专利名称：在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法
技术领域：
本发明涉及一种测试机内电路的方法，尤其是一种测试微波产品机内电路 的方法。
背景技术：
微波产品具有非常复杂的微波电路系统，作为微波电路工程师，在设计电 路中必须十分小心，以解决数模电路、电磁兼容方面的问题。如何调试复杂的 微波电路系统，对微波工程师是比较困难的工作。如
图1所示，电路系统中包
括功能电路1和连接各功能电路，如功能电路ll、功能电路12和功能电路13 的微波传输线4， 一旦某一指标不合格或者要对系统中的某一功能电路，如功能 电路12进行测试，微波工程师只能将连接功能电路12输入与输出端的微波传 输线4在其41处与42处断开，以隔离功能电路12，再将功能电路12的前后各 焊接一根电缆31进行测试。这种方法破坏了原有电路系统，只适于在实验室调 试样机时采用，而不适于在产品的生产制造和维护时采用。
发明内容
本发明的目的是针对现有微波产品在进行测试时存在的破坏原有电路系统 的缺点，提供一种测试时不会破坏原有电路的测试方法。
为实现上述目的，本发明采用如下技术方案
一种在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，机内各功能
具体实施例方式
一种通过在机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，如图2或者图3 所示，机内微波电路系统包括各功能电路l，如功能电路ll、功能电路12和功 能电路13,各功能电路通过微波传输线4连接。
如图2或者图3所示，相邻两功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号 连接器2;连接器2包括第一金属弹片21和第二金属弹片22，如图2所示，第 二金属弹片22和第一金属弹片21接触时导通高频信号；如图3所示，第二金 属弹片22和第一金属弹片21断开时关断RF信号；其中，如图2或者图3所示， 在功能电路11和功能电路12之间，两个高频信号连接器2的连接方式如下
第一连接器2的第一金属弹片21与功能电路11的信号输出端连接；第一 连接器2的第二金属弹片22与第二连接器2的第二金属弹片22连接；第二连 接器2的第一金属弹片21与功能电路12的信号输入端连接；其它各功能电路 之间的两个连接器2的连接方式，如图2或图3中的功能电路12与功能电路13 之间的两个连接器2的连接方式与上述相同。
在本实施例中可以采用专利号为ZL 200720147786.5的髙频信号连接器， 如图2所示，常态时，高频信号连接器2的第一金属弹片21和第二金属弹片22 接触，高频信号导通，机体可以正常工作。
当需要对微波电路系统中的某一功能电路，如功能电路12进行测试时，如 图3所示，采用的方法是将两根测试电缆5的测试探头分别插入与其连接的 第二连接器2和第一连接器2内，此时，测试探头与第二连接器2和第一连接 器2的第一金属弹片21接触，并下压第一金属弹片21，使第一金属弹片21与
具体实施例方式
一种通过在机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，如图2或者图3 所示，机内微波电路系统包括各功能电路l，如功能电路ll、功能电路12和功 能电路13，各功能电路通过微波传输线4连接。
如图2或者图3所示，相邻两功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号 连接器2;连接器2包括第一金属弹片21和第二金属弹片22，如图2所示，第 二金属弹片22和第一金属弹片21接触时导通高频信号；如图3所示，第二金 属弹片22和第一金属弹片21断开时关断RF信号；其中，如图2或者图3所示， 在功能电路11和功能电路12之间，两个高频信号连接器2的连接方式如下
第一连接器2的第一金属弹片21与功能电路11的信号输出端连接；第一 连接器2的第二金属弹片22与第二连接器2的第二金属弹片22连接；第二连 接器2的第一金属弹片21与功能电路12的信号输入端连接；其它各功能电路 之间的两个连接器2的连接方式，如图2或图3中的功能电路12与功能电路13 之间的两个连接器2的连接方式与上述相同。
在本实施例中可以采用专利号为ZL 200720147786.5的高频信号连接器， 如图2所示，常态时，高频信号连接器2的第一金属弹片21和第二金属弹片22 接触，高频信号导通，机体可以正常工作。
当需要对微波电路系统中的某一功能电路，如功能电路12进行测试时，如 图3所示，采用的方法是将两根测试电缆5的测试探头分别插入与其连接的 第二连接器2和第一连接器2内，此时，测试探头与第二连接器2和第一连接 器2的第一金属弹片21接触，并下压第一金属弹片21，使第一金属弹片21与第二金属弹片22断开，将功能电路12从微波电路系统中隔离，由于两个测试 探头此时分别与第二连接器2和第一连接器2的第一金属弹片接触，所以通过 测试电缆连接测试装置，即可将功能电路12连接至测试电路中完成测试。
当测试完成后，只需拔出测试探头，由于第一金属弹片21具有弹性，所以 在撤销测试探头对其产生的下压力时，第一金属弹片21自动弹回原位与第二金 属弹片22接触，从而将功能电路12重新接入微波电路系统，而不会破坏原有 整个微波电路系统。
权利要求
1、一种在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，机内各功能电路彼此之间相互连接，形成微波电路系统；其特征在于每相邻两个功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号连接器，分别为第一连接器和第二连接器；其中，第一连接器的第一金属弹片与前一功能电路的信号输出端连接，第一连接器的第二金属弹片与第二连接器的第二金属弹片连接；第二连接器的第一金属弹片与后一功能电路的信号输入端连接；而后一功能电路的信号输出端与另一第一连接器的第一金属弹片连接；当对一功能电路进行测试时，将两根测试电缆的测试探头分别插入此功能电路两端的高频信号连接器内，测试探头与第一金属弹片接触、并下压第一金属弹片，使其与第二金属弹片分开，此时对此功能单元进行单独测试；测试完成后，拔出两根测试电缆的测试探头，此时第一金属弹片将弹回原位与各自的第二金属弹片重新接触，将此功能电路重新连接至微波电路系统中。
全文摘要
本发明公开了一种在微波产品机内电路设置连接器实现其可测试性的方法，机内各功能电路彼此之间相互连接；每相邻两个功能电路之间彼此反向地接入两个高频信号连接器，其中，高频信号连接器的第一金属弹片与功能电路的信号输入端或者信号输出端连接，而第二金属弹片与另一高频信号连接器的第二金属弹片连接；当对一功能电路进行测试时，将测试探头分别插入此功能电路两端的高频信号连接器内，测试探头下压第一金属弹片，使其与第二金属弹片分开，此时对此功能单元进行单独测试；测试完成后，拔出两根测试电缆的测试探头，第一金属弹片将弹回原位将此功能电路重新连接至微波电路系统中，解决了测量某一功能电路时破坏微波电路系统的问题。
文档编号G01R31/28GK101299056SQ20081009429
公开日2008年11月5日 申请日期2008年4月25日 优先权日2008年4月25日
发明者黄金亮 申请人:黄金亮