专利名称：一种开/短路测试系统及方法
技术领域：
本发主要用于集成电路测试，具体涉及ー种开/短路测试系统及方法。
背景技术：
众所周知开/短路测试主要用于检测系统的连接特性及集成电路的静电保护电路是否完好；无论是在中测还是在成测中开/短路测试都是必不可少的。在集成电路设计中为了保护芯片，每ー个管脚都设计了ー个保护电路，该保护电路是两个首尾相连的ニ极管，集成电路的管脚置于两个ニ极管之间，其中一个ニ极管接地，另ー个ニ极管接电源。开路/短路测试实质上就是测试这两个ニ极管的特性。然而不管是在中测还是成测中，待测集成电路的测试中不只是测试管脚的开/短路，还需要通过该管脚对待测集成电路的功能进行测试，在上述的待测电路中加入功能测试逻辑模块则可完成待测集成电路的功能测试。结合图1和图2，传统测试模块包括测试电压工具、功能测试逻辑模块、第一供电开关Kl及第ニ供电开关K2，所述功能测试逻辑模块包括功能测试逻辑及开关K3，所述第一供电开关Kl与待测管脚相连并为待测管脚提供IOOuA的电流，所述第二供电开关K2与待测管脚相连并为待测管脚提供-1OOuA的电流，所述开关控制所述功能测试逻辑的通断。传统的测试方法如下1、测试与电源相连的ニ极管的压降，给集成电路待测管脚输入IOOuA电流，其它的管脚全部给零电位或者直接接地，所述与电源相连的ニ极管导通后，用所述测量电压エ具测试所述集成电路待测管脚的电压，如果该管脚的电压值在0. 2V 1. 5V之间，则该管脚是正常的，测试通过，如果该管脚的电压值大于1. 5V，则该管脚是开路，测试不通过，如果该管脚的电压值小于0. 2V，则该管脚短路，测试不通过。2、测试与地相连的ニ极管的压降，给所述待测集成电路管脚输入-1OOuA电流，其他的管脚全部给零电位或者直接接地，所述与地相连的ニ极管导通后，用所述测量电压エ具来测试所述集成电路待测管脚的电压，如果该管脚的电压值在-1. 5V (-0. 2V)之间，则该管脚是正常的，测试通过，如果该管脚的电压值小于-1. 5V，则该管脚是开路，测试不通过，如果该管脚的电压值大于-0. 2V，则该管脚短路，测试不通过。传统的测试方法中，每ー个管脚都有一个完整的测试电路，每ー个测试电路都需要2-3个开关，待测集成电路有N个管脚就会有N个完整的测试电路，则整个待测集成电路的测试电路就会有2N-3N个开关，有N个待测管脚就需要测试2N次，同时模拟信号的切換只能用继电器，继电器 的缺点是寿命短、体积大、成本高，且有继电器矩阵的测试系统其稳定性和可维护性都不高。继电器的寿命只有10万次左右，继电器矩阵的更换不方便，这大大降低了测试效率。
发明内容
本发明的目的是提供ー种开/短路测试系统及方法替代传统的继电器矩阵完成开/短路测试，大大节约了测试成本同时也保证了测试系统的稳定性和可维护性。为实现上述目的，本发明提供ー种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接ロ及第ニ供电接ロ，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由ー个接电源的ニ极管和ー个接地的ニ极管组成，所述接电源的ニ极管和所述接地的保护ニ极管首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的ニ极管和所述接地的保护ニ极管之间，所述第一供电接ロ与所述接电源的ニ极管的阴极相连，所述第二供电接ロ与所述接地的ニ极管的阳极相连；较佳的，所述电压測量工具阵列中的电压测量工具的数量为N个，所述功能测试逻辑模块阵列中的功能测试逻辑模块的数量为N个，与所述待测管脚的数量相同，且N ^ 2 ；较佳的，所述功能测试逻辑模块包括限流电阻及与所述限流电阻相连的功能测试逻辑，所述限流电阻保护所述接电源的ニ极管的阳极及所述接地的ニ极管的阴极与功能测试逻辑不短路；较佳的，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ为选择开关，当测试所述接电源的ニ极管时，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ均接地，则当测试时，功能测试逻辑输出高电平，所述接电源的ニ极管导通，所述接地的ニ极管不导通；较佳的，所述第 一供电接ロ及所述第二供电接ロ为选择开关，当测试所述接地的ニ极管时，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ均接电源，则当测试时，功能测试逻辑输出低电平，所述接地的ニ极管导通，所述接电源的ニ极管不导通。较佳的，所述第一供电接ロ的电压范围大于与其相连的所述接电源的ニ极管的压降范围，所述第二供电接ロ的电压范围大于与其相连的所述接地的ニ极管的压降范围，且所述第一供电接ロ和所述第二供电接ロ的电源电压相同。较佳的，所述第一供电接ロ和所述第二供电接ロ的电压可以根据待测集成电路的设计要求进行调整。较佳的，所述接电源的ニ极管和所述接地的ニ极管的压降范围为0. 2V 1. 5V。