用于测量电荷的系统的制作方法
【专利摘要】一种用于测量电荷的系统，包括：连接到电荷积分器（120）的电容检测器（110），电荷积分器（120）是具有电容反馈（130）的运算放大器，其中电荷积分器（120）的输入级（121）包括一对对称连接的JFET型晶体管（T1、T2），晶体管（T1、T2）具有连接到电荷积分器（120）的输入的栅极。
【专利说明】用于测量电荷的系统
[0001]本发明涉及用于测量电荷的系统。当介质的评估是基于测量所产生的电荷的运动时可以使用用于测量电荷的精确系统，例如对于在电离粒子检测器中的电离的测量过程。这些粒子可以是带电基本粒子、原子核或X或伽玛光子。也可以在其他物理体系中使用此类型的系统。
[0002]众所周知，用于测量电荷的系统使用电荷积分器。此类型的典型结构如图1所示。系统包括连接到电荷积分器120的电容检测器110，其中电荷积分器120是带有电容反馈130的运算放大器。这样的系统已经在K.Korbel的出版物“Elektronika Front End”(“前端电子学”)(Uczelniane Wydawnictwa Naukowo-Dydaktyczne, Krak0w2000)中被说明。
[0003]此种类型系统中的电荷q的测量是基于将在检测系统中累积的电荷传导至反馈的参考容量Cf并且读取此容量的电荷，此电荷由如下方程描述:
【权利要求】
1.一种用于测量电荷的系统，所述系统包括与电荷积分器相连接的电容检测器，所述电荷积分器是具有电容反馈的运算放大器，其特征在于，所述电荷积分器(120)的输入级(121)包括一对对称连接的JFET型晶体管(!\、T2),所述晶体管(1\、T2)具有连接到所述电荷积分器(120)的输入的栅极。
2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述电荷积分器(120)的所述输入级(121)至少包括两对并行的对称连接的JFET晶体管(I\、T2)。
3.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述电荷积分器(120)的所述输入级(121)连接到对称连接的共基极放大器(τ3、τ4)。
4.如权利要求1所述的系统，其特征在于，在所述电荷积分器(120)的所述输入级(121)中，与电流源(I1U2)并行的开关(KpK2)连接到对称连接的晶体管(Ι\、Τ2)的每个源极，其中所述系统还包括用于评估所述电荷积分器(120)的输出电压的系统(122)，被配置为:在输出电压超过电压上限(Uh)之后打开所述开关中的一个(K1),并且当输出电压降到低于电压下限(U1)时打开所述开关中的`另一个(Κ2)。
【文档编号】G01R29/24GK103518140SQ201280009795
【公开日】2014年1月15日 申请日期:2012年2月22日 优先权日:2011年2月22日
【发明者】兹比格涅夫·索辛, 马切伊·索辛, 马列克·亚当奇克 申请人:雅盖隆大学