一种新型电阻的制作方法

文档序号:5924579阅读:269来源:国知局
专利名称:一种新型电阻的制作方法
技术领域
本实用新型属于电子元器件领域,尤其是属于一种新型电阻。
背景技术
钼热电阻是利用镍钼丝的电阻值随着温度的变化而变化这一基本原理设计和制作的,分为陶瓷内绕式、玻璃外绕式及云母式钼电阻,上述钼电阻温感元件由于其骨架由陶瓷、玻璃、云母等材料制成,因此存在抗震性差、测温范围受到限制的不足,由于高温金属材料与陶瓷在烧结时不能共熔,在振动及高温变化等疲劳损害有作用下,易产生引线与陶瓷之间的微小位移,造成断路;另外,镍钼丝的螺旋之间及镍钼丝与陶瓷本体之间容易相碰, 产生磨损,将镍钼丝磨断。所以,在强振动条件下,这种钼电阻的使用寿命较短,且价格昂贵,不能满足使用要求。发明内容本实用新型的目的在于提供一种制造成本低、工艺简单、操作方便、耐高温和抗振性好的新型电阻。本实用新型的目的是这样实现的,一种新型电阻,它包括金属套管、置于金属套管内的绝缘粉体、内芯、镍钼丝及引线;镍钼丝缠绕在内芯外,两根引线从内芯的通孔中引入并在内芯的底部与镍钼丝两端焊接在一起,在镍钼丝的绕组外面设有一层陶瓷保护层;在陶瓷保护层外部涂有防高温层。所述的新型电阻,其中,所述陶瓷保护层通过烧结与内芯和镍钼丝连成一体。所述的新型电阻,其中,在镍钼丝绕组的间隙、镍钼丝与内芯以及镍钼丝与陶瓷保护层之间隙处填充有氧化镁粉体填充物。所述的新型电阻,其中,两根引线与镍钼丝之间分别设置有保险丝。本实用新型的优点与现有技术相比,将镍钼丝缠绕在陶瓷本体内,并烧结成一体,避免了镍钼丝与陶瓷本体之间的磨损和碰撞,从而提高了钼电阻的抗强振动性能;镍引线伸入到陶瓷本体的底部与镍钼丝的引线焊接在一起,由于在镍钼丝间隙等均填充有氧化镁粉体等绝缘材料填充物,增加了缓冲作用,解决了由于振动和温度变化等疲劳损害引起的引线位移,从而延长了钼电阻的使用寿命。

图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式

以下结合附图和实例,对本实用新型的结构和工作原理进行详细说明如图1所示,一种新型电阻,它包括金属套管、置于金属套管内的绝缘粉体、内芯 1、镍钼丝2及引线;镍钼丝缠绕在内芯外,两根引线从内芯的通孔中引入并在内芯的底部与镍钼丝两端焊接在一起,在镍钼丝的绕组外面设有一层陶瓷保护层;在陶瓷保护层外部涂有防高温层9。[0014]所述的新型电阻,其中,所述陶瓷保护层通过烧结与内芯和镍钼丝连成一体。 其中引线组包含第一引线3和第二引线8,在第二引线8中间设置有保险丝7。所述的新型电阻,其中,在镍钼丝绕组的间隙、镍钼丝与内芯以及镍钼丝与陶瓷保护层之间隙处填充有氧化镁粉体填充物。所述的新型电阻,其中,两根引线与镍钼丝之间分别设置有保险丝。本实用新型所述的新型电阻,由内芯1、镍钼丝2及引线3组成,其结构特点是镍钼丝缠绕在内芯1外,镍钼丝2可采用双线并绕的方式缠绕在内芯1外,两根引线3从内芯1 的通孔中引入并在内芯1的底部与镍钼丝2两端焊接在一起,连接时,将引线3的连接处压扁后再与镍钼丝的绕组焊接在一起,确保焊接牢固可靠,在镍钼丝2的绕组外面设有一层陶瓷保护层4,陶瓷保护层4可以通过烧结等方式连接在内芯1和镍钼丝2的绕组外,在镍钼丝2的绕组间隙以及镍钼丝2与内芯1、陶瓷保护层4之间隙处填充有氧化镁粉体填充物5,氧化镁为白色轻松粉末,无味,熔点观00,沸点3600,氧化镁有高度耐火绝缘性能,熔点很高。在位于引线引入这一侧的内芯1和陶瓷保护层4采用封头6盖封,这样可避免填入这一侧的氧化镁粉体填充物5漏出。为密封牢固还可以采用另外灌注有环氧胶密封。上述实施例,只是本实用新型的一个实例,并不是用来限制本实用新型的实施与权利范围,凡与本实用新型权利要求所述内容相同或等同的技术方案,均应包括在本实用新型保护范围内。
权利要求1.一种新型电阻,其特征在于,它包括金属套管、置于金属套管内的绝缘粉体、内芯、镍钼丝及引线;镍钼丝缠绕在内芯外,两根引线从内芯的通孔中引入并在内芯的底部与镍钼丝两端焊接在一起,在镍钼丝的绕组外面设有一层陶瓷保护层;在陶瓷保护层外部涂有防尚温层O
2.根据权利要求1所述的新型电阻,其特征在于所述陶瓷保护层通过烧结与内芯和镍钼丝连成一体。
3.根据权利要求2所述的新型电阻,其特征在于在镍钼丝绕组的间隙、镍钼丝与内芯以及镍钼丝与陶瓷保护层之间隙处填充有氧化镁粉体填充物。
专利摘要本实用新型涉及一种新型电阻,它包括金属套管、置于金属套管内的绝缘粉体、内芯、镍铂丝及引线;镍铂丝缠绕在内芯外,两根引线从内芯的通孔中引入并在内芯的底部与镍铂丝两端焊接在一起,在镍铂丝的绕组外面设有一层陶瓷保护层;在陶瓷保护层外部涂有防高温层。所述的新型电阻,其中,所述陶瓷保护层通过烧结与内芯和镍铂丝连成一体。所述的新型电阻,其中,在镍铂丝绕组的间隙、镍铂丝与内芯以及镍铂丝与陶瓷保护层之间隙处填充有氧化镁粉体填充物。本实用新型的优点解决了由于振动和温度变化等疲劳损害引起的引线位移,从而延长了铂电阻的使用寿命。
文档编号G01K7/18GK202204615SQ20112035409
公开日2012年4月25日 申请日期2011年9月21日 优先权日2011年9月21日
发明者张素云 申请人:张素云
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