专利名称：相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及磁传感器技术领域，具体涉及一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置。
背景技术：
磁传感器广泛应用于导航定向、航空航天、地质勘探、磁异探测等领域。磁传感器的轴正交度是制约其精度的重要参数。目前用于测量磁传感器正交度的装置包括昂贵的磁场线圈、精密的三轴转台等，设备造价高，操作过程耗时费力。
发明内容本实用新型的目的就是要提供一种设备造价低，操作过程简单的相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置。本实用新型的目的是这样实现的一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置，无磁水平转台安装在支撑轴上，在无磁水平转台上设有刻度，无磁水平转台一侧设有对准基准。本实用新型提供的相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置，结构简单，主要部件为一个无磁水平转台，将双轴磁传感器放置在转台即可测出双轴磁传感器正交度，使用简单，引入的参数少，测量误差源少，操作方便，使用灵活。
以下结合附图
和实施例对本实用新型作进一步说明。图I是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型的结构如图I所示一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置，无磁水平转台I安装在支撑轴2上，在无磁水平转台I上设有刻度3，无磁水平转台I 一侧设有对准基准4。将待测磁传感器5放置在无磁水平转台I上，测量磁传感器5的输出，然后用数学方法对磁场的数据进行正弦拟合，根据正弦曲线的相位特征值来计算磁传感器的正交度。
权利要求1 一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置，其特征在于无磁水平转台(I)安装在支撑轴(2 )上，在无磁水平转台(I)上设有刻度(3 )，无磁水平转台(I) 一侧设有对准基准⑷。·
专利摘要一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置，无磁水平转台安装在支撑轴上，在无磁水平转台上设有刻度，无磁水平转台一侧设有对准基准。本实用新型提供的相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置，结构简单，主要部件为一个无磁水平转台，将双轴磁传感器放置在转台即可测出双轴磁传感器正交度，使用简单，引入的参数少，测量误差源少，操作方便，使用灵活。
文档编号G01D18/00GK202420542SQ20122000459
公开日2012年9月5日 申请日期2012年1月8日 优先权日2012年1月8日
发明者佘以军, 李伟, 龚天平 申请人:中国船舶重工集团公司第七一0研究所