专利名称：：一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法及测试装置的制作方法
技术领域：
：本发明涉及真空紫外激发领域，尤其涉及等离子显示屏PDP荧光粉抗真空紫外光劣化情况的测试方法与测试装置。技术背景目前，等离子显示屏(PlasmaDisplayPanel)荧光粉抗真空紫外光劣化测试方面，大多是使用标准147nm光源灯在真空系统中直接激发荧光粉，进行抗真空紫外光劣化测试。还有方法是制作一种VUV灯，其原理是仿照气体放电原理，利用灯管制作工艺，在玻璃放电管内接入两个对等电极，往管内充入惰性气体，然后封接，给电极两端加上电压，从而使惰性气体放电，产生短波长的紫外光。在真空系统中直接激发荧光粉，进行抗真空紫外光劣化测试。以上两种方法都存在很多弊端，第一种方法，由于标准147mn光源比较昂贵，是好多用户都很难接受，加之长时间的老化，会影响光源灯的寿命。第二种方法，虽然比较经济容易实现，但是由于从灯管中所产生的短波长紫外光被玻璃所吸收，使其激发在荧光粉表面的紫外光能量很弱，达不到荧光粉的老化要求。
发明内容针对现有技术中用于测试等离子显示屏荧光粉的抗真空紫外光劣化性能的方法成本高，紫外光被玻璃所吸收的技术问题，本发明提出一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试装置，包括，玻璃放电管，一对金属电极,高频高压电源，在带槽玻璃片的槽中设置有荧光粉，带槽玻璃片上覆盖着玻璃片，覆盖着玻璃片的带槽玻璃片及其上的荧光粉设置在玻璃放电管中，一对金属电极相对应设置在玻璃放电管的外壁上，电极的一端连接高频高压电源的一端，电极的一端连接高频高压电源的另一端，在玻璃放电管的两端部分别设置有进气管道与排气管道。一种等离子显示屏荧光粉抗真空紫外劣化性能测试方法，包括如下步骤1)将荧光粉压制在带槽玻璃片上，在带槽玻璃片上盖上另一块玻璃片，然后然后将覆盖着另一块玻璃片的带槽玻璃片及其上的荧光粉放置在玻璃放电管中；2)将一对金属电极贴在玻璃放电管外壁相对应的位置上，并加以固定；3)用真空泵对玻璃放电管进行抽真空排气作业，当玻璃放电管内的真空度达到10'5Pa的压力后，往玻璃放电管内充入惰性混合气体到100Torr后密封玻璃放电管；4)将4一15KV的高频交流电压加在一对金属电极上，调整电压为1一3KV，继续激发惰性气体放电，电离出147nm和172nm紫外光，激发荧光粉发光；5)在玻璃放电管内老化24-72小时后，将荧光粉取出放到真空紫外光谱仪上进行老化后进行亮度和光谱测试，将具体测试数据与老化前的亮度和光谱的测试数据进行对比，评价荧光粉的真空紫外劣化性能。所述的玻璃放电管径在34cm，具体尺寸根据带槽玻璃片的尺寸大小来决定。所述的电极是铜电极，其宽度至少在lcm，两电极之间的距离需要根据玻璃放电管大小来调节，电极长度根据被测试样品数来定。所述步骤3)中的玻璃放电管的两端可以封闭或者不封闭，玻璃放电管中的真空度达到10-5Pa的压力。所述步骤3)中的玻璃放电管的真空度用惰性气体的压力来衡量，至少在100Torr。本发明的真空紫外激发系统，用于测试PDP荧光粉的抗真空紫外光劣化性能，本发明在玻璃放电管内无电极，电极是贴在玻璃放电管外面对应放置的，在电极上加上高频高压电压，使其激发管内的混合惰性气体分子产生147nm和172nm紫外辐射，从而激发PDP荧光粉发光。荧光粉在放电管内老化一段时间后，取出放到真空紫外光谱仪上进行老化前和老化后亮度、光谱对比测试，从而就可以评价荧光粉的真空紫外劣化性能。本发明可以简单快捷地完成对PDP荧光粉的抗真空紫外光劣化性能的测试。图1为本发明荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试装置示意图之一。图2为本发明荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试装置示意图之二。具体实施方式如图1所示，本发明的测试装置包括玻璃放电管l，带槽玻璃片3，带槽玻璃片3上设置有一方槽，需检测的荧光粉4被玻璃片5压在浅方槽中，覆盖有玻璃片5的带槽玻璃片3及其上的荧光粉4被摆放在玻璃放电管1里面，几个带槽玻璃片3依次排开，玻璃放电管1的管径在34cm，可以根据使用的带槽玻璃片3的尺寸大小来决定。玻璃放电管1的两端分别设置有进气管道9与排气管道10，进气管道9与排气管道10是与玻璃放电管1连通的细玻璃管，用来抽气和充入惰性气体。一对呈圆弧形状的金属电极6、7设置在玻璃放电管1的外壁上，金属电极的圆弧形状与玻璃放电管的圆形相吻合，相向设置，金属电极6、7分别连接高频高压电源8的两端。宽度至少在lcm，两电极之间的距离根据玻璃放电管1大小来调节，电极距离不同，放电的气压也不同，电极距离越大，气压越小，所要求电压越低，优选数值为100Torr。电极的长度尺寸根据需要测试的样品数量来确定。本发明的玻璃放电管1不封闭，如图1所示，图2是本发明的玻璃放电管1封闭，其使用过程与图1的使用过程是一样的。