专利名称：一种显微镜测量检验支架的制作方法
技术领域：
一种显微镜测量检验支架技术领域[0001]本实用新型涉及一种检验支架，尤其是一种显微镜测量检验支架。
背景技术：
[0002]在IC卡模块检验过程中，需要在电子测量显微镜下对模块的包封区域进行测量， 测量时需保证测试物X轴向水平，一般此过程的调整需要对测试物进行复杂的手动调节， 增加了检验员的工作量，且工作效率不高。同时在测量其他项目时也会因为产品没有可靠的固定而使产品滑落，导致测试数据不准。实用新型内容[0003]本实用新型的目的是提供一种测量精度高、工作效率高的显微镜测量检验支架。[0004]实现本实用新型目的的显微镜测量检验支架，包括检验支架底板、位于检验支架底板中心的中空的观察窗、位于检验支架底板上的用于固定测试物的定位销、以及用于压紧测试物的测试压板，所述检验支架底板的下方设有磁铁。[0005]本实用新型的显微镜测量检验支架的有益效果如下本实用新型的显微镜测量检验支架，能将物体可靠地固定在显微镜的检验台上，同时保证了测试物的X轴及Z轴向的水平放置，确保了测量精度，简化了操作过程，提高了工作效率。
[0006]图I为本实用新型的显微镜测量检验支架的结构示意图。
具体实施方式
[0007]本实用新型的实施例如下如图I所示，本实用新型的显微镜测量检验支架，包括检验支架底板1，位于检验支架底板I中心的中空的观察窗3，位于检验支架底板I上的用于固定测试物的定位销2，用于压紧测试物的测试压板4，所述检验支架底板I的下方设有磁铁5。[0008]本实用新型的工作原理是将检验支架底板固定在测量显微镜的螺丝固定孔上并锁紧，保证测试底板X轴、Z轴向水平；将待测产品放置在检验支架底板上，并保证底板上的定位销卡住测试物的齿孔；根据测量物类型放上测试压板，压板自动压紧待测物后便可进行待测物的检验测量。[0009]上面所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神前提下，本领域普通工程技术人员对本实用新型技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本实用新型的权利要求书确定的保护范围内。
权利要求1.一种显微镜测量检验支架，其特征在于包括检验支架底板、位于检验支架底板中心的中空的观察窗、位于检验支架底板上的用于固定测试物的定位销、以及用于压紧测试物的测试压板，所述检验支架底板的下方设有磁铁。
专利摘要本实用新型提供了一种测量精度高、工作效率高的显微镜测量检验支架，包括检验支架底板、位于检验支架底板中心的中空的观察窗、以及位于检验支架底板上的用于固定测试物的定位销，用于压紧测试物的测试压板，所述检验支架底板的下方设有磁铁。本实用新型的显微镜测量检验支架，由于将检验支架底板固定在测量显微镜的螺丝固定孔上并锁紧，保证了测试底板X轴、Z轴向水平，确保了测量精度，简化了操作过程，提高了工作效率。
文档编号G01B9/04GK202814333SQ20122042748
公开日2013年3月20日 申请日期2012年8月27日 优先权日2012年8月27日
发明者唐娜 申请人:山东齐芯微系统科技有限公司