专利名称：楔形塞尺校准装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种校准装置，尤其涉及一种用于对楔形塞尺的刻度进行校准的
装置。
背景技术：
楔形塞尺是用于对部件之间的间隙进行测量的一种器具，目前市场上契形塞尺一 般为进口的较多如韩国、日本，国内的台湾也有生产，其它生产较少。现阶段国家未有对楔 形塞尺进行校准的相应规程，因此契形塞尺量值溯源成为一大攻关的课题，而量值准确是 反映产品质量控制的基础保证。该问题主要是由于契形塞尺校准时的定位不准造成的。而 该校准缺少试验手段不能判断其示值性能是否合格，因此该问题久久未能解决，给生产和 质量带来了较大影响。现在对楔形塞尺通行的校准的手段是采用量块组合进行检测，该手 段是先利用三块或四块量块组合成具有一定尺寸空间测量体，然后再往该空间内插入塞 尺，利用相互平行的两块量块与塞尺相接触，看接触点位置处的示值与量块之间的距离是 否一致，或误差的大小。这种校准手段在进行校准时易造成量块测量面被塞尺不小心划伤， 测量时又需对量块进行组合后才能实现比对测量，导致因人为未组合到位产生定位不准及 测量点不在同一条直线上测量带来的误差。
发明内容为克服上述缺陷，本实用新型需要解决的技术问题是提供一种楔形塞尺校准装 置，其具有结构简单、校准操作方便、速度快、校准值准确的优点。 为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案一种楔形塞尺校准装置，包括底 座、用于和塞尺相配合的校准件，校准件位于底座上，其特征在于，校准件与底座之间为可 拆卸连接，所述校准件内部具有贯穿的测量孔，在底座上于测量孔的位置处具有与测量孔 相通的空间，该空间用于穿过塞尺的端部。在对楔形塞尺进行校准时，把楔形塞尺的端部直 接插入到测量孔内，楔形塞尺的两侧面分别与测量孔的口部内侧相接触，读出接触点位置 处塞尺的刻度值，把该刻度值与测量孔的内径值进行比对，即可得出该刻度值的误差情况。 测量孔的内径值应预先得知，且测量孔的内径应小于楔形塞尺的最大宽度值。校准件一般 是直接搁置在底座上，也可以在底座上设置用于限定校准件位置的限位件，或者是在底座 上设置用于夹持校准件的夹持结构。
作为优选，所述校准件的截断面呈圆环状。该校准件实际是环规，利用环规的内径 作为基准用于对楔形塞尺进行校准，扩大了环规的适用范围，且对塞尺校准的准确性高。 作为优选，所述校准件的端面上沿其径向设有刻痕和标示测量孔内径大小的标 识。该刻痕用于指示塞尺与环规相接触的位置，在进行校准操作时，塞尺直接从该刻痕的位 置处插入到环规内部。 作为优选，所述底座为块状，底座的侧面上设有梯形槽，在底座上设有沟通校准件 测量孔和梯形槽的透孔，所述的空间形成在透孔内。在进行校准操作时，在正常情况下，楔形塞尺的端部会进入到透孔内，以便楔形塞尺的两侧边分别与环规的口部相接触。 作为优选，所述底座上设有定位环，定位环包覆在校准件的外周面上。定位环的高
度一般要小于校准件的高度，校准件处于定位环内时，校准件的上端部会突出到定位环的
外侧，便于对校准件的拿取。定位环的设置方便了校准件的放置，便于校准件在底座上的快
速定位。
因此，本实用新型的有益效果 把校准件设置在底座上，在校准件内部设置标准内径的测量孔，通过往测量孔内 插入塞尺，塞尺与测量孔的口部相接触，把塞尺上接触点处的刻度值与测量孔的内径值相 比较，即可得出该刻度值是否出现偏差，从而也就完成了对塞尺上该刻度值的校准。校准块 与底座为可拆卸式连接，这样可以很方便地对具有不同内径测量孔的校准块进行更换，从 而可以对楔形塞尺上的多个刻度值进行校准，为楔形塞尺在实际的测量工作中的准确示值 提供了保证。在底座上设置用于塞尺端部穿过的空间，这为楔形塞尺的校准操作提供了方 便。
附图1是本实用新型楔形塞尺校准装置使用状态下的纵向剖视图。
具体实施方式见图中，本实用新型楔形塞尺校准装置的结构包括块状的底座1和设于底座1上 的校准件2。校准件2为圆环状，它实际上是环规，其内部具有通透的测量孔。在底座l上 设有用于楔形塞尺3端部穿过的空间，该空间与校准件2中的测量孔相通。 所述底座1的侧面位置处设有梯形槽6，在底座1上设有透孔5，上述的空间形成 在透孔5内，透孔5沟通测量孔和梯形槽6。 在底座1上于透孔5的外周设有突出的定位环4，定位环4间隙地包覆在校准件2 下端的外周面上，定位环4的高度要小于校准件2的高度。环规的外径大小一般都是相同 的，只是其内径有一定的变化，环规是直接搁置到定位环4内。 校准件2的两端面上设有刻痕，该刻痕沿校准件2的径向方向布置。校准件2的 两端面上还设有刻度值标识，该刻度值用于显示测量孔的内径大小。 在图中，校准件2是直接搁置在底座1上的，当然也可以在底座1上设置一可动作 的夹持装置，用于对校准件2进行夹持。
权利要求一种楔形塞尺校准装置，包括底座、用于和塞尺相配合的校准件，校准件位于底座上，其特征在于，校准件(2)与底座(1)之间为可拆卸连接，所述校准件(2)内部具有贯穿的测量孔，在底座(1)上于测量孔的位置处具有与测量孔相通的空间，该空间用于穿过塞尺(3)的端部。
2. 根据权利要求1所述的楔形塞尺校准装置，其特征在于，所述校准件(2)的截断面呈 圆环状。
3. 根据权利要求2所述的楔形塞尺校准装置，其特征在于，所述校准件(2)的端面上沿 其径向设有刻痕和标示测量孔内径大小的标识。
4. 根据权利要求1、2或3所述的楔形塞尺校准装置，其特征在于，所述底座(1)为块 状，底座(1)的侧面上设有梯形槽(6)，在底座(1)上设有沟通校准件(2)测量孔和梯形槽 (6)的透孔(5)，所述的空间形成在透孔(5)内。
5. 根据权利要求4所述的楔形塞尺校准装置，其特征在于，所述底座(1)上设有定位环 (4)，定位环(4)包覆在校准件(2)的外周面上。
专利摘要本实用新型公开了一种楔形塞尺校准装置。其解决了现有对楔形塞尺刻度值进行校准时操作不便，校准的准确性差，易对校准件的表面产生划伤的问题。所采取的技术措施一种楔形塞尺校准装置，包括底座、用于和塞尺相配合的校准件，校准件位于底座上，其特征在于，校准件与底座之间为可拆卸连接，所述校准件内部具有贯穿的测量孔，在底座上于测量孔的位置处具有与测量孔相通的空间，该空间用于穿过塞尺的端部。
文档编号G01B3/46GK201548151SQ20092031255
公开日2010年8月11日 申请日期2009年10月15日 优先权日2009年10月15日
发明者吴玲萍, 李书福, 杨健, 潘巨林 申请人:浙江豪情汽车制造有限公司;浙江吉利控股集团有限公司