专利名称：一种测试向量的调节对比方法
技术领域：
本技术主要应用于逻辑芯片IC测试领域，特别是一种测试向量的调节对比方法。
背景技术：
众所周知，提高测试效率的关键在于缩短测试时间。要保障芯片逻辑功能的 正确性就必须提高故障覆盖率，为了达到这个目的必须创建测试向量进行测试。 由于测试向量的容量大导致测试时间过长，是当前测试效率低、成本高的主要原 因。IC功能测试用于保证被测器件能够正确完成预期功能。为了达到这个目的必须先建立测试向量，才能进行检测代测器件的错误。测试向量也称作图形或者真值表一--由输入和输出状态组成，具有以下三种状态1、 逻辑0，输入输出0状态；2、 逻辑l，输入输出l状态；3、 忽略(X)，没有输入或者输出不需要比较状态。 测试向量分为1、 输入数据测试向量一一需要送入待测系统的数据；2、 标准数据测试向量--一期望IC回流的数据；3、 回流数据测试向量一一IC实际回流的数据。如图l所示，在现有的测试平台中是将回流数据测试向量全部存到存储器中， 再由后台从存储器中取出回流数据测试向量与标准数据测试向量进行比较。在扫描链的测试中数据量大这是众所周知的，而数据量大直接影响测试时间。 在现有的测试方法中是将回流数据先放在存储器中，再由后台软件进行处理，这 样不仅测试速度慢而且需要较大的存储空间。同时，后台软件的处理速度远远比不上硬件处理的速度。而现有技术对忽略 数据位的处理是采用后台软件将标准数据测试向量中的忽略信息提取出来，当检 测到是忽略数据后控制将其忽略，使之不参与比较。这样的处理方法使得标准数据测试向量与回流数据测试向量的比较要慢一个节啪，而这部分时间大都消耗在了后台软件对忽略数据位的处理。这样又大大增加了测试的时间。发明内容本发明为解决上述问题，提供了一种测试向量的调节对比方法，回流数据不 需要放回存储器，忽略数据位参与比较，可以大大节省存储空间，而且测试时间 较短。本发明的技术方案如下一种测试向量的调节对比方法，将存储器中的数据测试向量输入至待测系统， 待测系统输出回流数据测试向量，在存储器中的标准数据测试向量和回流数据测 试向量进行对比的过程中，其特征在于首先判断标准数据测试向量是否含有忽 略数据，当含有忽略数据时，对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏蔽， 生成屏蔽数据测试向量，同时将回流数据测试向量相同的位置也屏蔽，然后将屏 蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同；当不含有忽略数据 时，标准数据测试向量与回流数据测试向量直接进行比较判断是否相同。所述屏蔽数据测试向量与标准数据测试向量等位宽。实现上述方法的调节对比电路，其特征在于设置有一个忽略数据位调节模块，用于判断忽略数据，对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量；设置有一个比较模块，用于标准数据测试向量与回流数据测试向量进行比较； 所述忽略数据位调节模块对标准数据测试向量进行判断，当含有忽略数据时，对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量，然后通过比较模块对屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行判断是否相同；当不含有忽略数据时，直接通过比较模块对标准数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同。所述忽略数据位调节模块包括标准数据测试向量数据通道。 所述忽略数据位调节模块为一个逻辑电路，永远处于激活状态。 对标准数据测试向量的忽略数据的位置进行屏蔽时，该位置被置成逻辑0，其他位被置成逻辑l;同时，回流数据测试向量相同的位置也置成逻辑O，其他位被置成逻辑l。所述比较模块由两个与门组成，屏蔽数据测试向量与标准数据测试向量、回流数据测试向量分别输入至两个与门，然后通过异或操作，得出比较结果，两个 数据如果相同测输出0，相异则输出为l。本发明的有益效果如下本方法采用硬件实时比较，回流数据不需要放回存储器，从而可以大大节省 存储空间；由于是硬件实时对比的方法，忽略数据位经过特殊处理后参与比较， 这样测试时间较短。
图1为传统的测试向量对比方法示意2为本发明的对比示意3为本发明的忽略数据位调节模块实现流程4为本发明对标准数据测试向量忽略位的解码处理示意5为本发明的忽略数据位处理流程示意图具体实施方式
如图2-3所示， 一种测试向量的调节对比方法，将存储器中的数据测试向量 输入至待测系统，待测系统输出回流数据测试向量，在存储器中的标准数据测试 向量和回流数据测试向量进行对比的过程中，首先判断标准数据测试向量是否含 有忽略数据，当含有忽略数据时，对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏 蔽，生成屏蔽数据测试向量，同时将回流数据测试向量相同的位置也屏蔽，然后 将屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同；当不含有忽略数据时，标准数据测试向量与回流数据测试向量直接进行比较判断是否相同。 所述屏蔽数据测试向量与标准数据测试向量等位宽。如图2所示，虚线框为调节主要功能模块，箭头1为标准数据测试向量数据 通路。实现上述方法的调节对比电路设置有一个忽略数据位调节模块，用于判断忽略数据，对忽略数据进行解码， 并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量；设置有一个比较模块，用于标准数据测试向量与回流数据测试向量进行比较； 所述忽略数据位调节模块对标准数据测试向量进行判断，当含有忽略数据时， 对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量，然后 通过比较模块对屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行判断是否相同；当不 含有忽略数据时，直接通过比较模块对标准数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同。
