专利名称：一种按键的矩阵键盘的测试方法
一种按键的矩阵键盘的测试方法
技术领域：
本发明涉及一种按键的矩阵键盘的测试方法。背景技术：
键盘广泛使用于各种电子设备，以作为电子设备的控制命令或数据输入的周边设备。因此键盘的品质优劣及其功能是否可以正常操作，将直接影响该电子设备的操作稳定性，并且由于键盘中最为直接的操作单元为按键，因此按键的测试对于键盘而言是重要的一环。目前，对于按键的矩阵键盘的测试依赖于手动测试和回环口线测试两种方法，手动测试的方案存在测试效率低，需人工操作不确定性大的问题；回环口线测试的方案，测试效率高，但覆盖不了矩阵键盘口线的上下拉电阻。
发明内容本发明要解决的技术问题，在于提供一种按键的矩阵键盘的测试方法，它能够实现自动测试，而且能够提高测试效率和测试覆盖率。本发明是这样实现的一种按键的矩阵键盘的测试方法，它需要包括一矩阵键盘、 一可编程逻辑器件，它包括如下步骤步骤1 所述矩阵键盘连接到CPU的线路通过测试点连接到可编程逻辑器件上，所述矩阵键盘上选择复数个按键，所述按键覆盖了矩阵键盘连接到CPU的所有口线；步骤2 所述可编程逻辑器件模拟所选择的按键信号，将模拟按键信号通过测试点发送到CPU ；步骤3 所述CPU若是接收到所述可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接正常，若是接收不到可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU 焊接异常。进一步的，所述步骤2的具体步骤包括所述可编程逻辑器件进行复位，通过触发信号进行触发，经过设定的一段时间进入模拟第一按键的程序，将模拟的第一按键信号发送到CPU，再经过设定的时间，进入模拟下一个按键的程序，直至将所有选择的按键信号模拟完毕，再恢复复位状态。进一步的，所述可编程逻辑器件为CPLD。本发明的优点在于本发明将待测试的矩阵键盘通过测试点连接到可编程逻辑器件，通过可编程逻辑器件模拟按键按下后的按键信号，将按键信号发送到CPU，对矩阵键盘的各个口线的连接进行测试，从而实现了对矩阵键盘自动化测试的效果，提高了测试的效率，又覆盖了矩阵键盘口线的上下拉电阻，保证测试的准确性。
下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。图1是本发明的一实施例4*4矩阵键盘的电路结构示意图。图2是本发明可编程逻辑器件的模块示意图。图3是本发明一实施例中可编程逻辑器件6个状态的示意图。
具体实施方式请参阅图1至图2所示，对本发明的实施例进行详细的说明。一种按键的矩阵键盘的测试方法，它包括一矩阵键盘、一可编程逻辑器件，它包括如下步骤步骤1 所述矩阵键盘连接到CPU的线路通过测试点连接到可编程逻辑器件上，所述矩阵键盘上选择复数个按键，所述按键覆盖了矩阵键盘连接到CPU的所有口线；步骤2 所述可编程逻辑器件模拟所选择的按键信号，将按键信号通过测试点发送到CPU ；所述可编程逻辑器件进行复位，通过触发信号进行触发，经过设定的一段时间进入模拟第一按键的程序，将模拟的第一按键信号发送到CPU，再经过设定的时间，进入模拟下一个按键的程序，直至将所有选择的按键信号模拟完毕，再恢复复位状态。步骤3 所述CPU若是接收到所述可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接正常，若是接收不到可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU 焊接异常。结合图1，以4*4矩阵键盘为例，设行线为R0W0、ROffU ROW2, R0W3为输出口线，设列线为KB_LINE0、KB_LINE1、KB_LINE2、KB_LINE3为输入口线。常态下LINE线通过上拉电阻拉为高电平1111，CPU通过ROW线输出全低电平0000。当图中ROWO和KB_LINE0组合的 CLEAR按键按下时，读取键值为01110000，CPU判定此键值为CLEAR。