专利名称：按键测试装置及按键测试系统的制作方法
按键测试装置及按键测试系统
技术领域：
本发明涉及一种电子产品测试设备，尤其涉及一种适用于对电子产品的按键开关进行自动测试的按键测试装置及按键测试系统。
背景技术：
在各类电子产品、机械设备上大量使用着各种形式的按键，现有技术对按键的性能及寿命测试通常是采用人工或机械的方式。其中，人工的方式存在着测试效率低、测试力度不规范、没有严格的测试标准等缺点。本公司申请人在先申请的中国发明专利200610062967.8公告的《砝码重力指》就是一种可取代原有的人手测试，克服了人手测试按键开关导通程度不一及下压力度不一的缺陷。可准确地测量出按键开关的过灵敏度和过重按压度的装置。该《砝码重力指》包括一轴杆，轴杆的端部至少设有一组在限定范围内可轴向移动的砝码，轴杆配有一可控制其轴向移动的驱动机构和复位弹簧；轴杆上还设有用于其在台面移动板上固定的安装座。利用驱动机构对砝码的控制，将设定重量的砝码施加在被测按键开关上，对按键的按压力进行测试。若凭借向下一定距离时，按键开关导通了，则说明被测按键视为过灵敏，为不合格产品。若凭借砝码重量不能促使按键开关导通，则说明被测按键为不合格产品。具有测试速度快、测试准确规范等优点。但在实际应用中，发现上述结构的砝码重力指尚存在以下缺陷:1.无法仿真人手对按键的段落感觉，2.砝码下降速度快，无缓冲，如用到两颗砝码时，由于上、第二砝码间是以硬着落方式叠加的，即第一砝码以自由落体方式叠加在第二砝码上，其下降速度过快，按键的行程很短，而导致不可测试段落感，因此会影响测试的准确性。
发明内容基于此，有必要提供一种测试准确度较高的按键测试装置及按键测试系统。一种按键测试装置，包括:按压件，用于按压待测按键；荷载件，与该按压件可移动地相连；第一缓冲件，设于该按压件与该荷载件之间。在优选的实施例中，还包括:第一驱动装置，与该荷载件相连，用于驱动该荷载件朝靠近或远离待测按键的方向运动；第二驱动装置，用于驱动待测按键朝靠近或远离该按压件的方向运动；及检测设备，用于测量按压件的位移及施加在待测按键上的力度。在优选的实施例中，该检测设备包括用于测量按压件的位移的光学检测系统，该光学检测系统包括安装于该按压件的光学刻度尺及与该光学刻度尺相对应的光电传感器。在优选的实施例中，该荷载件的内部开设有收容腔，该荷载件的底部还开设有连通该收容腔的通孔，该荷载件 位于该通孔的周围形成抵压座，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该按压部的宽度小于该杆部的宽度，该杆部活动收容于该收容腔，该按压部穿设于该通孔，该第一缓冲件一端与该抵压座相抵，另一端与该杆部的端面相抵，该按键测试装置还包括设于该杆部顶部与该收容腔的顶部之间的第二缓冲件。一种按键测试系统，包括多个上述的按键测试装置，用于同时测试多个待测按键，每一待测按键包括上电极和下电极，多个待测按键的上电极相互连接，或者多个待测按键的下电极相互连接。在优选的实施例中，还包括控制模块，该多个待测按键分成多个区域，该控制模块控制该第一驱动装置和第二驱动装置对每一区域单独检测。一种按键测试装置，包括:按压件，用于按压待测按键，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该杆部上设有多个间隔的托块；支架，包括多个平行设置的支撑板和位于相邻两个支撑板之间的支撑柱，每个支撑板上开设有允许该托块穿过的通孔；多个荷载件，每个荷载件放置在一个支撑板上，每个荷载件上开设有允许该杆部穿过但阻止该托块穿过的过孔，且相邻两个荷载件之间的距离大于相邻两个托块之间的距离；第一驱动装置，与该支架相连，用于驱动该杆部朝靠近或远离待测按键的方向运动；第二缓冲件，设于一个托块与支架之间；多个触动开关，每个触动开关设在一个支撑板上，并能被该荷载件的压力所触发；及检测设备，与该多个触动开关和待测按键相连，用于测量按压件的位移及接收该多个触动开关发出的信号。在优选的实施例中，还包括多个第一缓冲件，每个第一缓冲件设于一个托块与一个荷载件之间；或每个第一缓冲件设于一个支撑板与一个荷载件之间。一种按键测试装置，包括:按压件，用于按压待测按键，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该杆部上设有多个间隔的托块；支架，包括多个平行放置的支撑板和位于相邻两个支撑板之间的支撑柱，每个支撑板上开设有允许该托块穿过的通孔，且相邻两个支撑板之间的距离大于相邻两个托块之间的距离；多个荷载件，每个荷载件放置在一个支撑板上，每个荷载件上开设有允许该杆部穿过但阻止该托块穿过的过孔；第二缓冲件，设于一个托块与支架之间；第一驱动装置，固定在支架上，并与该杆部相连，用于驱动该按压部朝靠近或远离待测按键的方向运动；检测设备，待测按键相连，该检测设备包括用于测量按压件的位移的光学检测系统，该光学检测系统包括安装于该杆部的光学刻度尺及安装在该支架上并与该光学刻度尺相对应的光电传感器。
在优选的实施例中，还包括阻尼件，设于该按压件或该荷载件上。缓冲件，阻尼件，可以是上或下单向缓冲，可以是双向缓冲，材质，形状，缓冲大小不拘。上述按键测试装置的第一缓冲件能够让荷载件的重量慢慢的加载到按压件上，作用相当于将荷载件分成很多微小的单位重量，每一小单位重量呈递增方式，逐步地叠加在按压件上，比较接近人手按压时的实际情况。另外，荷载件加载及卸载的速度放缓，有利于检测装置采用充裕的时间读取测试值，增加了测量的精确度。
通过附图中所示的本发明的优选实施例的更具体说明，本发明的上述及其它目的、特征和优势将变得更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分，且并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。