一种二极管反向恢复特性测试仪的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种二极管反向恢复特性测试仪，具有电源、电感、驱动器件；电源、电感、感性负载、驱动器件串连在一起，待测元件和电流互感器串联后再与感性负载并联；所述驱动器件具有第一接线端、第二接线端和第三接线端；所述第一接线端与感性负载连接，第二接线端与电源连接，第三接线端与第二接线端之间串联有栅极电阻和多谐振荡器。本发明可根据具体测试要求来自由调节，不仅可以测试二极管的反向恢复时间，而且还可以测试二极管的其他各项反向恢复特性，不仅可以测试普通二极管，还可以测试任何含有二极管的器件，测试范围宽、精度高，测试电压范围宽，外配示波器可以清晰准确地分析二极管的各种反向恢复特性的实际特性。
【专利说明】一种二极管反向恢复特性测试仪
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种二极管特性测试仪，特别涉及一种二极管反向恢复特性测试仪。【背景技术】
[0002]电力电子器件正在日新月异地向前发展着。近年来，继晶闸管、双向晶闸管、可关断晶闸管(GTO)、集成门极换向晶闸管(IGCT)等功率器件之后，又出现了绝缘栅双极晶体管(IGBT)。未来电力电子器件技术发展是超着高功率、大电流、高频化、集成化等方向发展。其中这些器件内建二极管的恢复特性是设计时要考虑一个重要方面，这些恢复特性的获取、统计、分析都取决于与之相配套的测试设备的性能好坏，同时也要不断地更新与之相配套的测试设备才能胜任其测试工作。
[0003]通常的测试二极管反向恢复特性的仪器只能测试二极管的反向恢复时间，测试反向恢复时间的范围也是有限的，同时测试的精度也不高，测试电压也是有限的，一般只有300V以下。
【发明内容】
[0004]本发明的目的是提供一种二极管反向恢复特性测试仪，该装置不仅能测试二极管的反向恢复时间，而且能测试二极管的方向特性，其测试范围宽、精度高，测试电压范围宽。
[0005]实现本发明目的的技术方案是:本发明具有电源、电感、驱动器件；所述电源、电感、感性负载、驱动器件串连在一起，待测元件和电流互感器串联后再与感性负载并联；所述驱动器件具有第一接线端、第二接线端和第三接线端；所述第一接线端与感性负载连接，第二接线端与电源连接，第三接线端与第二接线端之间串联有栅极电阻和多谐振荡器。
[0006]上述驱动器件为带阻尼二极管IGBT场效应管。
[0007]上述待测元件为二极管为快(超)恢复二极管或场效应管内建二极管或绝缘栅双极型晶体管内建二极管。
[0008]本发明具有积极的效果:(I)本发明使用PWM(脉冲宽度调制)控制技术，使测试条件可根据具体测试要求来自由调节，不仅可以测试二极管的反向恢复时间，而且还可以测试二极管的其他各项反向恢复特性，不仅可以测试普通二极管，还可以测试任何含有二极管的器件；(2)本发明测试范围宽、精度高，测试电压范围宽(从OV到几千V) ；(3)本发明外配示波器可以清晰准确地分析二极管的各种反向恢复特性的实际特性。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]为了使本发明的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中
[0010]图1为本发明的主电路示意图。
【具体实施方式】[0011]见图1，本发明具有电源1、电感2、驱动器件4 ;所述电源1、电感2、感性负载3、驱动器件4串连在一起，待测元件5和电流互感器6串联后再与感性负载3并联；所述驱动器件4具有第一接线端、第二接线端和第三接线端；所述第一接线端与感性负载3连接，第二接线端与电源I连接，第三接线端与第二接线端之间串联有栅极电阻7和多谐振荡器8 ;所述驱动器件4为带阻尼二极管IGBT场效应管；所述待测元件5为二极管为快(超)恢复二极管或场效应管内建二极管或绝缘栅双极型晶体管内建二极管。
[0012]该装置由测试脉冲宽度tl、t2的值来调节二极管的正向电流If值大小。
[0013]该装置由驱动器件4的栅极Vra值、栅极电阻7的值与电感2的值共同来调节待测器件5的电流变化率值的大小，从而达到根据具体测试要求来自由调节的效果；也可由电源电压值、电流变化率值、测试脉冲宽度tl、t2的值共同来调节感性负载3的值，从而达到根据具体测试要求来自由调节的效果。
[0014]该装置可以测试各种反向恢复特性参数是通过电流互感器6来监测而得到的，反向恢复特性参数包括二极管的正向电流If、反向峰值电流Irr、反向恢复时间trr、反向恢复电荷Qrr、反向恢复能量Err等参数。
[0015]该装置外配示波器可以清晰准确地分析二极管的各种反向恢复特性的实际特性是本仪器可以通过示波器显示所测试器件的实际参数，以及对其参数进行读取、统计与分析。
[0016]以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种二极管反向恢复特性测试仪，具有电源(I)、电感(2)、驱动器件(4);其特征在于:所述电源⑴、电感(2)、感性负载(3)、驱动器件(4)串连在一起，待测元件(5)和电流互感器(6)串联后再与感性负载(3)并联；所述驱动器件(4)具有第一接线端、第二接线端和第三接线端；所述第一接线端与感性负载(3)连接，第二接线端与电源(I)连接，第三接线端与第二接线端之间串联有栅极电阻(7)和多谐振荡器(8)。
2.根据权利要求1所述的一种二极管反向恢复特性测试仪，其特征在于:所述驱动器件(4)为带阻尼二极管IGBT场效应管。
3.根据权利要求1所述的一种二极管反向恢复特性测试仪，其特征在于:所述待测元件(5)为二极管为快(超)恢复二极管或场效应管内建二极管或绝缘栅双极型晶体管内建二极管。
【文档编号】G01R31/26GK103969564SQ201310033820
【公开日】2014年8月6日 申请日期:2013年1月30日 优先权日:2013年1月30日
【发明者】高万喜, 周炳, 刘晓萌 申请人:苏州同冠微电子有限公司