一种等离子显示屏荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法，包括如下步骤1)将荧光粉压制在带槽玻璃片上,槽的尺寸为20mmX10mmX0.5mm，在带槽玻璃片上盖上另一块玻璃片，然后然后将覆盖着另一块玻璃片的带槽玻璃片及其上的荧光粉放置在玻璃放电管中；2)将一对金属电极贴在玻璃放电管外壁相对应的位置上，并加以固定；3)用真空泵对玻璃放电管进行抽真空排气作业，当玻璃放电管内的真空度达到l(T5Pa的压力后，往玻璃放电管内充入惰性混合气体到100Torr后密封玻璃放电管；4)将4一15KV的高频交流电压加在一对金属电极上，调整电压为1一3KV，继续激发惰性气体放电，电离出147nm和172nm紫外光，激发荧光粉发光；5)在玻璃放电管内老化24-72小时后，将荧光粉取出放到真空紫外光谱仪上进行老化后进行亮度和光谱测试，将具体测试数据与老化前的亮度和光谱的测试数据进行对比，评价荧光粉的真空紫外劣化性能。把每个样品测试结果进行计算对比后，就可以得出各个样品抗真空紫外劣化性能的好坏。对本发明测试装置对真空度的要求如果玻璃放电管内的气体是处于一直对流的状态的，对真空度则没有具体要求，但如果玻璃放电管是封闭的，则需要将玻璃放电管中的氧气抽干净。实施例中，申请人将荧光粉放在玻璃放电管l中，在4KV启动，升到-15KV后，惰性气体开始激发时将电压调到8KV,激发惰性气体放电使荧光粉发光后，继续激发惰性气体放电，电离出147nm和172nm紫外光，将电压调低到2KV进行荧光粉老化，老化时间分别为24小时、48小时、72小时,进行计算对比后，得出各个样品抗真空紫外劣化性能数据。从实验数据中可以明显看出，在不同的老化时间段内样品的亮度衰减比标准品要大，色度X值上升的幅度也比较大，说明样品的抗真空紫外劣化性能比较差，具体数据见附表K附表2。真空紫外劣化实验数据-<table>tableseeoriginaldocumentpage9</column></row><table>附表2真空紫外劣化分析数据权利要求1.一种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试装置，包括，玻璃放电管(1)，一对金属电极(6、7)，高频高压电源(8)，其特征在于在带槽玻璃片(3)的槽中设置有荧光粉(4)，带槽玻璃片(3)上覆盖着玻璃片(5)，覆盖着玻璃片(5)的带槽玻璃片(2)及其上的荧光粉(4)设置在玻璃放电管(1)中，一对金属电极(6、7)相对应设置在玻璃放电管(1)的外壁上，电极(6)的一端连接高频高压电源(8)的一端，电极(7)的一端连接高频高压电源(8)的另一端，在玻璃放电管(1)的两端部分别设置有进气管道(9)与排气管道(10)。2.—种荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法,其特征在于，包括如下步骤1)将荧光粉压制在带槽玻璃片上，在带槽玻璃片上盖上另一块玻璃片，然后将覆盖着另一块玻璃片的带槽玻璃片及其上的荧光粉放置在玻璃放电管中；2)将一对金属电极贴在玻璃放电管外壁相对应的位置上，并加以固定；3)用真空泵对玻璃放电管进行抽真空排气作业，当玻璃放电管内的真空度达到l(T5Pa的压力后，往玻璃放电管内充入惰性混合气体到100Torr后，密封玻璃放电管；4)将4一15KV的高频交流电压加在一对金属电极上，调整电压为1一3KV，继续激发惰性气体放电，电离出147nm和172nm紫外光，激发荧光粉发光；5)在玻璃放电管内老化24-72小时后，将荧光粉取出放到真空紫外光谱仪上老化后进行亮度和光谱的数据测试，将具体测试数据与老化前的亮度和光谱的测试数据进行对比，评价荧光粉的真空紫外劣化性能。3.根据权利要求2所述的荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法，其特征在于所述的玻璃放电管径在3—4cm，具体尺寸根据带槽玻璃片的尺寸大小来决定。4.根据权利要求2所述的荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法，其特征在于所述的电极是铜电极，其宽度至少在lcm，两个电极之间的距离根据玻璃放电管的直径大小来调节，电极长度根据被测试样品在玻璃放电管中的位置来确定。5.根据权利要求2所述的屏荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法，其特征在于所述步骤3)中的玻璃放电管的两端可以封闭或者不封闭，则玻璃放电管中的真空度达到10—spa的压力。6.根据权利要求2所述的荧光粉抗真空紫外劣化性能的测试方法，其特征在于所述步骤3)中的玻璃放电管的真空度用惰性气体的压力来衡量，电压越低，至少在100Torr。全文摘要本发明涉及真空紫外激发领域，尤其涉及等离子显示屏荧光粉抗真空紫外光性能的测试方法，步骤如下1)将荧光粉压在带槽玻璃片上，放置在玻璃放电管中；2)金属电极贴在玻璃放电管外壁上；3)对玻璃放电管抽真空，充入惰性气体后密封；4)将高频交流电压加在金属电极上，调整电压激发惰性气体放电，激发荧光粉发光；5)在玻璃放电管内老化。测试装置，包括，玻璃放电管，金属电极，高频高压电源，在带槽玻璃片的槽中设置有荧光粉，放置在玻璃放电管中，金属电极设置在玻璃放电管的外壁上，电极连接高频高压电源，在玻璃放电管的两端部分别设置有进气管道与排气管道。本发明可以简单快捷地完成对PDP荧光粉的抗真空紫外光劣化性能的测试。文档编号G01N17/00GK101592586SQ200910023160公开日2009年12月2日申请日期2009年7月1日优先权日2009年7月1日发明者翔赵,涛郭申请人:彩虹集团电子股份有限公司