图1a为实施例一的按键测试装置的结构示意图；图1b为实施例一的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图1c为实施例一的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图2为实施例一的按键测试装置的测试曲线图；图3a、图3b为实施例二的按键测试装置的结构示意图；图3c为实施例二的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图3d为实施例二的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图4a、图4b为实施例三的按键测试装置的结构示意图；图4c为实施例三的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图4d为实施例三的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图5a、图5b为实施例四的按键测试装置的结构示意图；图5c为实施例四的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图5d为实施例四的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图6a、图6b为实施例五的按键测试装置的结构示意图；图6c为实施例五的按键测试装置加上光学检测系统的结构示意图；图6d为实施例五的按键测试装置加上阻尼件的结构示意图；图7a、图7b为实施例一的按键测试系统的结构示意图；图7c为实施例一的按键测试系统测试分区按键时的立体示意图；图7d为图7c中电路板的平面示意图；图8a、图8b为实施例二的按键测试系统的结构示意图；图9为实施例六的按键测试装置的结构示意图；图10为实施例六的按键测试装置的测试曲线图；图1Oa 图1Of为实施例六的按键测试装置使用过程中的状态示意图；图11为实施例六的按键测试装置测试按键按压时的测试曲线图；图12为实施例六的按键测试装置测试按键回弹时的测试曲线图；图13为实施例七的按键 测试装置的结构示意图；图14为实施例七的按键测试装置的测试曲线图15a为实施例八的按键测试装置的结构示意图；图15b为另一实施例的按键测试装置的结构示意图；图15c为另一实施例的按键测试装置的结构示意图；图15d为另一实施例的按键测试装置的结构示意图；图15e为另一实施例的按键测试装置的结构示意图；图15f为另一实施例的按键测试装置的结构示意图；图15g为另一实施例的按键测试装置的结构示意图；图16为实施例九的按键测试装置的结构示意图；图17为实施例三的按键测试系统的结构示意图；图18a 图18f为实施例三的按键测试系统使用过程中的状态示意图；图19为实施例四的按键测试系统的结构示意图；图20为实施例五的按键测试系统的结构示意图。
具体实施方式为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式
做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。其次，本发明利用示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是实例，其在此不应限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。请参阅图la，实施例一的按键测试装置主要用去检测待测按键9，其包括按压件
8、荷载件6、第一缓冲件7、第一驱动装置51、第二驱动装置52和检测设备55。按压件8和荷载件6之间通过第一缓冲件7可移动地相连。本实施例中，按压件8包括大致为圆柱体杆部81和位于杆部81 —端的圆锥形的按压部83。杆部81的直径小于按压部83的直径。可以理解，按压件8的材质、尺寸、形状可以不受本实施例的限制。荷载件6上开设有滑动收容杆部81的长条形轴孔61。可以理解，荷载件6的材质、尺寸、形状可以不受本实施例的限制。第一缓冲件7本实施例中为套设于杆部81的弹簧。第一缓冲件7的两端分别与按压部83和荷载件6的焊接固定。由此，按压件8可相对荷载件6在竖直方向上来回滑动。可以理解，第一缓冲件7也可为其他具有弹性，可以缓冲的物质，例如弹片，橡胶垫等。第一缓冲件7的两端也可以不与按压部83和荷载件6焊接。第一驱动装置51与荷载件6相连，用于驱动荷载件6朝靠近或远离待测按键9的方向运动。第一驱动装置51为促使荷载件6上下轴动或依设计要求左右轴动或任一方向轴动的驱动装置，如:汽动装置、电动装置、数控电机等等。本实施例中，荷载件6的内部开设有与轴孔61相通的空腔63。荷载件6的顶部还开设有连通该空腔63的通孔65。通孔65的直径小于空腔63的宽度。第一驱动装置51包括活塞杆511及位于活塞杆511 端部的牵引件513。牵引件513为一个宽度大于通孔65的横杆。活塞杆511穿设于通孔65，牵引件513活动收容于空腔63。当第一驱动装置51带动活塞杆511向上运动时，由于牵引件513的宽度大于通孔65，因此荷载件6能够跟随活塞杆511 —起向上运动。但当第一驱动装置51带动活塞杆511向下运动时，由于牵引件513可以在空腔63内上下活动，因此荷载件6可以不随活塞杆511 —起向下运动，而只会根据自身的重力，自由落体式的向下移动。可以理解，第一驱动装置51与荷载件6的连接方式也可以不限于本实施例所描述的情况，只需要满足当第一驱动装置51驱动荷载件6向下运动时，不额外增加施加在荷载件6上的力量即可。第二驱动装置52与待测按键9固定相连，用于驱动待测按键9朝靠近或远离按压件8的方向运动。与第一驱动装置51类似的，第二驱动装置52为驱动待测按键9上下轴动或依设计要求左右轴动或任一方向轴动的驱动装置，如:汽动装置、电动装置、数控电机
坐坐寸寸ο在本实施例中，待测按键9由可以发生弹性形变的材料制成。待测按键9内设有上电极12和下电极13。当待测按键9在按压件8的压力作用下发生弹性变形时，上电极12和下电极13接触而导通。当外力移除时，待测按键9又能恢复原状，此时上电极12和下电极13分离而断开。检测设备55分别与上电极12和下电极13电连接。检测设备55能接收上电极12和下电极13相接触产生的信号，从而判断待测按键9是否被按压导通。检测设备55还包括用于测量按压件8的位移的装置和测量施加在待测按键9上的力度的装置。在另一个实施例中，请参阅图lb，测量位移的装置为光学检测系统56。光电检测系统56的刻度尺式安装在按压件8上，光电检测系统56的光电传感器固定在支架上，可固定不动，也可随第二驱动装置52移动。第一驱动装置往下移动，或第二驱动装置往上移动时，加在按压件8上的荷重不足以将待测按键9压通时，光电检测系统，5的刻度尺相对于待测按键来说是同样不移动的。但刻度尺及按压件8会随着第二驱动装置52上下移动。这时光电传感器若固定不动，将随时检测出刻度尺的位置，当荷载件6的重量，受驱动一点点加在按压件8上到突破待测按键9的复位结构，按压件8将随着下降到按键被压通，如此光电传感器将检测刻度的正确位置及到达正确位置的时间，分辨出待测按键9的好坏。