专利名称：电路板测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型关于一种电路板测试治具，尤指可增加各接触单元的体积，而达到增 加结构强度以及延长使用寿命的功效的电路板测试治具。
背景技术：
公知的电路板测试治具结构(如图1、2及图3所示)，其主要包括一底座6、一万 用密度板模块7、一针板8及接触单元9所构成；该底座6上设有多个可供插接各测试仪器 插头的测试插槽62，各测试插槽62连接有导线61，而该针板8则依待测电路板5的电路上 待测试的点而设有多个贯穿顶、底二侧的探针81 ；该万用密度板模块7则包括有第一密度 板71、第二密度板72、第三密度板73及束套薄膜74，其中该束套薄膜74设于第二密度板72 及第三密度板73之间，且该第一、二及第三密度板71、72、73上设有多数相连通的孔洞711、 721、731，且于各第二及第三密度板72、73的孔洞721、731内分别容纳有接触单元9，而各接 触单元9具有一套筒91、一设于套筒91内的弹簧92，而该弹簧92与探针81之间设有一顶 针93，并使各导线61分别连接于各套筒91底部，而各套筒91刺穿该束套薄膜74后使其颈 部由束套薄膜74加以限位；如此，可使该待测电路板5经由探针81、弹簧92、导线61及测 试插槽62而与外部的测试仪器形成电连接。但是由于各接触单元9于设置时，以其套筒91的颈部由束套薄膜74加以限位，而 使得各接触单元9因受到束套薄膜74的限制而无法增其的体积，导致各接触单元9的体积 较为细小，而造成整体的结构强度较弱进而影响其使用寿命。因此，如何创作出一种电路板测试治具，以使其达到可增加各接触单元的体积、结 构强度以及延长使用寿命的功效，将是本实用新型所欲积极揭露之处。
发明内容有鉴于上述公知电路板测试治具的缺憾，实用新型人有感其未臻于完善，遂竭其 心智悉心研究克服，凭其从事该项产业多年的累积经验，进而研发出一种电路板测试治具， 以期达到可增加各接触单元的体积、结构强度以及延长使用寿命的目的。本实用新型的主要目的在提供一种电路板测试治具，其借着让各接触单元设于第 二密度板中，且使各顶针由束套薄膜加以限位，致使可增加各接触单元的体积，进而达到增 加结构强度以及延长使用寿命的目的。为达上述目的，本实用新型的电路板测试治具包含一底座；一设于底座一侧的 密度板模块，其包含有相互层迭的第一密度板、第二密度板及第三密度板；一设于第二及第 三密度板间的束套薄膜；以及一设于密度板模块上的针板模块，其包含有一设于第三密度 板上的板体、分别设于第二密度板中的接触单元、分别连接各接触单元底面且延伸出第一 密度板的导线、分别活动设于各接触单元顶端且由束套薄膜加以限位的顶针、及分别与各 顶针抵接且设于板体上的探针。于本实用新型的一实施例中，该底座上设有多数插槽，而各插槽分别与导线连接。[0009]于本实用新型的一实施例中，该第一密度板、第二及第三密度板上设有多数相对 应的通孔，而各接触单元分别设于第二密度板的各通孔中，各导线分延伸出别第一密度板 的各通孔，各顶针分别设于第三密度板的各通孔中且由束套薄膜加以限位。于本实用新型的一实施例中，该各接触单元42底端与导线43连接，且顶端与顶针 44相互顶掣。藉此，本实用新型的一种电路板测试治具，可让各接触单元设于第二密度板中，且 使各顶针由束套薄膜加以限位，如此便可增加各接触单元的体积，而达到增加结构强度以 及延长使用寿命的功效。
[0012]图1为公知的电路板测试治具的分解图。[0013]图2为公知的电路板测试治具的剖视图。[0014]图3为图2的A部分的局部放大图。[0015]图4为本实用新型较佳具体实施例的分解图。[0016]图5为本实用新型较佳具体实施例的立体图。[0017]图6为本实用新型较佳具体实施例的剖面图。[0018]图7为本实用新型图6的B部分的局部放大图。[0019]主要组件符号说明[0020]底座6[0021]导线61[0022]测试插槽62[0023]万用密度板模块7[0024]第一密度板71[0025]孔洞 711、721、731[0026]第二密度板72[0027]第三密度板73[0028]束套薄膜74[0029]针板8[0030]探针81[0031]接触单元9[0032]套筒91[0033]弹簧92[0034]顶针93[0035]底座1[0036]插槽11[0037]密度板模块2[0038]第一密度板21[0039]通孔 211、221、231[0040]第二密度板22[0041]第三密度板23束套薄膜3针板模块4板体 41接触单元42导线43顶针44探针45待测电路板具体实施方式
