专利名称：一种在嵌入式系统上实现分析电性能指标的方法
技术领域：
本发明涉及嵌入式系统技术领域，具体地说，尤其涉及一种在嵌入式系 统上实现分析电性能指标的方法。
背景技术：
电性能指标是衡量嵌入式系统性能的重要指标。良好的电性能指标，可 以降低工作电流，提高元器件的寿命。特别是对于采用电池为能量来源的嵌 入式系统显得尤为重要，良好的电性能设计能明显延长工作/待机时间，提 高用户的满意度。
对嵌入式系统进行合理的电性能指标分析是进一步优化、;险验嵌入式系 统电性能设计的基础。嵌入式系统的运行环境千差万别，但目前常用的做法 是在实验室使用仪器获得嵌入式的电性能指标，然而试验数据并不能反映嵌 入式系统在实际工作中的情况。这成为嵌入式系统电性能指标进一步优化和 检验优化结果的一大障碍。
发明内容
本发明所解决的技术问题在于提供一种在嵌入式系统上实现分析电性 能指标的方法，以解决嵌入式系统中电性能指标因运行环境的千差万别，造 成其分析困难这一技术问题。
为了解决上述问题，本发明提供了 一种在嵌入式系统上实现分析电性能
指标的方法，其特征在于，包括以下步骤
(1) 4企测流过所述嵌入式系统的工作电流；
(2 )按照设置的采样频率获得嵌入式系统的指定时间内的平均工作电 流，对有屏幕、文件系统的嵌入式设备可以通过嵌入式设备屏幕显示电流随时间的变化曲线，存储工作电流数据以备后续分析。
本发明所述的方法，其中，所述步骤(1)包括 (11 )在所述嵌入式系统的电源输出电路上串接一高精度、小阻值电阻； (12)对该电阻两端的模拟电压差进行模/数转换，获取该电压差的数
值；
(13 )根据所述电阻值和电压差的数值计算得到工作电流。 本发明所述的方法，其中，所述步骤(2)包括
(21 )按照设置的采样频率获得嵌入式系统的指定时间内的最大、最小、 平均工作电流；
(22)在嵌入式设备的屏幕上显示工作电流随时间变化曲线，反映嵌入 式系统的耗电情况；
(23 )将获取的工作电流数据按时间顺序存储在嵌入式系统中，并运用 这些数据进行后续分析处理。
进一步地，其中，所述高精度、小阻值电阻为0.1欧姆的高精度、小阻 值电阻。
进一步地，其中，所述步骤(21)包括 (211)根据嵌入式系统确定合适的采样频率； (212 )对一段时间内工作电流进行积分计算以得到积分电流；
(213) 根据所述积分电流与对应时间相除获得该时间内的平均工作电
流;
(214) 同时记录该时间内的最大和最小工作电流。
进一步地，其中，所述步骤(211)中采样频率为10Hz。
进一步地，其中，所述步骤(212)中计算积分电流采用如下方式当 采样频率足够小的时候，对一段时间内工作电流使用采样周期与样值乘积再 求和的方式来计算积分电流。
与现有技术相比较，本发明能够实现不使用仪器就可以获取嵌入式系统 的工作电流，可以获取嵌入式系统在实际工作环境中的耗电情况。由于实验室的嵌入式系统运行环境与实际运行环境差别很大，嵌入式系统的耗电情况 也存在很大差别，该发明摆脱了嵌入式系统电性能指标只能在实验室使用仪 器获取景况，获取的电性能指标更加客观真实。是改善嵌入式系统电性能设 计的基础，从而为增加嵌入式系统用户的满意度提供了保障。
图1是本发明所述一种在嵌入式系统上实现分析电性能指标的方法基
本流程图2为图1所述方法中步骤101的一个具体流程图； 图3为图1所述方法中步骤102的一个具体流程图。
具体实施例方式
本发明在这里提供了 一种在嵌入式系统上实现分析电性能指标的方法， 以解决嵌入式系统中电性能指标因运行环境的千差万别，造成其分析存在问 题。以下对具体实施方式
进行详细描述，^旦不作为对本发明的限定。
本发明适用于在嵌入式系统电性能指标的获取和分析，以在手机上实现 电性能指标分析为例进行阐述。
如何提高手机电性能指标，延长待机时间，是一个摆在手机研发、制造 业面前的一个难题。获取手机在实际工作环境中的工作电流是改进电性能指 标的基础，目前人们只能在实验室使用仪器获得手机的电性能指标，然而实 际使用环境比实验室要复杂的多，得出的结果并不能反映手机在实际使用环 境中的电性能指标。
采用图1所示的方法基本流程图，具体步骤包括
步骤101、通过检测电路中串接的电阻R两端的电压Rsense，就可以使 用AV/Rsense获取流过该电阻的电流，这个电流就是嵌入式系统工作的电流。 这样4企测出流过嵌入式系统的工作电流；
步骤102、以一定频率获取指定时间内的嵌入式工作电流，频率越高平
均工作电流计算越准确，但对硬件要求高且消耗更多能量， 一个参考频率是10Hz。采用积分方式计算平均工作电流，这个平均工作电流能用来评估该 嵌入式的平均耗电情况。按照10Hz (此值是一个经验值，采样频率越高积 分计算越准确，但高采样率对硬件要求高且消耗更多能量)左右的采样频率 获得嵌入式系统的指定时间内的不同工作电流，并通过嵌入式系统的屏幕显 示，然后存储所述工作电流数据以便运用到后续分析处理。
如图2所示，上述的方法，所述步骤101，包括如下步骤
步骤1011、在所述嵌入式系统的电源输出电路上串接一高精度、小阻 值电阻Rsense,该电阻的大小应该保证电路中所有的工作电流都能流过该电 阻，该电阻太大会过多消耗能，太小测量值不易精确， 一个参考值是0.1欧。；
步骤1012、对电阻Rsense两端的电压差(模拟量)进行模/数转换(电压
是一个模拟量，必须通过模/数转换，变成具体的电压值，才能在软件中进
行计算)，获取该电压差AV的数值；
步骤1013、计算工作电流I = AV/Rsense 。