若光电传感器随着第二驱动装置移动，光电传感器将只会检测到刻度尺向下移动的方向，来分辨待测按键的好坏，此方式会节省结构的成本。施加在待测按键9上的力度的装置可以为现有的压力传感器等等。在另一个实施例中，请参阅图lc，按压件8上还可以设有一阻尼件57。阻尼件57的作用是让按压件8上升时不影响荷重，速度，下降时减缓速度。阻尼件57可以射在按压件8的任何位置，也可以设置在荷载件6上。请一并参阅图2，本实施例的检测过程如下所述。首先要测量得到正常按键的标准按压位移-力度曲线M和标准恢复位移-力度曲线N。第一驱动装置51驱动荷载件6和按压件8缓慢向下运动，当按压件8的按压部83刚刚接触待测按键9时，按压件8的行程记作O。之后第二驱动装置52驱动待测按键9及按压件8缓缓朝上运动，此时，施加在待测按键9上的力也将逐渐增大，且第一缓冲件7从初始的拉伸状态逐渐收缩。当施加在待测按键9上的力度等于按压件8的重量时，第一缓冲件7恢复正常状态。接下来，第一缓冲件7逐渐被压缩，施加在待测按键9上的力度等于按压件8的重量加上部分荷载件6的重量。继续上移，当第一缓冲件7被压缩到极限时，施加在待测按键9上的力度等于按压件8的重量加上全部荷载件6的重量，且此时第一驱动装置51的牵引件513在荷载件6的空腔63内活动，即，即使第二驱动装置52驱动待测按键9再向上运动，施加在待测按键9上的力度也不再继续增加，稳定为按压件8和荷载件6的重量和。整个按压过程中的力度与位移对应关系如图2中的曲线M所示。之后第二驱动装置52下移，使施加在待测按键9上的力度逐渐减小，直至为零。恢复过程中的力度与位移对应关系如图2中的曲线N所示。图2上曲线M上的第一标示点I为按键9导通的最大荷重；第二标示点2为按键9被按压至上、下电极点12、13导通后，按键9的最低荷重；曲线N第三标示点3为上、下极点12、13导通后，加在按键9上的外力解除时，按键9复位的最高荷重；第四标示点4为上、下电极点12、13导通后,加在按键9上的外力解除时,按键9复位的最低荷重；第五标示点5为按键9上、下电极点12、13导通的最大行程。阻尼件67的作用是在按键压通行程曲线M从0-1间不受阻力，M曲线1_2间受一定阻力来减慢待测按键9的复位材料的崩溃下降速度，是单向受阻力方式。确定好标准按压位移-力度曲线M和标准恢复位移-力度曲线N之后，便可对实际待测产品进行测量。图2中曲线X和曲线Y分别代表不良(手感不良)品的按压位移-力度曲线和恢复位移-力度曲线，其中2a标示与良品键2点的差异，3标示与良品键3点的差异。上述按键测试装置的第一缓冲件7的主要作用是:让荷载件6的重量可通过第一缓冲件7慢慢地加载到按压件8上，作用相当于将荷载件6分成很多微小的单位重量，每一小单位重量成递增方式，一步一步地与第二驱动装置52结合，用变动行程的方式叠加在按压件8上，让相加的重量足够促使待测按键9受压变形，最终达到上、下电极12、13连接导通，这个过程比较接近人手按压时的实际情况。可以理解的是，在上述测量过程中，第一驱动装置51与第二驱动装置52间的动作顺序，可以是第一驱动装置51先动，第二驱动装置52后动，也可以是第二驱动装置52先动，第一驱动装置51后动。可以理解的是，上述按键测试装置中，第二驱动装置52也可省略，此时第一驱动装置51推动荷载件6及按压件8向下运动。按压件8的杆部81及荷载件6的轴孔61也可省略，此时，按压件8与荷载件6仅通过第一缓冲件7相连。为确保荷载件6与按压件8重量叠加过程中不歪斜，可以在不影响重量的情形下，荷载件6、按压件8的两侧或上下适当部位增加限位导向机构。可以理解的是，上述按键测试装置中，当保留第二驱动装置52的时候，第一驱动件51也可省略，此时第二驱动装置52推动待测按键9和按压件8向上运动，完成测量。可以理解的是，当第一缓冲件7的两端并没有与荷载件6及按压件8焊接固定时，在初始状态下，按压在待测按键9上的力度即为按压件8的重力。此时按压件8的设计重量不足以将待测按键9压通，但也要设定一定重量，将曲线M中的I点位置过低的，将它压通判不良。请同时参阅图3a和图3b，实施例二的按键测试装置与实施例一大致相同，包括按压件32 (相当于实施例一的按压件8)、荷载件31 (相当于实施例一的荷载件6)、第一缓冲件33、第一驱动装置51、第二驱动装置52和检测设备55。荷载件31大致呈圆筒状，且内部开设有长条形的收容腔311。荷载件31的底部还开设有连通该收容腔311的通孔313。通孔313的孔径小于收容腔311的直径，因此荷载件31位于通孔313的周围形成环形的抵压座315。按压件32包括杆部321和位于杆部321 —端的按压部323。按压部323的宽度小于杆部321的宽度。杆部321的长度小于收容腔311的长度，因此杆部321可以活动收容于收容腔311内。按压部323则穿设于通孔313。第一缓冲件33—端与抵压座315相抵，另一端与杆部321的端面相抵。在另一个实施例中，请参阅图3c，测量位移的装置为光学检测系统56。光电检测系统的刻度尺式安装在按压件8上，光电检测系统的光电传感器固定在支架上，可固定不动，也可随第二驱动装置52移动。在另一个实施例中，请参阅图3d，按压件8上还可以设有一阻尼件57。阻尼件57的作用是让按压件8上升时不影响荷重，速度，下降时减缓速度。阻尼件57也可以设置在荷载件6上。实施例二的按键测试装置的使用方法与实施例一大致相同，可用于一如图1所示的待测按键9，待测按键9具有复位功能，其内设有上、下电极点12、13。当实施例二的按键测试装置置于待测按键9上，按压件32先接触到待测按键9，荷载件31后接触按压件32，相当于分两段将重量施加在待测按键9上，荷载件31加按压件32的重量可以将待测按键9压变形后使其内的上、下电极点12、13接触导电。具体的，第一驱动装置51驱动荷载件31和按压件32缓慢向下运动，当按压件32的按压部323刚刚接触待测按键9时，按压件32的行程记作O。之后第二驱动装置52驱动待测按键9及按压件32缓缓朝上运动，此时，施加在待测按键9上的力也将逐渐增大，且第一缓冲件7从初始的收缩状态逐渐拉伸。当施加在待测按键9上的力度等于按压件32的重量时，第一缓冲件7恢复正常状态。接下来，按压件32的杆部321开始在荷载件31的收容腔311中向上运动，直至杆部321的顶端与收容腔311的顶壁相接触，在此过程中，施加在待测按键9上的力度始终等于按压件32的重量。继续上移，当荷载件31和按压件32同时运动时，施加在待测按键9上的力度等于按压件32的重量加上全部荷载件31的重量，即，即使第二驱动装置52驱动待测按键9再向上运动，施加在待测按键9上的力度也不再继续增加，稳定为按压件32和荷载件31的重量和。