专利名称：多通道频域测试和测量仪器的制作方法
技术领域：
本公开涉及测试和测量仪器，具体来说，涉及具有多个频域通道的测试和测量仪
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背景技术：
电子装置能够与多个频率范围中的信号配合操作。也就是说，电子装置能够具有诸如数字数据之类的基带信号以及诸如经调制的RF和/或光载波之类的光、微波或射频 (RF)信号。例如，基带数字数据能够用于调制RF载波。基带数字数据和经调制的RF载波的每个能够具有特定频谱。但是，滤波器、混频器、发射器、天线等等的带宽能够影响所发射RF谱。由于基带数字数据和经调制的RF载波能够占用不同频率范围，所以频谱的分析会很困难。具体来说，频域测试和测量仪器通常具有单通道。因此，无法执行频谱的比较、具体来说是实质时间相关的频谱的比较。
发明内容
一个实施例包括测试和测量仪器，其中包括多个输入端口 ；获取系统，耦合到输入端口，并且配置成从输入端口获取频域数据；用户接口，配置成呈现输入端口的至少两个的频域控件；以及控制器，配置成响应频域控件而调整获取系统的频域获取参数，使得与第一输入端口关联的频域获取参数能够不同于与第二输入端口关联的频域获取参数。另一个实施例包括一种操作测试和测量仪器的方法，包括下列步骤从用户接口接收第一频域控制信号，第一频域控制信号与第一信号的获取关联；从用户接口接收第二频域控制信号，第二频域控制信号与第二信号的获取关联；以及响应第一和第二频域控制信号而调整获取系统的频域获取参数，使得与第一信号关联的频域获取参数不同于与第二信号关联的频域获取参数。
图1是按照一个实施例的多通道测试和测量仪器的框图。图2是图1的测试和测量仪器中的下变频器的一个示例的框图。图3是按照一个实施例、具有多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的示例。图4是按照一个实施例、具有带偏移中心频率的多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的示例。图5是按照一个实施例、具有带偏移中心频率的多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的另一个示例。图6是按照一个实施例、具有组合在一起的多个频域数据的测试和测量仪器的用户接口的示例。
图7是按照一个实施例、具有多个频域通道的功能的测试和测量仪器的用户接口的示例。图8是按照一个实施例、具有带不同频率跨度的多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的示例。图9是按照一个实施例、具有带不同中心频率的多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的示例。
具体实施例方式实施例包括能够分析多个频域信号的测试和测量仪器及技术。例如，来自不同源的具有不同频谱的频域信号能够实质上同时分析。图1是按照一个实施例的多通道测试和测量仪器的框图。在这个实施例中，仪器 10包括获取系统12、控制器14、存储器17和用户接口 16。获取系统12、存储器17和用户接口 16耦合到控制器14。获取系统12包括多个端口 18。端口 18能够包括适合接收预期频率范围的连接器。例如，连接器能够包括适合于预期介质的BNC、SMA, 2. 92mm、N或其它连接器。获取系统12还包括多个下变频器20。正如下面将更详细描述，在一个实施例中， 下变频器能够包括多个模拟和数字组件。下变频器20能够配置成使通过对应端口 18所接收的输入信号的频率范围位移到中频(IF)范围。例如，下变频器20能够配置成将200MHz 宽频率范围从2. 4GHz至2. 6GHz下变频到100至300MHz。下变频器20能够配置成是可调谐的。也就是说，下变频器20能够调谐成使得能够选择将要经过下变频的频率范围。该选择能够从离散频率范围或者连续频率范围之中进行。虽然使用了术语“下变频器”，但是下变频器20能够配置成将较低频率范围上变频到关联IF范围。也就是说，通过选择本地振荡器(LO)频率、滤波器带宽等等，下变频器 20能够是可配置成将预期频率范围上变频或下变频到IF频率范围。获取系统12能够配置成获取频域数据。