专利名称：电波暗室的制作方法
技术领域：
本发明涉及电磁测试领域，尤其涉及一种电波暗室。
背景技术：
一般的电磁兼容(Electromagnetic Compatibility, EMC)测试需要使用电波暗室作为测试场地。通常地，电波暗室分为全电波暗室(fully anechoic chamber)及半电波暗室(sem1-anechoic chamber)。全电波暗室的内表面完全铺满吸波材料,半电波暗室则有一部分内表面覆盖吸波材料。一般信息技术类的设备(如计算机)在进行电磁兼容测试时，需要在低频(通常为30MHz IGHz)及高频(通常为IGHz飞GHz)两个频段内进行测试。一般来说，低频段测试需要在半电波暗室内进行，高频段测试需要在全电波暗室内进行。因此，在进行不同频段的电磁兼容测试时需要将被测试的电子装置在不同的电波暗室之间转移，需要花费较多的人力及时间。
发明内容
有鉴于 此，有必要提供一种能进行多个频段电磁兼容测试的电波暗室。一种电波暗室，包括周壁及底面，该周壁内表面铺设有吸波材料。所述底面为圆形，并沿其一直径划分为两个半圆场地，一个半圆底面为反射接地平板，另一个半圆底面铺设吸波材料。基于上述结构，所述电波暗室同时具有半电波暗室及全电波暗室的功能。待测电子装置在该电波暗室内进行电磁兼容测试时，无须更换测试场地，减少所耗用的人力及时间，简化了测试过程，也避免了因更换测试场地而产生的不必要的实验误差。
图1为本发明较佳实施例的电波暗室的示意图。图2为图1所示电波暗室的截面图。图3为图1所示电波暗室的另一角度的截面图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种电波暗室，包括周壁及底面，该周壁内表面铺设有吸波材料，其特征在于:所述底面为圆形，并沿其一直径划分为两个半圆场地，一个半圆底面为反射接地平板，另一个半圆底面铺设吸波材料。
2.如权利要求1所述的电波暗室，其特征在于:所述周壁为半球形状，该周壁连同该底面围成一半球形罩体状的密闭的容置空间。
3.如权利要求1所述的电波暗室，其特征在于:所述电波暗室内设置有旋转台、测试桌及天线列阵，该旋转台设置于圆形底面的圆心位置，测试桌放置于旋转台上且用于放置待测物，天线列阵分布在圆形底面的边缘。
4.如权利要求3所述的电波暗室，其特征在于:所述天线阵列包括低频水平天线、低频垂直天线、高频水平天线及高频垂直天线，其分别每相隔角位置九十度放置于圆形底面的边缘，该天线列阵的天线均对准待测物。
5.如权利要求4所述的电波暗室，其特征在于:所述低频水平天线与低频垂直天线放置于反射接地平板的半圆底面，高频水平天线及高频垂直天线放置于铺设吸波材料的半圆。
6.如权利要求4所述的电波暗室，其特征在于:所述周壁内表面铺设的吸波材料表面形成的尖锥部的顶端垂直指向所述待测物。
7.如权利要求1所述的电波暗室，其特征在于:所述底面反射接地平板的一个半圆底面与其对应设置的周壁围成半电波暗室，底面铺设吸波材料的一个半圆底面与其对应设置的周壁围成全电波暗室。
全文摘要
一种电波暗室，包括周壁及底面，该周壁内表面铺设有吸波材料。所述底面为圆形，并沿其一直径划分为两个半圆场地，一个半圆底面为反射接地平板，另一个半圆底面铺设吸波材料。
文档编号G01R1/18GK103163340SQ20111041172
公开日2013年6月19日 申请日期2011年12月12日 优先权日2011年12月12日
发明者何等乾 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司