由于第一缓冲件33置于荷载件31和按压件32之间，其可以让按压件32的重量缓慢地施加在待测按键9上，且当外力从待测按键9上移除时，能够使得叠加在待测按键9上的重量缓慢地减小。移除外力时，可以在荷载件31上方用已知的第一驱动装置51将荷载件31往上提，也可以是在待测按键9底座下方用已知的第二驱动装置52往下降，或两个驱动装置交互动作，使荷载件31与按压件32分离后，就只剩按压件32的重量加在待测按键9上。然后，当荷载件31带动第一缓冲件33往上接触到按压件32时，荷载件31继续往上，在一定的设计行程时，第一缓冲件33将会接触按压件32而带动按压件32开始离开待测按键9，到按压件32完全离开待测按键9时，上述行程就完全由第一缓冲件33的设计来决定。如果在这个位置的第一缓冲件33的弹性系数较大，即不容易被压缩，其将快速的将按压件32重量从待测按键9上卸除，行程、时间较短。若第一缓冲件33的弹性系数较小，即容易被压缩，将慢速的将按压件32重量从按键9上卸除，行程、时间将被拉长。由于重量减少的速度放慢，允许检测装置有较充裕的时间读取测试值，可以用于移除施加在受力物体的重量的时间测试，也可以用于移除施加在受力物体的重量的行程测试，这样便增加了测量的精确度，如图1曲线上第五标示点5至第四标示点4至第三标示点3间的任何一点代表的重量及行程，都可以选择当作标准测试。通过比对重量，达到分辨品质优劣为目的。请同时参阅图4a和图4b，实施例三的按键测试装置与实施例二大致相同，包括按压件32、荷载件31、第一缓冲件33、第一驱动装置51、第二驱动装置52和检测设备55，其不同之处在于，实施例三的按键测试装置还包括设于杆部321的顶部与收容腔311的顶部之间的第二缓冲件36。如前所述，当第二驱动装置52驱动待测按键9及按压件32缓缓朝上运动时，施加在待测按键9上的力也将逐渐增大，且第一缓冲件7从初始的收缩状态逐渐拉伸。当施加在待测按键9上的力度等于按压件32的重量时，第一缓冲件7恢复正常状态。接下来，按压件32的杆部321开始在荷载件31的收容腔311中向上运动，直至杆部321的顶端与收容腔311的顶壁相接触，在此过程中，第二缓冲件36逐渐被压缩，施加在待测按键9上的力度等于按压件32的重量加上部分荷载件31的重量。继续上移，当荷载件31和按压件32同时运动时，施加在待测按键9上的力度等于按压件32的重量加上全部荷载件31的重量，即，即使第二驱动装置52驱动待测按键9再向上运动，施加在待测按键9上的力度也不再继续增加，稳定为按压件32和荷载件31的重量和。由于第一缓冲件33置于荷载件31和按压件32之间，且第二缓冲件36置于杆部321的顶部与收容腔311的顶部之间，因此可以让按压件32及荷载件31的重量缓慢地施加在待测按键9上，且当外力从待测按键9上移除时，能够使得叠加在待测按键9上的重量缓慢地减小。另外，第一缓冲件33和第二缓冲件36的同时存在，使得作用于按键9上的受压重量过程和从按键9上移除重量的过程都能获得缓冲、减速，让待测的按键9能用时间测量方式或行程测量方式得到足够的、完整的检测。在另一个实施例中，请参阅图4c，测量位移的装置为光学检测系统56。光电检测系统的刻度尺式安装在按压件8上，光电检测系统的光电传感器固定在支架上，可固定不动，也可随第二驱动装置52移动。在另一个实施例中，请参阅图4d，按压件8上还可以设有一阻尼件57。阻尼件57的作用是让按压件8上升时不影响荷重，速度，下降时减缓速度。阻尼件57也可以设置在荷载件6上。请同时参阅图5a和图5b，实施例四的按键测试装置与实施例二大致相同，包括按压件32、按压件31、第一缓冲件33、第一驱动装置51、第二驱动装置52和检测设备55，其不同之处在于，按压件31的顶部还开设有连通收容腔311的导孔313。杆部321的顶部还设有活动穿设于导孔313的导柱323。导孔313的宽度小于收容腔321的宽度。导柱323与导孔313相互配合，以减少二者之间的摩擦力，并可确保按压件32相对按压件31上下滑动时活动顺畅。在另一个实施例中，请参阅图5c，测量位移的装置为光学检测系统56。光电检测系统的刻度尺式安装在按压件8上，光电检测系统的光电传感器固定在支架上，可固定不动，也可随第二驱动装置52移动。在另一个实施例中，请参阅图5d，按压件8上还可以设有一阻尼件57。阻尼件57的作用是让按压件8上升时不影响荷重，速度，下降时减缓速度。阻尼件57也可以设置在荷载件6上。请同时参阅图6a和图6b，实施例五的按键测试装置与实施例四大致相同，包括按压件32、按压件31、第一缓冲件33、第一驱动装置51、第二驱动装置52和检测设备55，其不同之处在于，还包括套设于导柱323上且位于杆部321顶部与收容腔341的顶部之间的第二缓冲件36。第二缓冲件36的作用、测试原理及效果与实施例三的第二缓冲件36的作用相似。在另一个实施例中，请参阅图6c，测量位移的装置为光学检测系统56。光电检测系统的刻度尺式安装在按压件8上，光电检测系统的光电传感器固定在支架上，可固定不动，也可随第二驱动装置52移动。在另一个实施例中，请参阅图6d，按压件8上还可以设有一阻尼件57。阻尼件57的作用是让按压件8上升时不影响荷重，速度，下降时减缓速度。阻尼件57也可以设置在荷载件6上。请一并参阅图7a和图7b,实施例一的按键测试系统包括多个相连的如图4a所示的实施例三的按键测试装置，其可应用于测试由若干按键组合而成的键盘。测试时，可以把键盘上的所有按键进行分区测试。分区的方法可以是多种的，例如将需要多个按键组合成键盘(如计算机键盘)，在设计时，可把所有按键9的上、下电极点12、13(包括131、132)分上下或左右，高低等等，用材料隔开，明确划分为两边。本实施例的按键测试系统还包括控制模块，该控制模块控制第一驱动装置和第二驱动装置对每一区域单独检测。如图7a所示，图中有两个按键测试装置A、B分别用于键盘上的两个按键9A、9B的测试(为了突出重点，此图省略了驱动装置)。按键9A、9B的上电极点12为同边电极且被设计成相连在一起，以达到最少线路的矩阵效果。按键9A、9B的下电极点131和132为非同边电极的不相连的接点，所以代表是不同按键。当按键9A、9B被同时下压时，如图7b所示，按键9A、9B的上电极点12是同一边电极，亦表示是连在一起的，而不管电极连在一起的按键相隔多远，中间的电路电阻大小，只要是在设计规格内，上电极点12可以同时与下电极点131和132导通连接，由于两下电极点131、132是装在不同按键的下电极，两电极点131、132读取的数值就不同，从而能分辨出按键9A、9B是不同按键。