获取系统12能够配置成将所获取数据存储在存储器17中。获取系统12能够配置成获取作为经下变频的时域数据的频域数据。也就是说，能够将输入端口 18处的时域信号下变频到IF范围，与同相(I)和正交相位(Q)信号混合，以便生成IF信号的I和Q时域表示。这些I和Q时域信号能够存储在存储器17 中，并且稍后转换(convert)成频域数据。也就是说，虽然存储器17中存储的数据能够是时域数据，但是该数据表示在输入端口 18所输入的信号的频域信息。在另一个实施例中， 能够在将数据存储于存储器17之前将I和Q时域信号转换成频域数据。例如，能够在将结果存储于存储器17之前对I和Q信号、这些信号的组合等等执行傅立叶变换。仪器10还包括用户接口(UI) 16。UI 16能够包括各种不同接口。所示示例包括显示器21、按钮22、旋钮23和通信接口 24。能够使用任何种类的用户接口。例如，通信接口对能够是有线或无线接口、诸如以太网端口之类的网络接口、红外接口、RF接口等等。显示器21能够是CRT、IXD、投影等等。这类接口能够组合在一起。例如，显示器21能够是触摸屏，从而允许按钮22在显示器21上呈现。通过UI 16，能够向用户呈现输入端口的频域控件。例如，对于给定输入端口 18，能够向用户呈现中心频率控件、频率跨度控件、频率开始/停止控件、分辨率带宽控件、诸如视频滤波控件之类的其它滤波控件等等。在一个实施例中，频域控件能够与各端口 18关联。例如，UI 16能够允许选择端口 18，并且将公共频域控件理解为与所选端口 18关联。 在另一个示例中，各端口 18能够具有专用频域控件。虽然以上描述了与频域信号关联的控件的具体示例，但是频域控件能够包括能够影响频域信号的处理、显示、获取等等的任何控件。控制器14能够是任何种类的电路。例如，控制器14能够包括模拟和数字电路。控制器14能够包括通用处理器、数字信号处理器、专用集成电路、可编程门阵列等等。控制器 14还能够包括与用户接口 16、获取系统12、存储器17等等进行接口的适当电路。在一个实施例中，个人计算机(PC)能够包括控制器14、存储器17、UI 16、这些组件的组合等等。控制器14能够配置成响应频域控件而调整获取系统12的频域获取参数。例如， 与第一输入端口 18关联的频域获取参数能够设置为不同于与第二输入端口 18关联的频域获取参数。如上所述，各端口 18能够具有关联中心频率。正如下面将更详细描述，本地振荡器频率或者类似周期信号的频率能够选择用于各端口 18，使得存储器17中的数字化数据表示不同频率范围、即不同中心频率。下面将给出获取参数的差异的另一个示例。存储器17能够是任何种类的存储器。例如，存储器17能够是静态或动态的。存储器17能够包括大容量存储装置，例如硬盘驱动、闪存驱动(flash drive)等等。能够存储由获取系统12所获取的数据的任何装置能够用作存储器17。图2是图1的测试和测量仪器中的下变频器的一个示例的框图。在这个示例中， 下变频器20包括衰减器30、滤波器31、混频器32、本地振荡器33、IF滤波器34、数字化仪 35和数字滤波器36。输入信号18由衰减器30接收。衰减器能够是固定衰减器、可变衰减器、开关衰减器等等。经衰减的信号由滤波器31进行滤波。在这个示例中，滤波器31是带通滤波器；但是，滤波器能够根据需要选择用于适当输入频率范围。经滤波的信号能够使用混频器32和本地振荡器33下变频到IF范围。IF滤波器 34能够在由数字化仪35 (如ADC)对IF信号进行数字化之前对其滤波。能够应用数字滤波器36以降低伪影(artifact)、提供加窗函数等等。相应地，输出信号观可用于由获取系统 16来获取。虽然示出了下变频器20的组件的选择，但是诸如放大器、开关等的其它组件能够存在和/或取代所示组件。在一个实施例中，输出信号观是表示经下变频的IF信号的时域数据。此IF信号能够在获取系统16中进一步处理。例如，能够将IF信号转换成同相(I)和正交相位(Q) 信号。这些时域I和Q信号能够存储在获取存储器17中。能够对存储器中的I和Q信号执行进一步处理，以便得到频域数据。在另一个示例中，IF信号观能够存储在存储器38中。能够对IF信号、IF信号的组合等等执行诸如快速傅立叶变换(FFT)之类的傅立叶变换，如上所述。因此，频域数据 40能够存储在存储器38中。虽然存储器38已经描述为不同于存储器17，但是存储器38 能够是存储器17的一部分。如图所示，抽选器(deCimat0r)37或其它抽选功能能够用于减少来自数字化仪35 的数字化数据的样本数量。抽选器示为在数字化仪35之后；但是，抽选能够根据需要在数字处理的任何阶段执行。