如图3所示，上述的方法，所述步骤102，在指定时间n个采样周期T 内，获取的采样电流为I!、 12…In，平均工作电流1= (tj^/;)/"",简化后 公式1=(力/")/ 。，平均电流就是这段时间内的有嵌电流，用来计算该段 时间内消减的电量。具体包括如下步骤
步骤1021、以所述采样频率获取工作电流，计算指定时间内的最大、 最小、平均工作电流；
步骤1022、在嵌入式系统的屏幕上显示工作电流曲线，此电流曲线能 够直观反映嵌入式系统的耗电情况；
步骤1023、将获取的工作电流数据按时间顺序存储在嵌入式文件系统， 以便对这些数据进一步进行后续分析处理。
上述的方法，其特征在于，所述步骤1021，包括如下步骤
步骤10211、根据嵌入式系统确定合适的采样频率，这里大致按照10Hz 左右的采样频率；
步骤10212、对一段时间内工作电流进行计算积分电流(当采样频率足 够小的时候，可以使用采样周期与样值乘积再求和的方式来计算积分电流)；步骤10213、积分电流与对应时间相除获得该时间内的平均工作电流；
步骤10214、记录该时段内的最大和最小工作电流。
上述的方法，所述最大、最小、平均工作电流都是针对一段时间内的。
这里步骤1021、 1022和1023，即在手才几时间工作环境中通过手4几菜单 设置指定时间段的开始和结束，手机自动获取工作电流，并把结果保存在手 机上。根据不同的目的设置不同的时间段，就可以获得手机在时间工作过程 中的耗电情况。对没有屏幕、嵌入式文件系统的嵌入式设备步骤1022、 1023 可以省略，步骤1021获得平均工作电流后，基本上就能够知道嵌入式设备 功耗情况。
本发明通过实现嵌入式系统电性能指标分析，能够实现不使用仪器就可 以获取嵌入式的工作电流，可以获取嵌入式系统在实际工作环境中的耗电情 况。由于实验室的嵌入式运行环境与实际运行环境差别很大，嵌入式系统的 耗电情况也存在很大差别，该发明摆脱了嵌入式系统电性能指标只能在实验 室使用仪器获取景况，获取的电性能指标更加客观真实。是改善嵌入式系统 电性能设计的基础，增加嵌入式系统用户的满意度。
当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的 但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
1、一种在嵌入式系统上实现分析电性能指标的方法，其特征在于，包括以下步骤(1)检测流过所述嵌入式系统的工作电流；(2)按照设置的采样频率获得嵌入式系统的指定时间内的平均工作电流，对有屏幕、文件系统的嵌入式设备可以通过嵌入式设备屏幕显示电流随时间的变化曲线，存储工作电流数据以备后续分析。
2、 如权利要求l所述的方法，其特征在于，所述步骤(l)包括(11 )在所述嵌入式系统的电源输出电路上串接一高精度、小阻值电阻； (12)对该电阻两端的模拟电压差进行模/数转换，获取该电压差的数值；(13 )根据所述电阻值和电压差的数值计算得到工作电流。
3、 如权利要求l所述的方法，其特征在于，所述步骤(2)包括(21) 按照设置的采样频率获得嵌入式系统的指定时间内的最大、最小、 平均工作电流；(22) 在嵌入式设备的屏幕上显示工作电流随时间变化曲线，反映嵌入 式系统的耗电情况；(23 )将获取的工作电流数据按时间顺序存储在嵌入式系统中，并运用 这些数据进行后续分析处理。
4、 如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述高精度、小阻值电阻 为0.1欧姆的高精度、小阻值电阻。
5、 如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤(21)包括 (211)根据嵌入式系统确定合适的釆样频率；(212 )对一段时间内工作电流进行积分计算以得到积分电流；(213 )根据所述积分电流与对应时间相除获得该时间内的平均工作电流;(214)同时记录该时间内的最大和最小工作电流。
6、 如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述步骤(211)中采样频 率为10Hz。
7、 如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述步骤(212)中计算积 分电流采用如下方式当采样频率足够小的时候，对一段时间内工作电流使 用采样周期与样值乘积再求和的方式来计算积分电流。
全文摘要
本发明公开了一种在嵌入式系统上实现分析电性能指标的方法，包括以下步骤(1)检测流过嵌入式系统的工作电流；(2)按照设置的采样频率获得嵌入式系统的指定时间内的平均工作电流，对有屏幕、文件系统的嵌入式设备可以通过嵌入式设备屏幕显示电流随时间的变化曲线，存储工作电流数据以备后续分析。与现有技术相比较，本发明能够实现不使用仪器就可以获取嵌入式系统的工作电流，可以获取嵌入式系统在实际工作环境中的耗电情况。由于实验室的嵌入式系统运行环境与实际运行环境差别很大，嵌入式系统的耗电情况也存在很大差别，该发明摆脱了嵌入式系统电性能指标只能在实验室使用仪器获取景况，获取的电性能指标更加客观真实。
文档编号G01R19/00GK101545935SQ200810088018
公开日2009年9月30日 申请日期2008年3月27日 优先权日2008年3月27日
发明者武 王 申请人:中兴通讯股份有限公司