按键9A、9B可以同时压通而不互相干扰读值，达到提升测试速度的目的。可以理解，也可以将按键9A、9B的下电极点131、132相连在一起，此时对边相对应的电极点是分开的，也可达到同样目的。图7a或7b中的按键数量没有限制，可以是两个，可以是十个，可以是五十个，视设计者要让具体多少个按键的同一边电极连在一起而决定。每个按键上相对应一个按键测试装置，所有同区内的按键测试装置可在上方用第一驱动装置51控制，快速下压让所有按键同时导通。检测设备55能同时正确无误的读取每一按键的读值，也可用第一驱动装置51控制，先行快速下压同时动作，再从待测按键下方用第二驱动装置52慢速上升，同时测试，以达到最大的测试效用，通常选择时，不分上下边或左右边等等，可选择集中度高，数量多的一边来分区，亦即可以分区比较少的方式来划分，速度可以达到最快。图7c为一实施例的按键测试系统的立体图，图7d为图7c中按键内部导电线路放大示意图。由于方便描述，图7c中去掉按键键帽等外型的图，直接以按键内部的导电线路来标示说明。图7c中，101、102、103、104及105为固定支架，108、109为第一驱动装置，本实施
例为用电磁铁方式驱动。107为内部线路。图7d中分上线路与下线路，中间用绝缘材料隔绝，形成一按键结购。上下线路中有已设计好的电极。检测设备55是与图7d中的上线路线头(I号线路-2号线路)及下线路线头(3-11号线路)相连接。当驱动上线路Ia位置对应的按键测试装置动作，荷载件的重量足够时，会将上线路Ia及下线路相对应位置的4a压通，构成回路，检测设备55透过上线路I号线路下线路4号线路读取到信号，表示待测按键被压通了。由此原理，上线路I号线路同时设计有la、lb、lc、Id及Ie五个按键。选择这5个按键对应的按键测试装置同时动作时，上线路的电极点(la、lb、lc、ld及Ie)将分别对应下线路(4a、3a、5a、6a及7a)同时压通而能明确的分辨出每个按键的信号，不会互相干扰，达到最大效率。同样的，另一区上线路2号线路，上线路的电极点(2a、2b、2c、2d及2e)将分别对应下线路的电极点(12a、lla、10a、9a及8a)同时压通而能明确的分辨出每个按键的信号，不会互相干扰，达到最大效率。请一并参阅图8a和图8b,实施例二的按键测试系统包括多个相连的如图6a所示的实施例五的按键测试装置，其使用原理与实施例一的按键测试系统类似。可以理解，按键测试系统也可以由多个其他实施例(例如实施例一、二、四等)的按键测试装置构成。请参阅图9，实施例六的按键测试装置主要用于检测待测按键9，其包括按压件118、支架128、四个荷载件(119、120、121、122)、第一驱动装置51、第二驱动装置52、四个触动开关(123、124、125、126)及检测装置55。按压件118包括长条形的杆部118a和位于杆部118a —端的按压部118b。杆部118a上均匀间隔分布有四个形状相同的托块127。相邻两个托块127之间的距离相等，记作d。支架128包括四个平行设置的支撑板(133a、133b、133c、133d)。每个支撑板(133a、133b、133c、133d)的中部开设有允许杆部118a和托块127 —起穿过的通孔(未标示)。相邻两个支撑板之间用左右两个支撑柱130支撑。每根支撑柱130的长度相等，即相邻两个支撑板之间的距离相等。四个荷载件的形状，重量相同。每个荷载件(119、120、121、122)放置在一个对应的支撑板(133a、133b、133c、133d)上。相邻两个荷载件之间的距离相等，记作D。于是有D> do每一个荷载件(119、120、121、122)的中部开设有一个过孔(未标不)，该过孔的孔径比杆部118a略大，但比托块127要小，因此杆部118a可以穿过该过孔，但托块127无法穿过该过孔。第一驱动件51与支架128相连，用于驱动支架128朝靠近或远离待测按键9的方向运动。第一驱动装置51为促使支架128上下轴动或依设计要求左右轴动或任一方向轴动的驱动装置，如:汽动装置、电动装置、数控电机等等。第二驱动装置52与待测按键9固定相连，用于驱动待测按键9朝靠近或远离按压件118的方向运动。与第一驱动装置51类似的，第二驱动装置52为促使待测按键9上下轴动或依设计要求左右轴动或任一方向轴动的驱动装置，如:汽动装置、电动装置、数控电机等等。四个触动开关(123、124、125、126)分别设在四个支撑板(133a、133b、133c、133d)上。每个荷载件(119、120、121、122)可以按压一个对应的触动开关(123、124、125、126)。当荷载件的压力触发触动开关时，触动开关可以向外传送信号，例如正电压或负电压信号。检测设备55分别与待测按键9的上电极12、下电极13，及四个触动开关(123、124、125、126)电相连，用于测量按压件118的位移、接收待测按键9被压通时的信号及接收四个触动开关(123、124、125、126)发出的信号。在本实施例中，检测装置55包括用于测量按压件的位移的光学检测系统。该光学检测系统包括安装于杆部118a的光学刻度尺141及安装在支架128上并与光学刻度尺141相对应的光电传感器142。本实施例中，光学刻度尺141为透明材料印刷黑色不透明遮光线形成，也可以采用曝光方式，在透明材料上做出遮光线，以供光电传感器142读取讯号。可以理解，光学检测系统也可省略。为了更好的使按压件118上下滑动，支架128还包括设于支撑板133a上方的上引导板129和设于支撑板133d下端的下引导板140。杆部118a滑动穿设于上引导板129和下引导板140。下面详细描述本实施例的按键测试装置的使用方法。设按压件118的重量为20g ;每一个荷载件(119、120、121、122)的重量为15g。首先要测量得到如图10所示的正常按键的标准按压位移-力度曲线M。图10中，虚线V是本实施例的按键测试装置呈现出来的行程与重量关系线，图中E、F、G、H、I是图9里的四个荷载件(119、120、121、122)加上按压件118上时的关系位置图。请参阅图10a，第一步、将第一驱动装置51启动，将支架128缓慢向下运动，此时，因为按压件118上的托块127搁置在下引导板140上，因此按压件118也将跟随支架128