为充分了解本实用新型的目的、特征及功效，兹藉由下述具体的实施例，并配合所 附的图式，对本实用新型做一详细说明，说明如后请参阅『图4、5、6及图7』，分别为本实用新型较佳具体实施例的分解图、本实用新 型较佳具体实施例的立体图、本实用新型较佳具体实施例的剖面图及本实用新型图6的B 部分的局部放大图。如图所示本实用新型的电路板测试，包含有一底座1、一密度板模块 2、一束套薄膜3以及一针板模块4所构成。上述所提的底座1上设有多数插槽11。该密度板模块2设于底座1 一侧，其包含有相互层迭的第一密度板21、第二密度板 22及第三密度板23，该第一密度板21、第二及第三密度板22、23上分别设有多数相对应的 通孔 211、221、231。该束套薄膜3设于第二及第三密度板22、23之间。该针板模块4设于密度板模块2上，其包含有一设于第三密度板23上的板体41、 分别设于第二密度板22中的接触单元42、分别连接各接触单元42底面且延伸出第一密度 板21并与各插槽11连接的导线43、分别活动设于各接触单元42顶端且由束套薄膜3加以 限位的顶针44、及分别与各顶针44抵接且设于板体41上的探针45，其中各接触单元42分 别设于第二密度板22的各通孔221中，各导线43分延伸出别第一密度板21的各通孔211， 各顶针44分别设于第三密度板23的各通孔231中且由束套薄膜3加以限位，且各接触单 元42底端与导线43连接，且顶端与顶针44相互顶掣。当本实用新型于运用时，可将该待测电路板5则可固定于针板模块4的板体41 上，使待测电路板5上的待测试点与各探针45接触，并使信号配合各顶针44经由各接触单 元42的导线43传输至插槽11所连接的测试仪器上(图未示)形成一测试回路；而由于 本实用新型的各接触单元42设于第二密度板22中，且各顶针44穿刺束套薄膜3后加以限 位，因此，可使各接触单元42不受束套薄膜3的限制，进而增加各接触单元42的体积，达到 增加各接触单元42的结构强度以及延长其使用寿命的效果。如上所述，本实用新型完全符合专利三要件新颖性、创造性和产业上的实用性。 以新颖性和创造性而言，本实用新型借着让各接触单元设于第二密度板中，且使各顶针由 束套薄膜加以限位，致使可增加各接触单元的体积，进而达到增加结构强度以及延长使用 寿命的效用；就产业上的实用性而言，利用本实用新型所衍生的产品，当可充分满足目前市
5场的需求。 本实用新型在上文中已以较佳实施例揭露，然本领域技术人员应理解的是，该实 施例仅用于描绘本实用新型，而不应解读为限制本实用新型的范围。应注意的是，举凡与该 实施例等效的变化与置换，均应设为涵盖于本实用新型的范畴内。因此，本实用新型的保护 范围当以权利要求书所界定者为准。
权利要求一种电路板测试治具，其特征在于包含有一底座；一密度板模块，设于底座一侧，其包含有相互层迭的第一密度板、第二密度板及第三密度板；一束套薄膜，设于第二及第三密度板之间；以及一针板模块，设于密度板模块上，其包含有一设于第三密度板上的板体、分别设于第二密度板中的接触单元、分别连接各接触单元底面且延伸出第一密度板的导线、分别活动设于各接触单元顶端且由束套薄膜加以限位的顶针、及分别与各顶针抵接且设于板体上的探针。
2.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，该底座上设有多数插槽，而各插 槽分别与导线连接。
3.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，该第一密度板、第二及第三密度 板上设有多数相对应的通孔，而各接触单元分别设于第二密度板的各通孔中，各导线分别 延伸出第一密度板的各通孔，各顶针分别设于第三密度板的各通孔中且由束套薄膜加以限 位。
4.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，各接触单元底端与导线连接，且 顶端与顶针相互顶掣。
专利摘要本实用新型提供一种电路板测试治具，其包含一底座；一设于底座的密度板模块，其包含有相互层迭的第一密度板、第二及第三密度板；一设于第二及第三密度板间的束套薄膜；以及一设于密度板模块上的针板模块，其包含有一设于第三密度板上的板体、分别设于第二密度板中的接触单元、分别连接各接触单元底面且延伸出第一密度板的导线、分别活动设于各接触单元顶端且由束套薄膜加以限位的顶针、及分别与各顶针抵接且设于板体上的探针。藉此，本实用新型的电路板测试治具，可让各接触单元设于第二密度板中，且使各顶针由束套薄膜加以限位，如此便可增加各接触单元的体积，而达到增加结构强度以及延长使用寿命的功效。
文档编号G01R1/02GK201725013SQ201020269640
公开日2011年1月26日 申请日期2010年7月21日 优先权日2010年7月21日
发明者陈俞洁 申请人:陈俞洁