本发明还提供了ー种开/短路测试方法，具体步骤如下将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接地；所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的ニ极管的阳极，使得所述接电源的ニ极管导通；所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的ニ极管的压降值相同，是则进入下一歩，否则测试不通过；将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接电源；所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的ニ极管的阴极，使得所述接地的ニ极管导通；所述电压测量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接ロ的电源电压减去所述接地的ニ极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。较佳的，所述步骤还可如下
将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接电源；所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的ニ极管的阴极，使得所述接地的ニ极管导通；所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接ロ的电源电压减去所述接地的ニ极管的压降值相同，是则进入下一歩，否则测试不通过；将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接地；所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的ニ极管的阳极，使得所述接电源的ニ极管导通；所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的ニ极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。与现有技术相比，本发明技术方案中只需要两个继电器，并且只需要测试两次即可测完所有的待测管脚大大降低了成本，提高了系统的稳定性和可维护性。同时不管是测试接电源的ニ极管还是测试接地的ニ极管，待测管脚上的电压都是正电压，降低了测量电压工具的要求。以下结合附图进行描述，以下附图用于解释本发明。
图1为背景技术传统开/短路测试系统框2为背景技术传统开/短 路测试电路3为本发明技术方案系统框4为本发明技术方案电路5为本发明技术方案流程6为本发明技术方案另一流程图
具体实施例方式现结合附图描述本发明，如上所述本发明提供了ー种开/短路测试系统及方法，本发明的实施可以很大程度上降低成本，同时可以提高系统的稳定性和可维护性。结合图3和图4，如图所示，本发明实施例提供ー种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具ADC阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接ロ Kl及第ニ供电接ロ K2，所述待测集成电路的每个待测管脚都有ー个保护电路，所述保护电路由一个接电源的ニ极管Dl和ー个接地的ニ极管D2组成，所述接电源的ニ极管Dl和所述接地的保护ニ极管D2首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的ニ极管Dl和所述接地的保护ニ极管D2之间，所述第一供电接ロ Kl与所述接电源的ニ极管Dl的阴极相连，所述第二供电接ロ K2与所述接地的ニ极管D2的阳极相连；较佳的，所述电压测量工具ADC阵列中的电压测量工具ADC的数量为N个，所述功能测试逻辑模块阵列中的功能测试逻辑模块的数量为N个，与所述待测管脚的数量相同，且N彡2较佳的，所述功能测试逻辑模块包括限流电阻R及与所述限流电阻相连的功能测试逻辑，所述限流电阻R保护所述接电源的ニ极管Dl的阳极及所述接地的ニ极管D2的阴极与所述功能测试逻辑不短路；较佳的，所述第一供电接ロ Kl及所述第二供电接ロ K2为选择开关，当测试所述接电源的ニ极管Dl时，所述第一供电接ロ Kl及所述第二供电接ロ K2均接地，则当测试时，功能测试逻辑输出高电平，所述接电源的ニ极管Dl导通，所述接地的ニ极管D2不导通；较佳的，所述第一供电接ロ Kl及所述第二供电接ロ K2为选择开关，当测试所述接地的ニ极管D2时，所述第一供电接ロ Kl及所述第二供电接ロ K2均接电源，则当测试时，功能测试逻辑输出低电平，所述接地的ニ极管D2导通，所述接电源的ニ极管Dl不导通。较佳的，所述第一供电接ロ Kl的电压范围大于与其相连的所述接电源的ニ极管Dl的压降范围，所述第二供电接ロ K2的电压范围大于与其相连的所述接地的ニ极管D2的压降范围，且所述第一供电接ロ Kl和所述第二供电接ロ K2的电源电压相同。较佳的，所述第一供电接ロ Kl和所述第二供电接ロ K2的电压可以根据待测集成电路的设计要求进行调整。