专利名称：一种差分电容的rc常数测量方法
技术领域：
本发明涉及一种基于差分电容电路结构的RC常数测量方法，一般应用于微小电阻电容常数乘积检测，如模拟滤波器中检测RC常数值大小并对其有效校正的电路装置。
背景技术：
目前，在模拟滤波器设计中，滤波器的转角频率，它与电阻电容的乘积成反比。对特定的滤波器，其RC常数应是恒定的。片上集成的滤波器一般分为有源RC (电阻电容)和
Gmc(跨导电容)两种结构。Gmc结构实现跨导时一般使用电阻，使Gm = 1/R由于片上电
阻电容一般会有10% 25%的偏差，影响滤波器的转角频率高达士50%。需要对滤波器的
转角频率进行校正，使其偏差小于士5%，过渡带和带外抑制才能满足要求。我们一般使用
开关电阻或开关电容实现滤波器频率校正，随滤波器实现的结构而不同。在有源RC滤波
器中一般使用开关电容阵列，而在Gmc滤波器中一般使用开关电容阵列，调节原理完全一
致，因此，滤波器的校正需要对RC常数作准确的测量。RC常数的测量方法很多，对于不同RC常数结构，可采用不用的测量方法。针对上述一般的RC常数电路结构形式不同，存在的较大偏差，需要减少误差，准确测量的问题，本发明基于差分电容为RC常数的电路结构，把RC常数转换为脉冲宽度，采用数字电路而实现的一种针对差分电容为RC常数的测量方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电路结构简单，测量方便准确，精度可控的差分电容的RC常数测量方法。为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为一种差分电容的RC常数测量方法，包括差分电容电路模块和Trcout测量模块；
所述的差分电容电路模块作用为实现RC常数与比较器输出RCOUT时间长度(Trcout)的比例关系，电路具体工作状态转换及Trcout计算如下
1)在to时刻，开关Sl闭合，复位电路，此时V4= V3且大于V3, RCOUT输出为低，因 V1>V2,流过电阻Rl电流为
权利要求
1. 一种差分电容的RC常数测量方法，其特征在于包括差分电容电路模块(106)和量模块(201)；所述的差分电容电路模块(106)作用为实现RC常数与比较器输出RCOUT时间长度 )的比例关系，电路具体工作状态转换及7^_计算如下D在to时刻，幵关SI (101)闭合，复位电路，此时
2.按照权利要求1所述的一种差分电容的RC常数测量方法，其特征在于，还包括RC电路校正，校正过程分为两步初始化(301)和搜索校正(302)；初始化(301)时，送出RC常数测量电路的校正上电信号(PWR_RCTUNE)和复位开关信号(RST)，上电信号(401)比复位开关信号(402)提前一定周期，复位开关信号送出后即开始CNT计数器(404)计数；
3.按照权利要求2所述的一种差分电容的RC常数测量方法，其特征在于所述的差分电容做成可调控阵列形式，电容阵列调整使用二进制搜索算法。
4.按照权利要求3所述的一种差分电容的RC常数测量方法，其特征在于3.所述的二进制搜索算法分为3个阶段初始化、向下搜索、左右搜索；1)初始化时，开关电容阵列的最高位置1，其它位置0，使其处于中间值，对RC差分电容电路(106)输出的脉冲宽度(RCOUT) (403)进行计数；2)向下搜索(502)时，对计数值进行判断，若小于预设值，则表明当前电容值偏小，此时当前搜索位不变(为1)，把下一搜索位置1 ；否则表明电容值偏大，当前搜索位置0，把下一搜索位置1后开始下一次搜索，直至最低位方向确定；3)左右搜索(503)时，在向下搜索完成后确定的电容阵列的左右进行搜索，确定左、右、 当前三个状态中计数误差最小的设置；假设电容阵列共有N位，则共需N +2次搜索，每次搜索时间均相同。
全文摘要
本发明公开了一种差分电容的RC常数测量方法。本发明基于差分电容为RC常数的电路结构，把RC常数转换为脉冲宽度，采用数字电路而实现针对差分电容为RC常数的测量方法。本方法实现了差分电容RC常数的测量及其在电路中的校正，该方法能较好地应用于差分电容RC常数测量及其校正应用领域。测量模块电路简单地实现了RC常数与RCOUT电压值的转换，为采用数字电路测量及校正提供条件，数字电路校正RC常数方便灵活，二进制搜索算法使校正速度得到较大地提高。
文档编号G01R27/00GK102226822SQ20111008214
公开日2011年10月26日 申请日期2011年4月1日 优先权日2011年4月1日
发明者刘松艳, 李正平, 黄伟朝 申请人:广州润芯信息技术有限公司