一起缓慢向下运动。请参阅图10b，当按压件118的按压部118b刚刚接触待测按键9时，第一驱动装置51停止工作，此时按压件118的行程记作O。然后第二驱动装置52驱动待测按键9向上运动，将按压件118向上推起，直至最下方的托块127接触到最下方的荷载件122为止。在此过程中，施加在待测按键9上的力度为按压件118的重量，对应图10的E点20g。此时，倒数第二个托块127与荷载件121的距离为L，L = D-d ;倒数第三个托块127与荷载件120的距离为2L ;最上面的一个托块127与荷载件119的距离为3L。请参阅图10c，第二驱动装置52继续驱动待测按键9向上运动，最下方的托块127将最下方的荷载件122推离支撑板133d，直至倒数第二个托块127接触到荷载件121为止。在此过程中，施加在待测按键9上的力度为按压件118加上一个荷载件122的重量为20g+15g = 35g，以图10为例，由E点上升到F点。当荷载件122与支撑板133d分离时，触动开关126被触动，并发送一个信号到检测设备55，检测设备55便可得知荷载件122的重量已经被加载到按压件118上。请参阅图10d，第二驱动装置52继续驱动待测按键9向上运动，倒数第二个托块127将荷载件121推离支撑板133c，直至倒数第三个托块127接触到荷载件120为止。在此过程中，施加在待测按键9上的力度为按压件118加上两个荷载件122的重量为20g+15g+15g = 50g,以图10为例，由F点上升到G点。当荷载件121与支撑板133c才分离时，触动开关125被触动，并发送一个信号到检测设备55，检测设备55便可得知荷载件121的重量已经被加载到按压件118上。请参阅图10e，第二驱动装置52继续驱动待测按键9向上运动，倒数第三个托块127将荷载件120推离支撑板133b，直至最上面的一个托块127接触到荷载件119为止。在此过程中，施加在待测按键9上的力度为按压件118加上三个荷载件122的重量为20g+15g+15g+15g = 65g，以图10为例，由G点上升到H点。当荷载件120与支撑板133b才分离时，触动开关124被触动，并发送一个信号到检测设备55，检测设备55便可得知荷载件120的重量已经被加载到按压件118上。请参阅图1Of，第二驱动装置52继续驱动待测按键9向上运动，最上面的一个托块127将荷载件119推离支撑板133a。在此过程中，施加在待测按键9上的力度为按压件118加上四个荷载件122的重量为20g+15g+15g+15g+15g = 80g,以图10为例，由H点上升到I点。当荷载件119与支撑板133a分离时，触动开关123被触动，并发送一个信号到检测设备55，检测设备55便可得知荷载件119的重量已经被加载到按压件118上。以上示例的是四个荷载件119的方式，可以视需要精密度变更荷载件119的重量大小，数量多寡，同时也可以设定误差范围。上述按键测试装置可以检测按键是否按压不良。例如，可以待测按键9设定的压通重量为65g，当三个荷载件119都加载在按压件118上时，按键复位结构的设计到达崩溃点，按压件118快速下降把待测按键9内的上电极12、下电极13接通，检测设备55判断出这个按键是良品。测试时发现，检测设备55已接收到三个触动开关126、125、124发出的信号，即有四个荷载件119加到按压件118上，重量已超过65g(为80g)，但没读取到待测按键9的上电极12、下电极13被接通的信号，则说明待测按键9仍未被压通，表明待测按键9需要压通的荷重过大，可被判定为不良品。测试时发现，检测设备55只接收到两个触动开关126、125发出的信号，即有两个荷载件119加到按压件118上时，重量还不到65g (为50g)，检测设备55就已经接收到了待测按键9的上电极12、下电极13被接通的信号，则说明待测按键9过早被压通，表明待测按键9需要压通的荷重过小，可被判定为不良品。上述按键测试装置还可以对按键的回弹情况进行检测。当第二驱动装置52将待测按键9连同按压件118推到一定位置后，多个荷载件119的重量将施加到待测按键9上，使待测按键9的复位结构崩溃，图10所示的曲线M到达按键全行程，待测按键9被压通。之后，第二驱动装置52开始向下运动，带动按压件118下降，待测按键9开始反弹复位，复位结构曲线如图11曲线N所示。从H点开始，到G点时，触动开关123发送一个信号给检测设备55通知荷载件119已经被从按压件118上卸除，现在施加在待测按键9上的重量为65g-15g = 50g。此时待测按键9的复位结构承受的压力较高而无法复位。第二驱动装置52继续向下运动，当按压件118到达E点时，检测设备55检测到触动开关124、125及126发出的信号，说明荷载件120、121、122已被卸除，此时施加在待测按键9上的重量为65g-15g-15g-15g = 20g，小于位置点3的35g，待测按键9的复位结构开始作用，将待测按键9弹起恢复成原始状态。上述按键测试装置可以检测按键压通后是否回弹不良。请参与图12，当三个荷载件120、121、122被加载到按压件118上，到达图12上曲线M的位置I时，荷载件的重量已经足够将待测按键9压通，此时待测按键9的复位结构到达崩溃点，待测按键9将快速下降到复位结构最低点2，对应重量为35g，行程为1.Smm0位置点2表示的是正常良品按键的位置。如果测量某一待测按键9的回弹曲线为图12所示的曲线X，复位结构最点为图12中的点2a (对应重量为45g,行程为1.5mm),则可以判断为回弹不良。可以理解的是，上引导板129、下引导板140、第二驱动装置52也可省略。荷载件和托块127的数量也可以为两个、三个、五个或更多。相邻两个托块127之间的距离也可以有少许差异，相邻两个荷载件之间的距离也可由少许差异，相邻两个支撑板之间的距离也可由少许差异，只需满足按压件118上移时，多个荷载件依次加载即可。请参阅图13，实施例七的按键测试装置与实施例六的按键测试装置的结构大致相同，其区别特征在于，实施例七的按键测试装置还包括四个第一缓冲件(135、136、137及138)。本实施例中，第一缓冲件为弹簧。每一个第一缓冲件设于一个托块127与一个荷载件(119、120、121 及 122)之间。实施例七的按键测试装置的使用方式与实施例六相似，在此不再赘述。四个第一缓冲件(135、136、137及138)的作用是能够减缓四个荷载件(119、120、121及122)加载到按压件118上面的速度，相当于把按压件118的行程放大了，使操作者比较容易以测量行程的方式检测出差异。第一缓冲件的弹性系数及长度决定了行程放大的倍数。请再次参阅图12，实施例六的按键测试装置的良品曲线M的最低位置为点2，不良按键的曲线为X，最低位置为点2a。点2a比正常点2高，也就是说回弹时力量比较重，导通点到来的会比较慢。