专利名称：一种个人剂量计能量分档刻度测量的方法
技术领域：
本发明属于辐射防护及测量技术领域，具体涉及一种个人剂量计能量分档刻度测量的方法。
背景技术：
X、γ射线个人剂量计主要供从事放射性工作的人员作为X、Y射线辐射的个人剂量监测使用，这类剂量计具有读数直观、性能可靠、携带方便、操作简单的特点，在核工业领域以及放射医学领域被广泛使用。剂量计一般是通过在标准源的标准场中进行刻度，得到刻度系数，然后利用刻度系数进行具体的辐射剂量测量工作。目前，国产的用于X、Y射线剂量测量的电子个人剂量计适用的能量范围通常在 50KeV 1. 5MeV之间，此测量范围通常能够满足大部分场合的个人剂量测量的需要，但在以低能量射线照射为主的情况下，例如放射介入治疗、X射线诊断等医学领域，则难以满足需要。国外一些先进的X、Y电子剂量计适用的能量范围可以达到15KeV 9MeV，可以同时满足医疗与核工业领域剂量测量的需要，但其能量响应补偿技术一般不公开，无法直接引用其方法。
发明内容
本发明的目的在于针对目前通用的X、Y射线个人剂量计无法满足低能量射线照射测量的情况，提供一种个人剂量计能量分档刻度测量的方法，使一个剂量计能够满足更多场合的个人剂量测量的需要。为实现上述目的，本发明的技术方案如下一种个人剂量计能量分档刻度测量的方法，包括如下步骤(1)将个人剂量计分别置于低能标准场和高能标准场，分别得到相应的刻度系数， 将两个刻度系数存入剂量计中；(2)对个人剂量计所应用的放射性场所的射线能量范围进行预先估计；(3)根据射线能量范围的估计情况，调用个人剂量计内不同档的刻度系数，进行辐射剂量的测量。进一步，如上所述的个人剂量计能量分档刻度测量的方法，其中，低能标准场采用的辐射质为N-40，平均能量为33KeV，高能标准场采用137Cs或6tlCo标准源。进一步，如上所述的个人剂量计能量分档刻度测量的方法，步骤O)中估计放射性场所的射线能量范围是80KeV以下为主，还是50KeV以上为主，还是50KeV-80KeV之间为主。进一步，如上所述的个人剂量计能量分档刻度测量的方法，步骤(3)中如果估计放射性场所的射线能量范围是SOKeV以下为主，则选择低能档的刻度系数；如果估计放射性场所的射线能量范围是50KeV以上为主，则选择高能档的刻度系数；如果估计放射性场所的射线能量范围是50KeV-80KeV之间为主，则可以任意选择低能档的刻度系数或高能档的刻度系数。本发明的有益效果如下本发明采用对不同能量的射线采用不同的刻度系数的方法，使个人剂量计具有对不同能量的射线进行分档测量的功能，分为低能档与高能档，用户只要预先知道剂量计所在的场合的大致的能量范围，就可以通过选择测量档位的方式，实现对不同能量范围辐射剂量的测量，以使得一个剂量计能够满足更多场合的个人剂量测量的需要。
具体实施例方式下面结合实施例对本发明进行详细的描述。本发明采用对不同能量的射线使用不同的刻度系数的方法来解决目前通用的X、 Y射线个人剂量计无法满足低能量射线照射测量的问题。用户需要预先知道剂量计所在的场合的大致的能量范围。一般在放射介入治疗、 X射线诊断等医疗领域，辐射现场射线以低于SOKeV的X射线为主；在核工业的大多数领域以及Y刀治疗等医学领域，辐射现场射线以50KeV以上为主，因此，“预先知道剂量计所在的场合的大致的能量范围”这个前提条件一般是可以满足的。
具体实施方式
主要是通过刻度与软件实现。将剂量计分别置于低能标准场与高能标准场得到不同的刻度系数，将两个系数存入剂量计中。低能标准场可采用符合GB/T 12162. X-2004《用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和、参考辐射》的辐射质为N-40 (平均能量33KeV)的辐射场。高能标准场可采用137Cs或6tlCo源。在现场，剂量计进行使用前，对个人剂量计所应用的放射性场所的射线能量范围进行预先估计，人工通过按键选择剂量计的档位，使内部软件程序调用不同的刻度参数，然后进行测量。如果预知现场射线的能量范围以SOKeV以下为主，则将剂量计设置为低能档，采用低能档刻度系数；如果预知现场射线能量范围以50KeV以上为主，则将剂量计设置为高能档，采用高能档刻度系数。对于上述能量范围重叠的部分，可以使用任意档。采用分档刻度的方法，得到两组刻度系数，低能档适于测量20 SOKeV能量范围的Χ、γ射线的个人剂量当量，高能档适于测量50KeV 1.5MeV能量范围的X、γ射线的个人剂量当量。通过这种分档刻度测量的方法，使得一台剂量计能够满足更多场合的剂量测量的需要。显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其同等技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求
1.一种个人剂量计能量分档刻度测量的方法，包括如下步骤(1)将个人剂量计分别置于低能标准场和高能标准场，分别得到相应的刻度系数，将两个刻度系数存入剂量计中；(2)对个人剂量计所应用的放射性场所的射线能量范围进行预先估计；(3)根据射线能量范围的估计情况，调用个人剂量计内不同档的刻度系数，进行辐射剂量的测量。
2.如权利要求1所述的个人剂量计能量分档刻度测量的方法，其特征在于步骤(1) 中，低能标准场采用的辐射质为N-40，平均能量为33KeV ；高能标准场采用137Cs或6tlCo标准源。
3.如权利要求1所述的个人剂量计能量分档刻度测量的方法，其特征在于步骤 (2)中，估计放射性场所的射线能量范围是SOKeV以下为主，还是50KeV以上为主，还是 50KeV-80KeV之间为主。
4.如权利要求3所述的个人剂量计能量分档刻度测量的方法，其特征在于步骤(3) 中，如果估计放射性场所的射线能量范围是SOKeV以下为主，则选择低能档的刻度系数；如果估计放射性场所的射线能量范围是50KeV以上为主，则选择高能档的刻度系数；如果估计放射性场所的射线能量范围是50KeV-80KeV之间为主，则可以任意选择低能档的刻度系数或高能档的刻度系数。
全文摘要
本发明属于辐射防护及测量技术领域，具体涉及一种个人剂量计能量分档刻度测量的方法。该方法将个人剂量计分别置于低能标准场和高能标准场，分别得到相应的刻度系数，将两个刻度系数存入剂量计中；对个人剂量计所应用的放射性场所的射线能量范围进行预先估计；根据射线能量范围的估计情况，调用个人剂量计内不同档的刻度系数，进行辐射剂量的测量。本发明能够使一个剂量计能够满足更多场合的个人剂量测量的需要。
文档编号G01T1/02GK102478659SQ20101057256
公开日2012年5月30日 申请日期2010年11月30日 优先权日2010年11月30日
发明者张志勇, 陈宝维 申请人:中国辐射防护研究院