下变频器20是获取系统的下变频器的一个示例。下变频器20能够采取其它形式。 例如，下变频能够以数字方式执行。也就是说，数字化仪的取样率能够选择成使预期频率范围频移。无论是模拟还是数字的适当滤波能够用于滤出不希望的频率分量。相应地，任何频移电路能够用作下变频器20。下变频器的各种组件的参数能够按照频域控件来调整。例如，能够响应垂直位置 /标度控件而调整衰减器30。能够响应中心频率控件而调整滤波器31和振荡器33。能够响应频率跨度控件而调整滤波器31、滤波器34等等。各通道或者各端口 18能够具有不同的设定。获取系统12的组件的任一个能够以逐个通道或者逐个端口为基础而改变，以便优化特定感兴趣频谱的通道。图3是按照一个实施例、具有多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的示例。在这个实施例中，UI 50的示例包括显示器60、通道选择器52以及在这里示为旋钮的各种频域控件M。在这个实施例中，示出两个频域信号；但是，如上所述，能够存在任何数量。为了清晰起见，后续说明将提及两个通道、控件、输入、信号等等；但是，在一个实施例中，任何数量的这类通道、信号和控件能够随单独接口、公共接口、组合等等存在。基带信号以及与基带信号对应的经调制的信号能够输入到输入端口 18，如上所述。经调制的信号显示为轨迹62。中心频率63能够设置到与调制关联的载波频率、谱中心等等。基带信号由轨迹64表示。在这个示例中，DC信号在显示器的最左边65表示。在这个示例中，所显示轨迹的每个划分的频率和/或频率步长能够选择为实质相似。因此，基带和经调制信号的谱形状能够在相似上下文中分析，但信号占用不同频率范围。也就是说，频率跨度对于轨迹62和64均能够是200MHz ；但是，例如，轨迹62以2. 5GHz 为中心，而轨迹64以IOOMHz为中心。在一个实施例中，用于获取基带和经调制信号的获取参数能够对特定信号适当选择，并且在需要时能够是不同的。例如，能够选择下变频本地振荡器频率、取样率、滤波器位置等等，以便将经调制信号下变频到用于获取集中于中心频率63的预期跨度之内的频率的适当频率范围。相比之下，对于基带信号，可能不使用下变频。例如，能够对所获取数据执行离散傅立叶变换，以便生成轨迹64。虽然基带信号用作与经调制信号关联的信号的一个示例，但是信号不一定是基带信号。例如，在不同端口 18所输入的关联信号可能是IF信号，该IF信号经过上变频以生成由轨迹62所表示的经调制信号。因此，轨迹62和64均可表示在获取期间经过下变频的信号，但是，与轨迹62和64关联的信号能够使用不同的下变频频率来获取。图4是按照一个实施例、具有带偏移中心频率的多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的示例。在一个实施例中，控件M能够包括中心频率控件。第一中心频率控件 71能够控制轨迹62的中心频率。第二中心频率控件73能够控制轨迹70的中心频率。在这个示例中，轨迹70是图3的轨迹64的位移形式。因此，通过操纵与各轨迹62和70关联的中心频率，能够分析信号的频率内容。用户接口 50还能够包括其它位置相关控件。例如，UI 50能够包括各轨迹62和 70的垂直标度控件、垂直位置控件等。在这个示例中，垂直位置和标度设置成使得信号重叠。相应地，能够分析从轨迹70产生轨迹62的调制的效果。 虽然使用了术语“垂直位置和标度”，但是这类控件在频域分析的上下文中能够具