这种细微差异除非用人手工测量，否则很难用仪器测量出，但是使用人工测量又会衍生出标准不统一、速度慢、成本高等缺点。然而，使用实施例七的按键测试装置后，上述问题能够得到大幅改善。图14为实施例七的按键测试装置的测试曲线图。图12中点2与点2a之间的行程差为0.3mm，而图14中点2与点2a表现出来的行程为1.25，两者相差了四倍多，由此说明引入了第一缓冲件后，对于按键复位结构的不良误差能够放大成更大的差异值供检测设备55判断。请参阅图15a，实施例八的按键测试装置与实施例六的按键测试装置的结构大致相同，其区别特征在于，实施例八的按键测试装置还包括四个第一缓冲件(135、136、137及138)。本实施例中，第一缓冲件为弹簧。每一个第一缓冲件设于一个荷载件(119、120、121及 122)与一个支撑板(133a、133b、133c、133d)之间。实施例八的按键测试装置的使用方式与实施例七相似，在此不再赘述。需要强调的是，良品按键下降速度正常，不良按键下降速度会因荷载件被第一缓冲件抵销掉，因而下降速度变慢，所以还可根据光电传感器142读取到的光学刻度尺141的第一条条形码与最后读取到的条形码的时间差来判断按键的质量好坏。请参阅图15b，本实施例的按键测试装置与实施例六的按键测试装置的结构大致相同，其区别特征在于，本实施例的按键测试装置省略了四个触动开关，只通过光学检测系统来判断按键的质量好坏。请参阅图15c，本实施例的按键测试装置与图15b所示的按键测试装置的结构大致相同，其区别特征在于，按压件118上还设有阻尼件57。阻尼件57的作用如前所述。请参阅图15d，本实施例的按键测试装置与图13实施例七所示的按键测试装置的结构大致相同，其区别特征在于，本实施例的按键测试装置还包括设于一个托块与支架128之间的最下端的第二缓冲件143。本实施例中，第二缓冲件143设于最下端的托块127与下引导板140之间。第二缓冲件143的作用是待测按键9压通检测完成后，要检测待测按键的复位能力测时，第一驱动装置51往上移动把荷载件(119、120、121、122)的重量从待测按键9上移除，连带移除按压件118到只剩按压件118本身重量施加在待测按键9时，按压件118将受第二缓冲件143的作用而缓慢的降低重量。请参阅图15e，本实施例的按键测试装置与图15d所示的按键测试装置的结构大致相同，其区别特征在于，按压件118上还设有阻尼件57。阻尼件57的作用如前所述。请参阅图15f，本实施例的按键测试装置与图15d所示的按键测试装置的结构大致相同，其区别特征在于，四个第一缓冲件(135、136、137及138)每一个第一缓冲件设于一个荷载件(119、120、121 及 122)与一个支撑板(133a、133b、133c、133d)之间。请参阅图15g，本实施例的按键测试装置与图15e所示的按键测试装置的结构大致相同，其区别特征在于，四个第一缓冲件(135、136、137及138)每一个第一缓冲件设于一个荷载件(119、120、121 及 122)与一个支撑板(133a、133b、133c、133d)之间。请参阅图16，实施例九的按键测试装置与实施例六的按键测试装置的结构大致相同，其区别特征在于，第一驱动装置51固定在支架134上，且第一驱动装置51的活塞杆与按压件118相连。第一驱动装置51能够驱动按压件118朝靠近或远离待测按键9的方向运动。实施例九的按键测试装置的使用方式与实施例六相似，在此不再赘述。请参阅图17，实施例三的按键测试系统由三个依次排列的如实施例九的按键测试装置组合而成，用于检测三个待测按键9a、9b和9c。实施例二的按键测试系统包括三个按
压件 118a、118b、118c，支架 134，十二个荷载件(119a、120a、121a、122a......119c、120c、
121(3、122(:)、三个第一驱动装置51&、5113、51(3，一个第二驱动件52、十二个触动开关(123a、
124a、125a、126a......123c、124c、125c、126c)及一个检测装置55。检测装置55包括三个
光学刻度尺141a、141b和141c。每个按压件118a、118b、118c上设有四个托块(127a、127c)。支架134包括四个平行设置的支撑板(137a、137b、137c、137d)。相邻两个支撑板之间用左右两个支撑柱136支撑。支架134还包括设于支撑板137a上方的上引导板135和设于支撑板137d下端的下引导板138。三个第一驱动装置51a、51b、51c都固定在支架134上，且每一个第一驱动装置51a、51b、51c的活塞杆分别与按压件件118a、118b、118c相连。第一驱动装置51a、51b、51c能够驱动按压件118a、118b、118c朝靠近或远离待测按键9a、9b和9c的方向运动。所有十二个触控开关(123a、124a、125a、126a......123c、124c、125c、126c)均与
测试装置55相连。检测设备55还分别与待测按键9a、9b和9c的上电极12a、12b、12c及下电极13a、13b、13c相连。下面详细描述本实施例的按键测试系统的使用方法。请参阅图18a，第一驱动装置51a、51c同时启动，驱动按压件118a、118c —起向下运动一定行程，直至托块127a和127c搁置在下引导板138上。这一步骤的目的主要是区分开需要检测的按键和不需要检测的按键。请参阅图18b，第二驱动装置52驱动待测按键9a、9c连通9b —起向上运动，直至按压件118a、118c的末端分别与待测按键9a、9c接触，此时按压件118a、118c的行程记作O。因为第一驱动装置51b没有启动，因此待测按键9b不会与按压件118b接触。请参阅图18c，然后第二驱动装置52驱动待测按键9a、9c向上运动，将按压件118a、118c向上推起，直至倒数第二个托块127a、127c接触到荷载件121a、121c为止。在此过程中，施加在待测按键9a、9c上的力度为按压件118a、118c加上一个荷载件122a、122c的重量。请参阅图18d，第二驱动装置52驱动待测按键9a、9c向上运动，将按压件118a、118c向上推起，直至倒数第三个托块127a、127c接触到荷载件120a、120c为止。在此过程中，施加在待测按键9a、9c上的力度为按压件118a、118c加上两个荷载件122a、122c的重量。请参阅图18e，第二驱动装置52继续驱动待测按键9a、9c向上运动，将倒数第三个托块127a、127c将荷载件120a、120c推离支撑板137b，直至最上面的一个托块127a、127c接触到荷载件119a、119c为止。在此过程中，施加在待测按键9a、9c上的力度为按压件118a、118c加上三个荷载件122a、122c的重量。请参阅图18f，第二驱动装置52继续驱动待测按键9a、9c向上运动，最上面的一个托块127a、127c将荷载件119a、119c推离支撑板137a。在此过程中，施加在待测按键9a、9c上的力度为按压件118a、118c加上四个荷载件122a、122c的重量。上述实施例的按键测试系统可以检测按键是否按压不良或是否回弹不良，检测的方式如实施例六类似，在此不再赘述。上述实施例的按键测试系统是包括三个按键测试装置的形式，但是可以理解，按键测试装置的数量也可以是两个、四个或更多。请参阅图19，实施例四的按键测试系统与实施例二的按键测试系统的结构大致相同，其不同之处在于，实施例三的按键测试系统还包括十二个第一缓冲件(127a、128a、