现在测试该4*4矩阵键盘，只要测试按键CLEAR(R0W0，KB_LINE0)、按键8 (R0W1, KB_LINE1)、按键 4(R0W2，KB_LINE2)、按键 ALPHA(R0W3，KB_LINE3)，就可以全部测试到该矩阵键盘的 KB_LINE0、KB_LINE1、KB_LINE2、KB_LINE3 输入口线以及 ROffO, ROffU R0W2、R0W3 输出口线。结合图2，所述可编程逻辑器件为CPLD，所述CPLD连接有复位电路、时钟电路、电源滤波电路。将图1中的矩阵键盘的8个口线通过测试点连接到所述CPLD。如图3，所述CPLD设置好复位状态、触发状态、CLEAR状态、按键8状态、按键4状态、按键ALPHA状态。并且设置好每一个状态之间切换的时间为N秒。测试开始的时候，所述CPLD通过复位电路提供的复位信号进入复位状态；经过N 秒后，所述CPLD进入触发状态，再经过N秒后，所述CPLD进入CLEAR状态，即CLEAR状态模拟按键CLEAR按下的按键信号01110000，然后将01110000通过测试点发送到CPU，如果CPU 接收到的按键信号为01110000，则表示R0W0，KB_LINE0与CPU的焊接正常，如果CPU接收到的按键信号不是01110000，则表示R0W0，KB_LINE0与CPU的焊接不正常。同理，所述CPLD 进入按键8状态的时候，模拟发送按键信号10110000到CPU ；所述CPLD进入按键4状态的时候，模拟发送按键信号11010000到CPU;所述CPLD进入按键ALPHA状态的时候，模拟发送按键信号11100000到CPU，从而通过CPU接收到的按键信号是否正常，来判断各个口线与 CPU的焊接是否正常。 以上所述，仅为本发明较佳实施例而已，故不能依此限定本发明实施的范围，即依本发明专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本发明涵盖的范围内。
权利要求
1.一种按键的矩阵键盘的测试方法，其特征在于它需要包括一矩阵键盘、一可编程逻辑器件，它包括如下步骤步骤1 所述矩阵键盘连接到CPU的线路通过测试点连接到可编程逻辑器件上，所述矩阵键盘上选择复数个按键，所述按键覆盖了矩阵键盘连接到CPU的所有口线；步骤2 所述可编程逻辑器件模拟所选择的按键信号，将模拟按键信号通过测试点发送到CPU ；步骤3 所述CPU若是接收到所述可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与 CPU焊接正常，若是接收不到可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接异常。
2.根据权利要求1所述的一种按键的矩阵键盘的测试方法，其特征在于所述步骤2 的具体步骤包括所述可编程逻辑器件进行复位，通过触发信号进行触发，经过设定的一段时间进入模拟第一按键的程序，将模拟的第一按键信号发送到CPU，再经过设定的时间，进入模拟下一个按键的程序，直至将所有选择的按键信号模拟完毕，再恢复复位状态。
3.根据权利要求1所述的一种按键的矩阵键盘的测试方法，其特征在于所述可编程逻辑器件为CPLD。
全文摘要
本发明提供了一种按键的矩阵键盘的测试方法，它需要包括一矩阵键盘、一可编程逻辑器件，它包括如下步骤1所述矩阵键盘连接到CPU的线路通过测试点连接到可编程逻辑器件上，所述矩阵键盘上选择复数个按键，所述按键覆盖了矩阵键盘连接到CPU的所有口线；2所述可编程逻辑器件模拟所选择的按键信号，将模拟按键信号通过测试点发送到CPU；3所述CPU若是接收到所述可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接正常，若是接收不到可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接异常。本发明能够实现自动测试，而且能够提高测试效率和测试覆盖率。
文档编号G01R31/02GK102520301SQ20111038167
公开日2012年6月27日 申请日期2011年11月25日 优先权日2011年11月25日
发明者念恩, 肖锋, 苏龙, 郑云斌 申请人:福建联迪商用设备有限公司