8有不同含义。例如，频域分析能够采用基于对数的垂直轴来执行。相应地，垂直位置控件能够对应于参考水平控件，并且垂直标度控件能够对应于每划分dB控件。相应地，垂直标度和位置控件能够配置成具有适合于轨迹62和70的特定呈现的影响。图5是按照一个实施例、具有带偏移中心频率的多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的另一个示例。在这个示例中，与图4的轨迹形成对照，使由轨迹72所表示的经调制信号位移。轨迹72表示图3的轨迹62。轨迹62的中心频率能够移动成使得载波频率与显示器60的左边65对齐。相应地，能够分析表示经调制信号的轨迹72的对应部分， 好像它是源基带信号一样。虽然轨迹72示为图3的轨迹62的一个边带，但是能够呈现任何边带。例如，用户接口 50的频域控件能够包括反转(invert)轨迹72的频率轴的控件。例如，本地振荡器的频率能够改变以定位IF频率范围中的不同边带、滤波器位置能够改变等等。相应地，能够将不同边带与轨迹64所表示的基带信号进行比较。图6是按照一个实施例、具有组合在一起的多个频域数据的测试和测量仪器的用户接口的示例。在一个实施例中，用户接口 50能够包括通道功能接口 75。通道功能接口 75能够用于将频域数据组合在一起，以便创建新轨迹。虽然采用表示加法、减法、除法和乘法的符号来示出通道功能接口 75，但是能够对所获取信号执行任何功能。在这个示例中，图5的轨迹结合在一起，以便创建传递函数80。传递函数80能够表示来自图5的轨迹64所表示的基带信号和图5的轨迹72所表示的经调制边带的幅度传递函数。相应地，用户能够分析调制、滤波等的效果。虽然各个示例已在基带信号和经调制信号的上下文中给出，但是各种所获取信号能够表示信号处理的任何阶段中或者来自任何装置的信号。例如，经调制信号能够是所接收RF信号，而基带信号是经解调信号。在另一个示例中，基带信号能够是来自发射器的数字数据。图7是按照一个实施例、具有多个频域通道的功能的测试和测量仪器的用户接口的示例。在这个实施例，轨迹62表示图3的经调制信号。轨迹80是由图3的轨迹64所表示、经过数学解调供与实际所获取的经调制信号进行比较的基带信号。也就是说，通过通道功能接口 75，用户能够选择调制功能、载波等等，以便在轨迹64的经调制信号的上下文中呈现基带数据。虽然已经示出各种功能，但是可对轨迹的一个或多个执行任何功能。例如，可计算相位传递函数。因此，能够分析调制的相位相关效果。I-Q调制能够使用两个所获取信号来执行，供与第三所获取信号的实际I-Q调制信号进行比较。能够执行功能的任何组合。图8是按照一个实施例、具有带不同频率跨度的多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的示例。在上述示例中，频率跨度实质上相同。相应地，能够一一比较轨迹的频率。但是，在一个实施例中，信号的其它部分会是感兴趣的。例如，可分析载波上的抖动、噪声等等。轨迹62再次表示经调制信号。轨迹90表示相同的经调制信号；但是，轨迹的频率跨度是不同的。也就是说，轨迹90的频率跨度占用选择92所示的范围。相应地，能够分析另外可能已经遮掩(obscure)的载波频率附近的频率分量。在一个实施例中，与轨迹62和90关联的信号能够通过不同方式来获取。例如，同一信号能够被分离并且输入到仪器10的两个端口 18。在另一个示例中，单个端口 18能够与多个下变频器20关联。然而，与各轨迹62和90关联的频域获取参数能够以不同方式改变。在一个实施例中，所获取频率跨度能够是不同的。例如，各轨迹62和90能够与独立频率跨度控件94和96关联。响应频率跨度控件94和96，能够调整下变频的各个方面。 例如，数字化仪35的取样率能够改变、滤波器带宽能够改变等等，以便建立预期频率跨度。 但是，轨迹的呈现能够但不一定呈现全部所获取数据。也就是说，获取系统12可能获取对于较大频率跨度是充分的数据；但是，作为轨迹90来呈现的数据是那个跨度的子集。也就是说，所呈现数据和获取参数能够根据需要来调整，以便呈现特定频率跨度。在一个实施例中，频率跨度的变化能够与分辨率带宽的变化关联。例如，随着频率跨度减小，分辨率带宽能够相应地减小，使得能够解析具有较小分隔的频率分量。在一个实施例中，用户接口能够包括第一分辨率带宽控件95和第二分辨率带宽控件97。控制器能够配置成响应第一分辨率带宽控件95而在显示器上呈现第一频谱，并且响应第二分辨率带宽控件97而在显示器上呈现第二频谱。在一个实施例中，与频谱关联的分辨率带宽能够是不同的。例如，与轨迹90关联的分辨率带宽能够低于与轨迹62关联的分辨率带宽。因此，能够解析诸如轨迹90的分量 91之类的频率分量。相比之下，这类分量在与轨迹62关联的分辨率带宽处将不是可见的。在一个实施例中，能够调整获取的各个方面，以便适应分辨率带宽。例如，参照图1 和图2，获取系统12能够配置为对于较长时间跨度进行取样。