129a、130a......127c、128c、129c、130c)。本实施例中，第一缓冲件为弹簧。每一个第一
缓冲件设于一个荷载件(119a、120a、121a、122a......119c、120c、121c、122c)与一个托块
(127a、127c)之间。第一缓冲件的作用如实施例七所述。请参阅图20，实施例五的按键测试系统与实施例二的按键测试系统的结构大致相同，其不同之处在于，实施例三的按键测试系统还包括十二个第一缓冲件(127a、128a、
129a、130a......127c、128c、129c、130c)。本实施例中，第一缓冲件为弹簧。每一个第一缓
冲件设于一个荷载件(119a、120a、121a、122a......119c、120c、121c、122c)与一个支撑板
(137a、137b、137c、137d)之间。以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
权利要求
1.一种按键测试装置，其特征在于，包括: 按压件，用于按压待测按键； 荷载件，与该按压件可移动地相连； 第一缓冲件，设于该按压件与该荷载件之间。
2.根据权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于，还包括: 第一驱动装置，与该荷载件相连，用于驱动该荷载件朝靠近或远离待测按键的方向运动； 第二驱动装置，用于驱动待测按键朝靠近或远离该按压件的方向运动；及 检测设备，用于测量按压件的位移及施加在待测按键上的力度。
3.根据权利要求2所述的按键测试装置，其特征在于:该检测设备包括用于测量按压件的位移的光学检测系统，该光学检测系统包括安装于该按压件的光学刻度尺及与该光学刻度尺相对应的光电传感器。
4.根据权利要求1所述的按键测试装置，其特征在于:该荷载件的内部开设有收容腔，该荷载件的底部还开设有连通该收容腔的通孔，该荷载件位于该通孔的周围形成抵压座，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该按压部的宽度小于该杆部的宽度，该杆部活动收容于该收容腔，该按压部穿设于该通孔，该第一缓冲件一端与该抵压座相抵，另一端与该杆部的端面相抵，该按键测试装置还包括设于该杆部顶部与该收容腔的顶部之间的第二缓冲件。
5.一种按键测试系统 ，其特征在于:包括多个如权利要求1至4任意一个所述的按键测试装置，用于同时测试多个待测按键，每一待测按键包括上电极和下电极，多个待测按键的上电极相互连接，或者多个待测按键的下电极相互连接。
6.根据权利要求5所述的按键测试系统，其特征在于:还包括控制模块，该多个待测按键分成多个区域，该控制模块控制该第一驱动装置和第二驱动装置对每一区域单独检测。
7.一种按键测试装置，其特征在于，包括: 按压件，用于按压待测按键，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该杆部上设有多个间隔的托块； 支架，包括多个平行设置的支撑板和位于相邻两个支撑板之间的支撑柱，每个支撑板上开设有允许该托块穿过的通孔； 多个荷载件，每个荷载件放置在一个支撑板上，每个荷载件上开设有允许该杆部穿过但阻止该托块穿过的过孔，且相邻两个荷载件之间的距离大于相邻两个托块之间的距离；第一驱动装置，与该支架相连，用于驱动该杆部朝靠近或远离待测按键的方向运动；第二缓冲件，设于一个托块与该支架之间； 多个触动开关，每个触动开关设在一个支撑板上，并能被该荷载件的压力所触发；及检测设备，与该多个触动开关和待测按键相连，用于测量按压件的位移及接收该多个触动开关发出的信号。
8.根据权利要求7所述的按键测试装置，其特征在于:还包括多个第一缓冲件，每个第一缓冲件设于一个托块与一个荷载件之间；或每个第一缓冲件设于一个支撑板与一个荷载件之间。
9.一种按键测试装置，其特征在于，包括:按压件，用于按压待测按键，该按压件包括杆部和位于该杆部一端的按压部，该杆部上设有多个间隔的托块； 支架，包括多个平行放置的支撑板和位于相邻两个支撑板之间的支撑柱，每个支撑板上开设有允许该托块穿过的通孔，且相邻两个支撑板之间的距离大于相邻两个托块之间的距离； 多个荷载件，每个荷载件放置在一个支撑板上，每个荷载件上开设有允许该杆部穿过但阻止该托块穿过的过孔； 第二缓冲件，设于一个托块与支架之间； 第一驱动装置，固定在支架上，并与该杆部相连，用于驱动该按压部朝靠近或远离待测按键的方向运动； 检测设备，待测按键相连，该检测设备包括用于测量按压件的位移的光学检测系统，该光学检测系统包括安装于该杆部的光学刻度尺及安装在该支架上并与该光学刻度尺相对应的光电传感器。
10.根据权利要求9所述的按键测试装置，其特征在于:还包括阻尼件，设于该按压件或该荷载件上。
11.根据权利要求10所述的按键测试装置，其特征在于:缓冲件，阻尼件，可以是上或下单向缓冲，可以是双 向缓冲，材质，形状，缓冲大小不拘。
全文摘要
本发明涉及一种按键测试装置及按键测试系统。该按键测试装置包括按压件，用于按压待测按键；荷载件，与该按压件可移动地相连；第一缓冲件，设于该按压件与该荷载件之间；第一驱动装置，与该荷载件相连，用于驱动该荷载件朝靠近或远离待测按键的方向运动；及检测设备，用于测量按压件的位移及施加在待测按键上的力度。上述按键测试装置具有测量精确度较高的优点。
文档编号G01R31/327GK103217643SQ20121001541
公开日2013年7月24日 申请日期2012年1月18日 优先权日2012年1月18日
发明者赖贵城 申请人:深圳安格仪器有限公司