较佳的，所述接电源的ニ极管Dl和所述接地的ニ极管D2的压降范围为0. 2V 1. 5V。结合图5，本发明实施例还提供了ー种开/短路测试方法，具体步骤如下将所述第一供电接ロ Kl和所述第二供电接ロ K2同时接地；所述功能测试逻辑模块输出高电压3. 3V至所述接电源的ニ极管Dl的阳极，使得所述接电源的ニ极管Dl导通 ；所述电压測量工具ADC測量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的ニ极管Dl的压降值相同，是则进入下一歩，否则测试不通过；将所述第一供电接ロ Kl和所述第二供电接ロ K2同时接电源；所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的ニ极管D2的阴极，使得所述接地的ニ极管D2导通；所述电压測量工具ADC測量待测管脚的电压值是否和所述第二供电接ロ的电源电压减去所述接地的ニ极管D2的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。较佳的，所述步骤还可如下将所述第一供电接ロ Kl和所述第二供电接ロ K2同时接电源；所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的ニ极管D2的阴极，使得所述接地的ニ极管D2 ；所述电压測量工具ADC測量待测管脚的电压值是否和所述第二供电接ロ的电源电压减去所述接地的ニ极管D2的压降值相同，是则进入下一歩，否则测试不通过；将所述第一供电接ロ Kl和所述第二供电接ロ K2同时接地；所述功能测试逻辑模块输出高电压3. 3V至所述接电源的ニ极管Dl的阳极，使得所述接电源的ニ极管Dl导通；所述电压測量工具ADC測量待测管脚的电压值是否和所述接电源的ニ极管D2的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。本发明实施例的工作原理如下，參看图4，测试所述接电源的ニ极管Dl时，所述第一供电接ロ Kl和所述第二供电接ロ K2同时接地，也就是说所述接地的ニ极管D2的阳极接地，所以所述接地的ニ极管D2永远都不会导通，这样就不会对测试所述接电源的ニ极管Dl产生影响，所述功能测试逻辑输出3. 3V的高电压经限流电阻R至所述接电源的ニ极管Dl的阳极，由于所述接电源的ニ极管Dl的阳极被所述功能测试逻辑输出的3. 3V高电压驱动为高电压了，所以所述接电源的ニ极管Dl导通，一般的普通ニ极管的导通压降为0. 65V左右，故所述接电源的ニ极管的阳极即待测集成电路管脚的电压就会被钳定在0. 65V左右，有些ニ极管的压降为0. 2V，有些ニ极管的压降会高于0. 65V但低于1. 5V，所以设定所述待测管脚的正常电压在0. 2V 1. 5V之间，如果所述电压测量工具ADC測量待测集成电路管脚的电压在0. 2V 1. 5V之间，则测试通过，如果不在0. 2V 1. 5V之间，则测试不通过。测试所述接地的ニ极管D2时，所述第一供电接ロ Kl和所述第二供电接ロ K2同时接电源，也就是说所述接电源的ニ极管Dl的阴极接电源，所以所述接电源的ニ极管Dl永远都不会导通，这样就不会对测试所述接地的ニ极管D2产生影响，所述功能测试逻辑输出0电压经所述限流电阻R至所述接地的ニ极管D2的阴极，此时所述接地的ニ极管D2的阴阳极存在压差，所以所述接地的ニ极管D2导通，此时待测管脚上的电压就会被钳定在(VDD-0. 65V)左右，有些ニ极管的压降为0. 2V，有些ニ极管的压降会高于0. 65V但低于1. 5V，所以设定所述待测管脚的正常电压在0. 2V 1. 5V之间，如果所述电压测量工具ADC測量待测集成电路管脚的电压在(VDD-1. 5V) (VDD-0. 2V)之间，则测试通过，如果不在(VDD-1. 5V) (VDD-0. 2V)之间，则测试不通过。与现有技术相比，本发明技术方案中只需要两个继电器，并且只需要测试两次即可测完所有的待测管脚大大降低了成本，提高了系统的稳定性和可维护性。同时不管是测试接电源的ニ极管还是测试接地的ニ极管，待测管脚上的电压都是正电压，降低了测量电压工具的要求。以上结合最佳实施例对本发明进行了描述，但本发明并不局限于以上掲示的实施例，而应当涵盖各种根据本发 明的本质进行的修改、等效组合。
权利要求
1.ー种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接ロ及第ニ供电接ロ，所述待测集成电路的每个待测管脚都有ー个保护电路，所述保护电路由一个接电源的ニ极管和ー个接地的ニ极管组成，所述接电源的ニ极管和所述接地的保护ニ极管首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的ニ极管和所述接地的保护ニ极管之间，所述第一供电接ロ与所述接电源的ニ极管的阴极相连，所述第二供电接ロ与所述接地的ニ极管的阳极相连。
2.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述电压測量工具阵列中的电压测量工具的数量为N个，所述功能测试逻辑模块阵列中的功能测试逻辑模块的数量为N个，与所述待测管脚的数量相同，且N > 2。