也就是说，在其中获取数据的时间能够改变，表示特定时间跨度的所获取数据的长度能够改变，等等。在另一个示例中， 数字化仪35可使用较低取样率来取样。在另一个示例中，能够使用不同的抽选技术。也就是说，数字化仪35可能以较高取样率进行取样；但是，抽选能够改变，以便进一步减少样本数量。能够使用对获取的这类变更的任何组合。图9是按照一个实施例、具有带不同中心频率的多个频域通道的测试和测量仪器的用户接口的示例。在这个实施例中，用户接口 50包括第一中心频率控件106和第二中心频率控件108。控制器14配置成响应第一中心频率控件106而调整与第一轨迹100关联的频域获取参数，并且响应第二中心频率控件108而调整与第二轨迹104关联的频域获取参数。在这个示例中，轨迹100包括边带102。轨迹100的第一谱以频率fQ为中心。边带102以频率为中心。轨迹104表示具有与轨迹104关联的与轨迹100的中心频率不同的中心频率的边带102。也就是说，在这个示例中，轨迹100的频率&响应第一中心频率控件106而在显示器60居中，以及轨迹104的频率响应第二中心频率控件108而在显示器60居中。在一个实施例中，频域获取参数能够响应中心频率控件106和108而调整。例如， 参照图2，当调整第二中心频率控件108时，振荡器33的下变频频率能够增加到轨迹104的中心频率f”此外，如上所述，频率跨度能够根据需要来调整，以便进一步检查轨迹104。虽然针对幅度与频率显示来描述频域信号的呈现，但是能够根据需要使用其它频域显示技术。例如，16正交幅度调制(QAM)信号的星座视图能够被获取，并且连同从源I和 Q输入信号所创建的数学创建16-QAM信号一起显示。也就是说，来自不同源、不同的处理阶段等的频域信号能够在同一上下文中分析。 虽然描述了具体实施例，但是大家会理解，本发明的原理并不局限于那些实施例。 可进行变化和修改，而没有背离以下权利要求书所提出的本发明的原理。
权利要求
1.一种测试和测量仪器，包括 多个输入端口；获取系统，耦合到所述输入端口，并且配置成从所述输入端口获取频域数据； 用户接口，配置成呈现所述输入端口的至少两个的频域控件；以及控制器，配置成响应所述频域控件而调整所述获取系统的频域获取参数，使得与第一输入端口关联的频域获取参数能够不同于与第二输入端口关联的频域获取参数。
2.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中 所述用户接口包括显不器；第一垂直位置控件；以及第二垂直位置控件；以及所述控制器配置成响应所述第一垂直位置控件而在所述显示器上呈现第一频谱，并且响应所述第二垂直位置控件而在所述显示器上呈现第二频谱。
3.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中 所述用户接口包括显不器；第一垂直标度控件；以及第二垂直标度控件；以及所述控制器配置成响应所述第一垂直标度控件而在所述显示器上呈现第一频谱，并且响应所述第二垂直标度控件而在所述显示器上呈现第二频谱。
4.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中 所述用户接口包括显不器；第一中心频率控件；以及第二中心频率控件；以及所述控制器配置成响应所述第一中心频率控件而在所述显示器上呈现第一频谱，并且响应所述第二中心频率控件而在所述显示器上呈现第二频谱。
5.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中 所述用户接口包括显不器；第一频率跨度控件；以及第二频率跨度控件；以及所述控制器配置成响应所述第一频率跨度控件而在所述显示器上呈现第一频谱，并且响应所述第二频率跨度控件而在所述显示器上呈现第二频谱。
6.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中 所述用户接口包括显不器；第一分辨率带宽控件；以及第二分辨率带宽控件；以及所述控制器配置成响应所述第一分辨率带宽控件而在所述显示器上呈现第一频谱，并且响应所述第二分辨率带宽控件而在所述显示器上呈现第二频谱。
