月28日
发明者邵建国 申请人:志圣科技(广州)有限公司