所述忽略数据位调节模块包括标准数据测试向量数据通道。 所述忽略数据位调节模块为一个逻辑电路，永远处于激活状态。 对标准数据测试向量的忽略数据的位置进行屏蔽时，该位置被置成逻辑o，其
他位被置成逻辑l;同时，回流数据测试向量相同的位置也置成逻辑O，其他位被
置成逻辑l。
所述比较模块由两个与门组成，屏蔽数据测试向量与标准数据测试向量、回 流数据测试向量分别输入至两个与门，然后通过异或操作，得出比较结果，两个 数据如果相同测输出0，相异则输出为1。
有了忽略数据位调节模块和比较模块两个逻辑电路的配合，回流数据测试向 量不需要放回存储器后再通过后台软件进行比较，可以直接进行实时比较，即将 标准数据测试向量和回流数据测试向量进行异或操作。整个过程都是由逻辑电路 完成的，而且回流数据测试向量不需要放会存储器忽略数据位不需要由后台软件 判断所以大大节约的测试时间和存储空间。
如图4所示，本调节对比方法的具体对比实例，标准数据测试向量是32位宽 度，忽略数据位调节模块读入后进行解码，当标准数据测试向量中两个X的位置 包含忽略数据时，该逻辑电路将产生一个与标准数据测试向量等位宽(32位宽度) 的数据，将两个X的位置置为O。
如图5所示，左边数据为标准数据测试向量，中间数据为屏蔽数据测试向量， 右边数据为回流数据测试向量。将忽略数据位调节模块产生的屏蔽数据测试向量 通过两个与门分别实现与标准数据测试向量和回流数据测试向量相与，将标准数 据测试向量和回流数据测试向量的忽略数据位置成0。
权利要求
1、一种测试向量的调节对比方法，将存储器中的数据测试向量输入至待测系统，待测系统输出回流数据测试向量，在存储器中的标准数据测试向量和回流数据测试向量进行对比的过程中，其特征在于首先判断标准数据测试向量是否含有忽略数据，当含有忽略数据时，对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量，同时将回流数据测试向量相同的位置也屏蔽，然后将屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同；当不含有忽略数据时，标准数据测试向量与回流数据测试向量直接进行比较判断是否相同。
2、 根据权利要求l所述一种测试向量的调节对比方法，其特征在于所述屏 蔽数据测试向量与标准数据测试向量等位宽。
3、 实现权利要求l所述一种测试向量的调节对比方法的调节对比电路，其特 征在于 设置有一个忽略数据位调节模块，用于判断忽略数据，对忽略数据进行解码， 并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量；设置有一个比较模块，用于标准数据测试向量与回流数据测试向量进行比较；所述忽略数据位调节模块对标准数据测试向量进行判断，当含有忽略数据时， 对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量，然后 通过比较模块对屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行判断是否相同；当不 含有忽略数据时，直接通过比较模块对标准数据测试向量与回流数据测试向量进 行比较判断是否相同。
4、 根据权利要求3所述的调节对比电路，其特征在于所述忽略数据位调节 模块包括标准数据测试向量数据通道。
5、 根据权利要求3所述的调节对比电路，其特征在于所述忽略数据位调节 模块为一个逻辑电路，永远处于激活状态。
6、 根据权利要求3所述的调节对比电路，其特征在于对标准数据测试向量 的忽略数据的位置进行屏蔽时，该位置被置成逻辑O，其他位被置成逻辑l;同时， 回流数据测试向量相同的位置也置成逻辑O，其他位被置成逻辑1。
7、 根据权利要求3所述的调节对比电路，其特征在于所述比较模块由两个与门组成，屏蔽数据测试向量与标准数据测试向量、回流数据测试向量分别输入 至两个与门，然后通过异或操作，得出比较结果，两个数据如果相同测输出0，相异则输出为1。
全文摘要
本发明公开了一种测试向量的调节对比方法，将存储器中数据测试向量输入至待测系统，待测系统输出回流数据测试向量，标准数据测试向量和回流数据测试向量进行对比的过程中，判断标准数据测试向量是否含有忽略数据，当含有忽略数据时，对忽略数据进行解码并屏蔽忽略数据的位置，生成屏蔽数据测试向量，同时将回流数据测试向量相同的位置也屏蔽，然后将屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同；当不含有忽略数据时，标准数据测试向量与回流数据测试向量直接进行比较；本方法采用硬件实时比较，回流数据不需放回存储器，从而可以大大节省存储空间；由于是硬件实时对比方法，忽略数据位经过特殊处理后参与比较，测试时间较短。
文档编号G01R31/317GK101644744SQ20091006023
公开日2010年2月10日 申请日期2009年8月3日 优先权日2009年8月3日
发明者危建国 申请人:和芯微电子(四川)有限公司