7.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中 所述用户接口包括第一中心频率控件；以及第二中心频率控件；以及所述控制器配置成响应所述第一中心频率控件而调整与所述第一端口关联的所述频域获取参数，并且响应所述第二中心频率控件而调整与所述第二端口关联的所述频域获取参数。
8.如权利要求7所述的测试和测量仪器，其中，所述控制器配置成响应所述第一中心频率控件而改变与所述第一端口关联的下变频频率，并且响应所述第二中心频率控件而改变与所述第二端口关联的第二下变频频率。
9.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中 所述用户接口包括第一频率跨度控件；以及第二频率跨度控件；以及所述控制器配置成响应所述第一频率跨度控件而调整与所述第一端口关联的所述频域获取参数，并且响应所述第二频率跨度控件而调整与所述第二端口关联的所述频域获取参数。
10.如权利要求9所述的测试和测量仪器，其中，所述控制器配置成响应所述第一频率跨度控件而改变与所述第一端口关联的第一取样率，并且响应所述第二频率跨度控件而改变与所述第二端口关联的第二取样率。
11.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中 所述用户接口包括第一分辨率带宽控件；以及第二分辨率带宽控件；以及所述控制器配置成响应所述第一分辨率带宽控件而调整与所述第一端口关联的所述频域获取参数，并且响应所述第二分辨率带宽控件而调整与所述第二端口关联的所述频域获取参数。
12.如权利要求11所述的测试和测量仪器，其中，所述控制器配置成响应所述第一分辨率带宽控件而改变与所述第一端口关联的第一所获取时间跨度，并且响应所述第二分辨率带宽控件而改变与所述第二端口关联的第二所获取时间跨度。
13.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中 所述用户接口包括功能接口；以及所述控制器配置成响应所述功能接口而将关联所述第一端口的频域数据与关联所述第二端口的频域数据进行组合。
14.一种操作测试和测量仪器的方法，包括从用户接口接收第一频域控制信号，所述第一频域控制信号与第一信号的获取关联； 从所述用户接口接收第二频域控制信号，所述第二频域控制信号与第二信号的获取关联；以及响应所述第一和第二频域控制信号而调整获取系统的频域获取参数，使得与所述第一信号关联的频域获取参数不同于与所述第二信号关联的频域获取参数。
15.如权利要求14所述的方法，其中所述第一频域控制包括第一中心频率控制信号；以及还包括响应所述第一中心频率控制信号而改变与所述第一信号关联的所述频域获取参数。
16.如权利要求15所述的方法，其中，响应所述第一中心频率控制信号而改变与所述第一信号关联的所述频域获取参数包括响应所述第一中心频率控制而改变与所述第一信号关联的下变频频率。
17.如权利要求14所述的方法，其中所述第一频域控制包括第一频率跨度控制信号；以及还包括响应所述第一频率跨度控制信号而改变与所述第一信号关联的所述频域获取参数。
18.如权利要求17所述的方法，其中，响应所述第一频率跨度控制信号而改变与所述第一信号关联的所述频域获取参数包括响应所述第一频率跨度控制信号而改变与所述第一信号关联的取样率。
19.如权利要求14所述的方法，其中所述第一频域控制包括第一分辨率带宽控制信号；以及还包括响应所述第一分辨率带宽控制信号而改变与所述第一信号关联的所述频域获取参数。
20.如权利要求19所述的方法，其中，响应所述第一分辨率带宽控制信号而改变与所述第一信号关联的所述频域获取参数包括响应所述第一分辨率带宽控制信号而改变与所述第一信号关联的所获取时间跨度。
全文摘要
本发明的名称为多通道频域测试和测量仪器。一种测试和测量仪器包括多个输入端口；获取系统，耦合到输入端口，并且配置成从输入端口获取频域数据；用户接口，配置成呈现输入端口的至少两个的频域控件；以及控制器，配置成响应频域控件而调整获取系统的频域获取参数，使得与第一输入端口关联的频域获取参数能够不同于与第二输入端口关联的频域获取参数。
文档编号G01R23/165GK102445596SQ201110239078
公开日2012年5月9日 申请日期2011年8月11日 优先权日2010年8月13日
发明者A·M·伯格西克, G·J·沃尔多, K·A·恩霍尔姆, K·P·多比恩斯, S·C·赫林 申请人:特克特朗尼克公司