专利名称：一种用于继电保护的动态滤零漂算法的制作方法
技术领域：
本发明涉及电力技术领域，尤其涉及一种在继电保护中动态测量并滤除零漂的算法。
背景技术：
零漂是零点漂移(Zero drift)的简称，在继电保护中，零漂是指在外加交流为零的情况下，保护装置采样量的大小。它是由于传感器、测量电路、衰减器、放大器、滤波器等器件的温度漂移和时间漂移造成的。运算放大器均是采用直接耦合的方式，而直接耦合式放大电路各级的Q点是相互影响的，由于各级的放大作用，第一级的微弱变化，会使输出级产生很大的变化。当输入短路时，输出将随时间缓慢变化。晶体三极管的参数受温度的影响，也会产生零点漂移。零点发生漂移时会影响计量的精度，也会给保护带来误差。零漂是造成系统误差的主要原因之一，一些快速算法和瞬时值保护算法更容易受到零漂的影响。现有的继电保护装置，一般在装置出厂前测量出零漂，作为一个定值固化在保护装置中。实际运行时，保护装置每次采样时都减去这个固定的零漂值。但是，保护装置的零漂不是一个固定不变的值，它会随着环境温度、运行时间的变化而上下波动，因此导致减去固定零漂值的采样数据与真实数据误差较大，精确度较低。
发明内容
本发明提供了一种用于继电保护的动态滤零漂算法，在装置运行过程中自动计算零漂值，消除了实际运行过程中零漂随时间和温度变化而变化带来的误差，提高了保护和计量的精度。为了达到上述目的，本发明提供如下技术方案:
一种用于继电保护的动态滤零漂算法，包括以下步骤:
(1)将采样通道输入短接，测量出通道的初始零漂值并固化到保护装置的存储器中；
(2)计算采样点数据之和；
(3)根据采样点数据之和，求出平均零漂值；
(4)计算平均零漂值与初始零漂值之间的零漂变化量；
(5)根据递变周期计算出零漂递变步长；
(6)根据所述递变周期，递变调整每个采样点的零漂值。作为一种改进，还包括以下步骤:
(7)定时将调整后的零漂值固化到保护装置的存储器中。所述计算采样点数据之和的过程为:计算
〒个采样点数据之和，= ，其中a为单个采样数据，T ,, v>r,为每周期tC^Tfl TCaU = Ml x N N采样点数，M1为采样总周期长度除以单个周期长度的倍数。作为优选方案，M1的取值为整数。作为优选方案，所述求出平均零漂值的过程为 ；
权利要求
1.一种用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于包括以下步骤: (1)将采样通道输入短接，测量出通道的初始零漂值并固化到保护装置的存储器中； (2)计算采样点数据之和； (3)根据采样点数据之和，求出平均零漂值； (4)计算平均零漂值与初始零漂值之间的零漂变化量； (5)根据递变周期计算出零漂递变步长； (6)根据所述递变周期，递变式调整每个采样点的零漂值。
2.根据权利要求1所述的用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于还包括以下步骤: (7)定时将调整后的零漂值固化到保护装置的存储器中。
3.根据权利要求1或2所述的用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于，所述计算采样点数据之和的过程为:计算T个采样点数据之和
4.根据权利要求3所述的用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于=Af1的取值为整数。
5.根据权利要求3所述的用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于，所述求出平均零漂值的过程为=
6.根据权利要求5所述的用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于，所述计算零漂变化量的过程为:
7.根据权利要求6所述的用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于所述计算零漂递变步长的过程为:
8.根据权利要求7所述的用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于:1/2的取值为整数。
9.根据权利要求7或8所述的用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于所述递变式调整每个采样点的零漂值的过程为:调整每个采样点的零漂值，使得
10.根据权利要求1或2所述的用于继电保护的动态滤零漂算法，其特征在于:发生故障时，关闭所述动态滤零漂算法。
全文摘要
本发明提供一种用于继电保护的动态滤零漂算法，包括以下步骤(1)将采样通道输入短接，测量出通道的初始零漂值并固化到保护装置的存储器中；(2)计算采样点数据之和；(3)根据采样点数据之和，求出平均零漂值；(4)计算平均零漂值与初始零漂值之间的零漂变化量；(5)根据递变周期计算出零漂递变步长；(6)根据所述递变周期，递变式调整每个采样点的零漂值。本发明提供的算法，在装置运行过程中自动计算零漂值，消除了实际运行过程中零漂随时间和温度变化而变化带来的误差，提高了保护和计量的精度。
文档编号G01R31/00GK103245846SQ201210029910
公开日2013年8月14日 申请日期2012年2月10日 优先权日2012年2月10日
发明者邵震宇, 田伟 申请人:南京弘毅电气自动化有限公司