3.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述功能测试逻辑模块包括限流电阻及与所述限流电阻相连的功能测试逻辑，所述限流电阻保护所述接电源的ニ极管的阳极及所述接地的ニ极管的阴极与功能测试逻辑不短路。
4.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ为选择开关，当测试所述接电源的ニ极管时，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ均接地，则当测试时，功能测试逻辑输出高电平，所述接电源的ニ极管导通，所述接地的ニ极管不导通。
5.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ为选择开关，当测试所述接地的ニ极管时，所述第一供电接ロ及所述第二供电接ロ均接电源，则当测试时，功能测试逻辑输出低电平，所述接地的ニ极管导通，所述接电源的ニ极管不导通。
6.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述第一供电接ロ的电压范围大干与其相连的所述接电源的ニ极管的压降范围，所述第二供电接ロ的电压范围大干与其相连的所述接地的ニ极管的压降范围，且所述第一供电接口和所述第二供电接ロ的电源电压相同。
7.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述第一供电接口和所述第二供电接ロ的电压可以根据待测集成电路的设计要求进行调整。
8.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于所述接电源的ニ极管和所述接地的ニ极管的压降范围为0. 2V 1. 5V。
9.ー种开/短路测试方法，具体步骤如下 将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接地； 所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的ニ极管的阳极，使得所述接电源的ニ极管导通； 所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的ニ极管的压降值相同，是则进入下一歩，否则测试不通过； 将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接电源； 所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的ニ极管的阴极，使得所述接地的ニ极管导通； 所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接ロ的电源电压减去所述接地的ニ极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。
10.根据权利要求8所述的开/短路测试方法，其具体步骤还可以如下 将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接电源； 所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的ニ极管的阴极，使得所述接地的ニ极管导通； 所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接ロ的电源电压减去所述接地的ニ极管的压降值相同，是则进入下一歩，否则测试不通过； 将所述第一供电接口和所述第二供电接ロ同时接地； 所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的ニ极管的阳极，使得所述接电源的ニ极管导通； 所述电压測量工具測量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的ニ极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。
全文摘要
本发明提供一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口及第二供电接口，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管和一个接地的二极管组成，所述第一供电接口与所述接电源的二极管的阴极相连，所述第二供电接口与所述接地的二极管的阳极相连。本发明还提供了一种开/短路测试方法。本发明通过提供一种开/短路测试系统及方法替代传统的继电器矩阵完成开/短路测试，大大节约了测试成本同时也保证了测试系统的稳定性和可维护性。
文档编号G01R31/02GK103063975SQ20121057838
公开日2013年4月24日 申请日期2012年12月26日 优先权日2012年12月26日
发明者徐正元 申请人:成都市中州半导体科技有限公司